[發(fā)明專(zhuān)利]一種探針卡清針?lè)椒扒遽樝到y(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510369466.3 | 申請(qǐng)日: | 2015-06-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104931543A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-09-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈茜;婁曉祺 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N27/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01N27/04;B08B13/00 |
| 代理公司: | 上海天辰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吳世華;陳慧弘 |
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 探針 卡清針 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種探針卡清針?lè)椒ǎ涮卣髟谟冢ㄒ韵虏襟E:
步驟S01、獲取探針卡上的探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù);
步驟S02、預(yù)設(shè)探針卡上的探針接觸電阻的標(biāo)準(zhǔn)閾值;
步驟S03、將所述探針卡上的探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)閾值進(jìn)行對(duì)比;若所述探針卡上的探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù)在標(biāo)準(zhǔn)閾值范圍內(nèi),則繼續(xù)測(cè)試,若所述探針卡上的探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù)超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)閾值范圍,則對(duì)所述探針卡的探針進(jìn)行清針。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針卡清針?lè)椒ǎ涮卣髟谟冢鎏结樋ㄉ系奶结樈佑|電阻的標(biāo)準(zhǔn)閾值為-0.3ohM~0.3ohM。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針卡清針?lè)椒ǎ涮卣髟谟冢襟ES03中,若所述探針卡上的探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù)超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)閾值范圍,則對(duì)所述探針卡的探針進(jìn)行清針并發(fā)出警報(bào)。
4.一種探針卡清針系統(tǒng),其特征在于,包括:
設(shè)定存儲(chǔ)模塊,用于預(yù)設(shè)探針卡的每根探針的接觸電阻的標(biāo)準(zhǔn)閾值;
信息采集模塊,用于獲取所述探針卡每根探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù);
處理模塊,用于將所述探針卡上的探針接觸電阻的測(cè)試參數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)閾值進(jìn)行對(duì)比并進(jìn)行分析處理;
清針裝置,用于對(duì)所述探針卡上的探針進(jìn)行清理。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的探針卡清針系統(tǒng),其特征在于,所述設(shè)定存儲(chǔ)模塊設(shè)定的探針卡上的探針接觸電阻的標(biāo)準(zhǔn)閾值為-0.3ohM~0.3ohM。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的探針卡清針系統(tǒng),其特征在于,所述處理模塊對(duì)所述探針卡每根探針的接觸電阻的測(cè)試參數(shù)與-0.3ohM~0.3ohM進(jìn)行比對(duì)。
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