[發(fā)明專利]數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)方法及標(biāo)準(zhǔn)裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510458064.0
• 申請日: 2015-07-30
• 公開（公告）號: CN104991214B
• 公開（公告）日: 2017-12-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 胡勇;孫崇鈞;劉倩
• 申請（專利權(quán)）人: 中國船舶重工集團公司第七0九研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 武漢河山金堂專利事務(wù)所(普通合伙)42212
• 代理人: 胡清堂

1.一種數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1：數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置(1)中的控制器(12)設(shè)置數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)值；

S2：數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置(1)中的PXI儀器模塊組(11)根據(jù)所述數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)值以及待測試裝置(2)對數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置(1)兩端的電壓/電流施加值在由控制器(12)、PXI儀器模塊組(11)、待測試裝置(2)依次串聯(lián)連接形成的測試回路中復(fù)現(xiàn)數(shù)字集成電路直流參數(shù)，控制器(12)接收PXI儀器模塊組(11)復(fù)現(xiàn)的測試回路中的數(shù)字集成電路直流參數(shù)，并與所述數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)值進行比較，得到誤差測試結(jié)果；

S3：若所述誤差測試結(jié)果超過控制器(12)規(guī)定的誤差判定范圍，控制器(12)利用二分法算法對測試回路中的數(shù)字集成電路直流參數(shù)進行修正，直到誤差測試結(jié)果小于規(guī)定的誤差判定范圍，修正后的數(shù)字集成電路直流參數(shù)即是數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置(1)復(fù)現(xiàn)的數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)方法，其特征在于：還包括以下步驟：S4：校準(zhǔn)裝置(3)將數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)量值溯源到更高一級電壓/電流標(biāo)準(zhǔn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)方法，其特征在于：所述數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)包括輸出低電平電壓(V_OL)，輸出高電平電壓(V_OH)，輸出低電平電流(I_OL)，輸出高電平電流(I_OH)，輸入鉗位電壓(V_IK)，輸入低電平電流(I_IL)，輸入高電平電流(I_IH)，短路電流(I_OS)，電源電流(I_DD)。

4.一種數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置，其特征在于：包括PXI儀器模塊組(11)、控制器(12)及接口適配器(13)；

所述控制器(11)、接口適配器(13)分別與所述PXI儀器模塊組(11)電連接；

所述PXI儀器模塊組(11)，用于根據(jù)數(shù)字集成電路直流參數(shù)的測量原理，復(fù)現(xiàn)多組可編程數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)；

所述控制器(12)，用于控制所述PXI儀器模塊組(11)復(fù)現(xiàn)數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)，并對數(shù)據(jù)進行存儲、處理及顯示；用于利用二分法算法對測試回路中的數(shù)字集成電路直流參數(shù)進行修正，直到誤差測試結(jié)果小于規(guī)定的誤差判定范圍；

所述接口適配器(13)，用于根據(jù)復(fù)現(xiàn)數(shù)字集成電路參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的不同的原理，對接收的PXI儀器模塊組(11)的數(shù)據(jù)信號進行轉(zhuǎn)接、隔離、分配，以復(fù)現(xiàn)不同的數(shù)字集成電路參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)至待測試裝置(2)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)包括輸出低電平電壓(V_OL)，輸出高電平電壓(V_OH)，輸出低電平電流(I_OL)，輸出高電平電流(I_OH)，輸入鉗位電壓(V_IK)，輸入低電平電流(I_IL)，輸入高電平電流(I_IH)，短路電流(I_OS)，電源電流(I_DD)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述PXI儀器模塊組(11)包括數(shù)字多用表(111)、可編程電阻(112)及源測量單元(113)；所述可編程電阻(112)依次與所述待測試裝置(2)、所述源測量單元(113)串聯(lián)連接形成回路，所述數(shù)字多用表(111)并聯(lián)在所述可編程電阻(112)的兩端。

7.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的數(shù)字集成電路直流參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述PXI儀器模塊組(11)包括數(shù)字多用表(111)、可編程電阻(112)及源測量單元(113)；所述可編程電阻(112)依次與所述待測試裝置(2)、源測量單元(113)串聯(lián)連接形成回路，所述數(shù)字多用表(111)并聯(lián)在所述可編程電阻(112)、源測量單元(113)串聯(lián)連接后的兩端。