[發明專利]一種磁盤功耗的測試方法在審
| 申請號： | 201510434003.0 | 申請日： | 2015-07-22 |
| 公開（公告）號： | CN105092958A | 公開（公告）日： | 2015-11-25 |
| 發明（設計）人： | 楊明濤 | 申請（專利權）人： | 浪潮電子信息產業股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R21/06 | 分類號： | G01R21/06 |
| 代理公司： | 濟南信達專利事務所有限公司 37100 | 代理人： | 李世喆 |
| 地址： | 250100 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 磁盤 功耗 測試 方法 | ||
1.一種磁盤功耗的測試方法，其特征在于，包括：
將測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間，以使所述硬盤背板為所述待測磁盤提供一個以上的供電電源；其中，所述測試治具包括與所述硬盤背板為所述待測磁盤提供的供電電源個數相同的連接線纜，每一條連接線纜對應一個供電電源；
將示波器的電流探頭接在每一條連接線纜上，以及將示波器的電壓探頭接在所述測試治具上每一條連接線纜分別對應地電壓測試點上，以同時測量每一條連接線纜的瞬時電流值和每一個電壓測試點上的瞬時電壓值；
根據示波器測量到的瞬間電流值與瞬間電壓值，計算所述待測磁盤的最大瞬時功耗。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算所述待測磁盤的最大瞬時功耗，包括：
根據示波器的Math功能，編輯如下公式，以實時監測記錄在測試過程中所述待測磁盤的瞬時功耗：
Math瞬時功耗＝I1*U1+I2*U2+…+In*Un
其中，Math總功率用于表征在同一時間點測量得到每一條連接線纜所對應所述待測磁盤的最大瞬時功耗，In用于表征第n條連接線纜上的瞬時電流，Un用于表征第n條連接線纜所對應電壓測試點上的瞬時電壓，In*Un用于表征第n條連接線纜所供電的器件的功耗；
根據實時監測到的所述待測磁盤的瞬時功耗，將監測到的瞬時功耗最大的值作為所述待測磁盤的最大瞬時功耗。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，
進一步包括：將測試治具中所包括的至少一條連接線纜纏繞多圈；
所述第n條連接線纜所供電的器件的功耗，包括：
Mathn＝(In*Un)/m
其中，m用于表征第n條連接線纜所纏繞的圈數。
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述實時監測記錄在測試過程中所述待測磁盤的瞬時功耗，包括：
實時監測記錄在服務器的開機狀態、磁盤壓力讀寫狀態、關機狀態和待機狀態下所述待測磁盤的瞬時功耗。
5.根據權利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于，所述將測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間，包括：
將測試治具的背板連接器與所述硬盤背板相連接，將測試治具的磁盤連接器上的SFF-8639接口與所述待測磁盤的SAS接口、SATA接口或NVME接口相連接。
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