[發明專利]一種電子元器件規模化自動分辨合格品的方法及其系統

有效

• 申請號: 201510374489.3
• 申請日: 2015-06-30
• 公開（公告）號: CN104923494A
• 公開（公告）日: 2015-09-23
• 發明（設計）人: 董南京;孫德波;于永革
• 申請（專利權）人: 歌爾聲學股份有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 馬佑平;馬鐵良

技術領域

本發明涉及自動化生產領域，更具體涉及一種規模化自動分辨合格品的方法及系統。

背景技術

在電子元器件的制造生產過程中，由于電子元器件本身較為細小、制造工藝流程復雜、產品質量要求較高，所以對電子元器件進行檢驗已經成為了電子元器件生產制造的過程中必不可少的步驟之一。目前采用的基本方法是人工使用顯微鏡對電子元器件成品或半成品逐一進行檢驗，人工使用油筆涂出次點位置并使用人工挑選出次品。

然而發明人發現，上述方法具有以下局限性：

(1)在使用顯微鏡對單個電子元器件成品或半成品逐一進行檢驗的過程中會因為顯微鏡的倍數有限而限制檢驗項目，大大增加了檢驗的難度。

(2)使用人工檢驗耗費了大量的人力，有較高的錯檢漏檢率，大大降低了生產效率。

(3)使用油筆涂次點的過程極易對產品造成二次污染。

發明人根據這一背景技術，發明了一種電子元器件規模化自動分辨合格品的方法及系統。

發明內容

本發明的一個目的是提供一種可以提高電子元器件檢驗效率、降低電子元器件檢驗過程中的錯檢漏檢率并降低電子元器件制造生產過程中人力消耗的電子元器件分辨合格品的新技術方案。

根據本發明的第一方面，提供了一種電子元器件規模化自動分辨合格品的方法，所述方法包括以下步驟：S1、采集合格的電子元器件成品或半成品的圖像作為標準圖像存儲到自動光學檢驗設備中；S2、在自動光學檢驗設備中提供待檢測的包括多個電子元器件成品或半成品的PCB板；S3、從所述PCB板上獲取PCB板標識信息，所述PCB板標識信息與該PCB板唯一對應；S4、對PCB板上的多個待檢測的電子元器件成品或半成品進行圖像采集；S5、將所采集的待檢測的電子元器件成品或半成品的圖像與所述標準圖像進行處理和比對，判斷其為良品或次品，并對相應的電子元器件成品或半成品賦予品質標識，所述品質標識標記了該電子元器件成品或半成品為良品或次品；S6、生成所述PCB板的Map信息，所述Map信息記錄了PCB板標識信息、每個電子元器件成品或半成品在PCB板中的位置信息與相應的電子元器件成品或半成品的品質標識之間的對應關系；S7、將所述Map信息發送至生產執行設備存儲，以供后續設備讀取。

優選的，所述方法還包括以下步驟：S8、對所述PCB板的每個電子元器件成品或半成品進行封蓋固化；S9、從所述PCB板上獲取PCB板標識信息；S10、在生產執行設備中獲取與所述PCB板標識信息相對應的Map信息；S11、根據所述Map信息中記錄的所述PCB板上各個電子元器件成品或半成品的位置信息和品質標識，在相應的電子元器件成品或半成品的外殼上標記相應的品質標識。

優選的，所述步驟S1還包括將待檢測的PCB板的規格數據設置到自動光學檢驗設備中。

優選的，所述PCB板的規格數據包括PCB板的尺寸、電子元器件成品或半成品的尺寸、電子元器件成品或半成品在PCB板上的排布方式及首個電子元器件成品或半成品所處的位置信息。

優選的，所述步驟S4還包括根據所述PCB板的規格數據確定圖像采集設備的運動路徑，所述運動路徑為橫向蛇形、縱向蛇形、逐行或逐列。

優選的，在步驟S3中，通過人工輸入、所述自動光學檢驗設備配備的掃描儀或獨立于自動光學檢驗設備的掃描設備獲取PCB板的標識信息，所述PCB板的標識信息為條碼、二維碼或字符組合。

優選的，對單個電子元器件成品或半成品逐一循環實施步驟S4及S5。

優選的，所述的Map信息為反應每個電子元器件成品或半成品在PCB板中的位置信息與相應的電子元器件成品或半成品的品質標識之間的關系的矩陣式表格。

優選的，所述步驟S11包括，由打標機在良品的外殼上打第一標識，在次品的外殼上不打標或打第二標識；或者由打印機在良品的外殼上不打標，在次品的外殼上打第二標識。

根據本發明的第二方面，提供了一種電子元器件規模化自動分辨合格品的系統。

優選的，所述系統用于執行本發明第一方面所提供的任意之一的方法。