[發明專利]一種晶體二極管的制造工藝有效
| 申請號: | 201510418282.1 | 申請日: | 2015-07-16 |
| 公開(公告)號: | CN105097504B | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發明(設計)人: | 黃職彬 | 申請(專利權)人: | 四川藍彩電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L21/60 |
| 代理公司: | 成都金英專利代理事務所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
| 地址: | 629000 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶片 晶體二極管 引線段 引線盒 焊線 制造工藝 焊線機 注塑 抓取 測試 晶片切割 引線軌道 制造過程 裝帶機構 電鍍 分段機 條帶狀 上帶 塑封 引腳 載帶 轉運 裝配 裝載 儲存 分割 分類 運輸 | ||
本發明涉及一種晶體二極管的制造工藝,包括以下步驟:S1、晶片切割;S2、晶片裝配:將晶片引線置于引線軌道上,將每塊晶片依次抓取放在晶片引線內,將晶片引線通過分段機分割成216~360粒產品的晶片引線段,并依次裝在引線盒內;S3、焊線:將裝有晶片引線段的引線盒移至焊線機工作臺上,調節焊線機的功率為30~50mW,壓力為250~350mN,溫度為240~320℃,將引線盒內的每一塊晶片引線段放在焊線機上進行焊線,得到有引腳的晶片;S4、注塑;S5、電鍍;S6、分離;S7、測試;S8、上帶:將測試合格的晶體二極管用裝帶機構裝載于條帶狀的載帶上,并通過進行塑封,得到產品。本發明的優點在于:制造過程中轉運方便、提高產品質量和便于分類運輸或儲存。
技術領域
本發明涉及二極管的生產技術領域,特別是一種晶體二極管的制造工藝。
背景技術
在電子產業界,二極管已成為各種電子產品的基本元件,傳統的二極管兩端各有一根引腳,使用時需要將二極管的引腳插入電路板上設置的孔中,使二極管能固定于電路板上。然而,目前全世界電子產品如電話、電視機、傳真機、電腦及其周邊產品皆以清包短小為研究開發目標,其電路板技術多使用雙層或多層電路板技術,但雙層或多層電路板技術無法像傳統的單層電路板上打洞,所以要求二極管體積盡量小。
隨著二極管的體積逐步減小,其加工難度也越來越大,使得其生產成本也大幅提高,而且在生產過程中,由于其體積小,在不同工段之間的轉運相當困難,若要對每個二極管部件進行分類然后組裝,需要耗費大量的人力物力。對于成品來講,其體積較小,運輸和儲存都存在較大不便。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術的缺點,提供一種制造過程中轉運方便、提高產品質量和便于分類運輸或儲存的晶體二極管的制造工藝。
本發明的目的通過以下技術方案來實現:一種晶體二極管的制造工藝,包括以下步驟:
S1、晶片切割:將載有晶片的晶片原料盤通過專用切割設備進行切割,使得每個晶片呈正方形,且直徑在0.21~1.0mm之間;
S2、晶片裝配:將晶片引線置于引線軌道上,通過機械手將晶片原料盤上的每塊晶片依次抓取放在晶片引線內,將晶片引線通過分段機分割成216~360粒產品的晶片引線段,并依次裝在引線盒內;
S3、焊線:將裝有晶片引線段的引線盒移至焊線機工作臺上,調節焊線機的功率為30~50mW,壓力為250~350mN,溫度為240~320℃,將引線盒內的每一塊晶片引線段放在焊線機上進行焊線,得到有引腳的晶片;
S4、注塑:將步驟S3中焊線完成后的帶引腳的晶片通過注塑機用環氧塑封料包封起來;
S5、電鍍:在晶片上的引腳上鍍一層錫,厚度為10~15μm;
S6、分離:將步驟S5電鍍后的帶有引腳的晶片從晶片引線段上分離,收納于盒內;
S7、測試:對每個引腳進行測試,剔除出不符合電性能測試要求的晶體二極管;
S8、上帶:將測試合格的晶體二極管用裝帶機構裝載于條帶狀的載帶上,并通過進行塑封,得到產品。
所述的步驟S5后還包括一個刻字打標的步驟,在晶片表面通過刻字機和打標機分別進行刻字、打標。
所述的步驟S1中采用的專用切割設備為金剛石鋸或線鋸。
本發明具有以下優點:
1、根據實際所生產的產品晶片尺寸采用金剛石鋸或線鋸進行切割。金剛石鋸可得到比要求尺寸厚一些的晶片,金剛石鋸也有助于減少對晶圓片的損傷、厚度不均、彎曲以及翹曲缺陷;線鋸技術的進步縮小了硅片厚度并降低了切割過程中的材料損耗,提高了生產力,并通過更薄的硅片減少了硅材料的消耗。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





