[發明專利]一種可視化檢測汞離子的碳點-金納米團簇雙發射比率型熒光探針及制備方法有效
| 申請號: | 201510415104.3 | 申請日: | 2015-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN105067577B | 公開(公告)日: | 2018-05-18 |
| 發明(設計)人: | 蘇榮欣;高召;黃仁亮;齊崴;王夢凡 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;C09K11/06 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 王麗 |
| 地址: | 300072 天*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 可視化 檢測 離子 納米 團簇雙 發射 比率 熒光 探針 制備 方法 | ||
本發明涉及一種可視化檢測汞離子的碳點?金納米團簇雙發射比率型熒光探針及制備方法;雙發射復合二氧化硅納米粒子是以包覆碳點的二氧化硅粒子為內核、其表面氨基化后共價偶聯金納米團簇所形成的復合二氧化硅納米粒子。位于二氧化硅納米粒子核內部的碳點作為參比熒光信號,外層的金納米團簇作為響應熒光信號,用于Hg
技術領域
本發明涉及一種熒光探針及其制備方法,特別涉及一種用于重金屬離子汞離子的可視化分析檢測熒光探針及其制備方法,具體地說是一種基于碳點—金納米團簇雙發射熒光信號檢測汞離子的熒光探針及其制備方法。
背景技術
重金屬離子的污染一直以來是一個很嚴重的環境及生態問題。尤其是以汞離子(Hg
熒光分析法由于靈敏度高、選擇性好、操作簡便快捷等特點而具有明顯的檢測優勢,在環境監測和食品安全等領域得到廣泛關注。近年來,基于人工合成有機染料的熒光探針已經被設計并用于Hg
比率熒光法是通過測量兩個不同波長處的熒光強度,以其比值為信號參量來測定目標物的分析方法。相比基于單一熒光信號的傳統熒光探針而言,它可減少或消除檢測底物濃度、外部環境和儀器條件變化等因素引起的數據失真,提高測定結果的準確性。同時,兩種不同波長發射光線強度的變化會引起檢測體系顏色的變化,使檢測過程更加可靠、容易分辨。
本發明旨在提供一種用于真實樣品中汞離子快速可視化檢測的碳點-金納米團簇雙發射比率型汞離子熒光探針及其制備方法。
發明內容
本發明的目的在于提供一種用于可視化檢測汞離子的雙發射比率型熒光探針及其制備方法。
本發明所述的雙發射比率型熒光探針,是由雙發射復合二氧化硅納米粒子構成的。所述的雙發射復合二氧化硅納米粒子是以包覆碳點的二氧化硅粒子為內核、其表面氨基化后共價偶聯金納米團簇所形成的復合二氧化硅納米粒子。在該結構中,位于二氧化硅納米粒子核內部的碳點作為參比熒光信號,而外層的金納米團簇作為響應熒光信號,用于Hg
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