[發(fā)明專利]跌落高度擬合方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510312313.5 | 申請日: | 2015-06-09 |
| 公開(公告)號: | CN104931362B | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 許斌;周利英;駱海清;張學鋒;蔡建和;錢烈輝;劉輝強 | 申請(專利權(quán))人: | 中華人民共和國昆山出入境檢驗檢疫局;江蘇省檢驗檢疫科學技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | G01N3/303 | 分類號: | G01N3/303 |
| 代理公司: | 蘇州華博知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司32232 | 代理人: | 孟宏偉 |
| 地址: | 215301 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 跌落 高度 擬合 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種跌落高度擬合方法。
背景技術(shù)
在標準EN 1177-2008《沖擊減震游樂場鋪面.臨界跌落高度的測定》中給出了一種臨界跌落高度(HIC=1000)的手工繪圖求解的方式。該方式存在極大的不精確性,典型例子如圖1所示,圖1中m為沖擊測試點,H為跌落高度,HIC為臨界跌落高度,在曲線中HIC=1000對應點為臨界點。在作圖過程中曲線的繪制,臨界跌落高度的尋找,完全取決于測試人員的經(jīng)驗,對測試的熟悉程度,一定程度還同去測試時候的心理相關(guān),因此結(jié)果存在很大的隨機性,無法復現(xiàn)。
同時,標準中要求對于一個跌落測試結(jié)果,最少需要兩個值的HIC值在1000以下,最少兩個值HIC在1000以上。兩個值應當?shù)陀谂R界跌落高度不大于500mm,兩個值應當高于臨界跌落高度不大于500mm。因此測試采樣點的合法性必須在臨界跌落高度求解完成后才可以判斷,如果發(fā)現(xiàn)采樣點不合法,必須重新采樣,并對HIC-跌落高度曲線進行繪制,該步驟會增加工作量,同時被測試點在反復沖擊作用下,可能產(chǎn)生一定的材質(zhì)變性,導致測試結(jié)果的偏離。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種跌落高度擬合方法。
為了達到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明提供一種跌落高度擬合方法,包括以下步驟:
S1、有效測試點列表維護:跌落測試機進行沖擊測試,得到?jīng)_擊測試點的跌落數(shù)據(jù)并生成測試點列表,將新的沖擊測試點的跌落數(shù)據(jù)加入已經(jīng)生成的測試點列表時進行沖突分析,若不沖突,生成新的有效測試點列表后進入步驟S2,若沖突,則按照沖突判定規(guī)則刪除沖突點,生成新的有效測試點列表后進入步驟S2;
S2、確定是否可以三次B樣條擬合:根據(jù)S1中新的有效測試點列表進行判斷是否包含四個以上的有效測試點,若是,則進入步驟S3,若否,則進行跌落測試引導后進入步驟S1;
S3、三次B樣條擬合:利用三次B樣條基函數(shù),根據(jù)四個相鄰的有效測試點的跌落數(shù)據(jù)計算出每一段擬合曲線的若干個型值點,然后將密集的型值點連接起來形成擬合的三次B樣條曲線;
三次B樣條基函數(shù)為:
三次B樣條曲線為:
其中,ri(u)表示三次B樣條曲線第i段的參數(shù)方程,N0,4(u)表示三次B樣條曲線的第0個基函數(shù),N1,4(u)表示三次B樣條曲線的第1個基函數(shù),N2,4(u)表示三次 B樣條曲線的第2個基函數(shù),N3,4(u)表示三次B樣條曲線的第3個基函數(shù),Vi表示三次B樣條曲線特征多邊形第i個頂點矢量,Vi+1表示三次B樣條曲線特征多邊形第i+1 個頂點矢量,Vi+2表示三次B樣條曲線特征多邊形第i+2個頂點矢量,Vi+3表示三次B 樣條曲線特征多邊形第i+3個頂點矢量;
S4、臨界跌落高度求解:根據(jù)步驟S3得到的三次B樣條曲線,求解三次B樣條曲線上HIC=1000對應點的跌落高度,其中,HIC為臨界跌落高度;
S5、確定是否取得有效臨界跌落高度:根據(jù)步驟S4得到的跌落高度,在步驟S1 中有效測試點列表中尋找,在區(qū)間[跌落高度-500mm,跌落高度]內(nèi)是否存在二個有效測試點,以及在區(qū)間[跌落高度,跌落高度+500mm]內(nèi)是否存在二個有效測試點,若存在,則進入步驟S6,若不存在,則進行跌落測試引導后進入步驟S1;
S6、輸出結(jié)果:輸出得到的三次B樣條曲線以及臨界跌落高度在得到的三次B樣條曲線上HIC=1000對應點的跌落高度。
本發(fā)明中上述的步驟S1中跌落數(shù)據(jù)包括跌落高度和HIC值,
沖突判定規(guī)則包括:是否有點重合和是否有點相互矛盾,是否有點重合為新的沖擊測試點與已經(jīng)生成的測試點列表中的跌落高度和對應HIC值是否完全相等,是否有點相互矛盾為新的沖擊測試點與已經(jīng)生成的測試點列表中的跌落高度和HIC值是否矛盾。
本發(fā)明中上述的跌落測試引導步驟包括:
D1、判定是否存在有效測試點:獲取有效測試點列表,確定是否存在有效測試點,若存在,則進入步驟D2,若不存在,則提示跌落高度在一固定點處進行測試;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中華人民共和國昆山出入境檢驗檢疫局;江蘇省檢驗檢疫科學技術(shù)研究院,未經(jīng)中華人民共和國昆山出入境檢驗檢疫局;江蘇省檢驗檢疫科學技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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