[發(fā)明專利]一種磁盤(pán)功耗的測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510434003.0
• 申請(qǐng)日: 2015-07-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105092958A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊明濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R21/06
• 分類號(hào): G01R21/06
• 代理公司: 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 37100
• 代理人: 李世喆

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及服務(wù)器技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種磁盤(pán)功耗的測(cè)試方法。

背景技術(shù)

隨著互聯(lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)的融合，以及云計(jì)算、大數(shù)據(jù)的快速發(fā)展，越來(lái)越多的數(shù)據(jù)需要依靠大型數(shù)據(jù)中心的處理。數(shù)據(jù)中心通常部署數(shù)以千萬(wàn)計(jì)的服務(wù)器，而且規(guī)模一直在不斷增加。這些服務(wù)器消耗了巨大的能源，帶來(lái)了大量的成本投入。因此，數(shù)據(jù)中心對(duì)服務(wù)器的功耗要求提出了更加苛刻的指標(biāo)，要求在完成功能要求的目標(biāo)下，優(yōu)選功耗低的服務(wù)器。

其中，在服務(wù)器的功耗分布比例中，功耗較大部分來(lái)自于磁盤(pán)陣列，以及用于給磁盤(pán)散熱所產(chǎn)生的風(fēng)扇功耗，這種磁盤(pán)陣列由少則十幾顆多則上百顆磁盤(pán)組成。由于服務(wù)器可以使用的磁盤(pán)種類較多，且不同類型的磁盤(pán)功耗不同，因此，如何測(cè)試磁盤(pán)功耗成為部件選型設(shè)計(jì)中的一項(xiàng)重要工作。

目前，對(duì)磁盤(pán)功耗進(jìn)行測(cè)試的方式可以包括：確定磁盤(pán)類型，根據(jù)磁盤(pán)類型使用相對(duì)應(yīng)的專用磁盤(pán)功耗測(cè)試設(shè)備，對(duì)該類型的磁盤(pán)的功耗進(jìn)行測(cè)試。然而，對(duì)于這種對(duì)磁盤(pán)功耗進(jìn)行測(cè)試的專門(mén)設(shè)備，測(cè)試成本較高。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種磁盤(pán)功耗的測(cè)試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試成本較高的問(wèn)題。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤(pán)功耗的測(cè)試方法，包括：

將測(cè)試治具串接在硬盤(pán)背板與待測(cè)磁盤(pán)之間，以使所述硬盤(pán)背板為所述待測(cè)磁盤(pán)提供一個(gè)以上的供電電源；其中，所述測(cè)試治具包括與所述硬盤(pán)背板為所述待測(cè)磁盤(pán)提供的供電電源個(gè)數(shù)相同的連接線纜，每一條連接線纜對(duì)應(yīng)一個(gè)供電電源；

將示波器的電流探頭接在每一條連接線纜上，以及將示波器的電壓探頭接在所述測(cè)試治具上每一條連接線纜分別對(duì)應(yīng)地電壓測(cè)試點(diǎn)上，以同時(shí)測(cè)量每一條連接線纜的瞬時(shí)電流值和每一個(gè)電壓測(cè)試點(diǎn)上的瞬時(shí)電壓值；

根據(jù)示波器測(cè)量到的瞬間電流值與瞬間電壓值，計(jì)算所述待測(cè)磁盤(pán)的最大瞬時(shí)功耗。

優(yōu)選地，所述計(jì)算所述待測(cè)磁盤(pán)的最大瞬時(shí)功耗，包括：

根據(jù)示波器的Math功能，編輯如下公式，以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)記錄在測(cè)試過(guò)程中所述待測(cè)磁盤(pán)的瞬時(shí)功耗：

Math_{瞬時(shí)功耗}＝I₁*U₁+I₂*U₂+…+I_n*U_n

其中，Math_總功率用于表征在同一時(shí)間點(diǎn)測(cè)量得到每一條連接線纜所對(duì)應(yīng)所述待測(cè)磁盤(pán)的最大瞬時(shí)功耗，I_n用于表征第n條連接線纜上的瞬時(shí)電流，U_n用于表征第n條連接線纜所對(duì)應(yīng)電壓測(cè)試點(diǎn)上的瞬時(shí)電壓，I_n*U_n用于表征第n條連接線纜所供電的器件的功耗；

根據(jù)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)到的所述待測(cè)磁盤(pán)的瞬時(shí)功耗，將監(jiān)測(cè)到的瞬時(shí)功耗最大的值作為所述待測(cè)磁盤(pán)的最大瞬時(shí)功耗。

優(yōu)選地，

進(jìn)一步包括：將測(cè)試治具中所包括的至少一條連接線纜纏繞多圈；

所述第n條連接線纜所供電的器件的功耗，包括：

Math_n＝(I_n*U_n)/m

其中，m用于表征第n條連接線纜所纏繞的圈數(shù)。

優(yōu)選地，所述實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)記錄在測(cè)試過(guò)程中所述待測(cè)磁盤(pán)的瞬時(shí)功耗，包括：

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)記錄在服務(wù)器的開(kāi)機(jī)狀態(tài)、磁盤(pán)壓力讀寫(xiě)狀態(tài)、關(guān)機(jī)狀態(tài)和待機(jī)狀態(tài)下所述待測(cè)磁盤(pán)的瞬時(shí)功耗。

優(yōu)選地，所述將測(cè)試治具串接在硬盤(pán)背板與待測(cè)磁盤(pán)之間，包括：

將測(cè)試治具的背板連接器與所述硬盤(pán)背板相連接，將測(cè)試治具的磁盤(pán)連接器上的SFF-8639接口與所述待測(cè)磁盤(pán)的SAS接口、SATA接口或NVME接口相連接。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤(pán)功耗的測(cè)試方法，不需要購(gòu)置特殊的功耗測(cè)試設(shè)備，利用實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備，借助測(cè)試治具，在不影響磁盤(pán)正常工作的情況下，實(shí)現(xiàn)對(duì)磁盤(pán)的瞬時(shí)功耗的測(cè)量分析，操作簡(jiǎn)便，節(jié)約成本。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的方法流程圖；

圖2是本發(fā)明另一實(shí)施例提供的方法流程圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試治具結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試治具串接在硬盤(pán)背板與待測(cè)磁盤(pán)之間的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式