[發明專利]跌落高度擬合方法有效
| 申請號: | 201510312313.5 | 申請日: | 2015-06-09 |
| 公開(公告)號: | CN104931362B | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發明(設計)人: | 許斌;周利英;駱海清;張學鋒;蔡建和;錢烈輝;劉輝強 | 申請(專利權)人: | 中華人民共和國昆山出入境檢驗檢疫局;江蘇省檢驗檢疫科學技術研究院 |
| 主分類號: | G01N3/303 | 分類號: | G01N3/303 |
| 代理公司: | 蘇州華博知識產權代理有限公司32232 | 代理人: | 孟宏偉 |
| 地址: | 215301 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 跌落 高度 擬合 方法 | ||
1.跌落高度擬合方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、有效測試點列表維護:跌落測試機進行沖擊測試,得到沖擊測試點的跌落數據并生成測試點列表,將新的沖擊測試點的跌落數據加入已經生成的測試點列表時進行沖突分析,若不沖突,生成新的有效測試點列表后進入步驟S2,若沖突,則按照沖突判定規則刪除沖突點,生成新的有效測試點列表后進入步驟S2;
S2、確定是否可以三次B樣條擬合:根據S1中新的有效測試點列表進行判斷是否包含四個以上的有效測試點,若是,則進入步驟S3,若否,則進行跌落測試引導后進入步驟S1;
S3、三次B樣條擬合:利用三次B樣條基函數,根據四個相鄰的有效測試點的跌落數據計算出每一段擬合曲線的若干個型值點,然后將密集的型值點連接起來形成擬合的三次B樣條曲線;
三次B樣條基函數為:
三次B樣條曲線為:
其中,ri(u)表示三次B樣條曲線第i段的參數方程,N0,4(u)表示三次B樣條曲線的第0個基函數,N1,4(u)表示三次B樣條曲線的第1個基函數,N2,4(u)表示三次B樣條曲線的第2個基函數,N3,4(u)表示三次B樣條曲線的第3個基函數,Vi表示三次B樣條曲線特征多邊形第i個頂點矢量,Vi+1表示三次B樣條曲線特征多邊形第i+1個頂點矢量,Vi+2表示三次B樣條曲線特征多邊形第i+2個頂點矢量,Vi+3表示三次B樣條曲線特征多邊形第i+3個頂點矢量;
S4、臨界跌落高度求解:根據步驟S3得到的三次B樣條曲線,求解三次B樣條曲線上HIC=1000對應點的跌落高度,其中,HIC為臨界跌落高度;
S5、確定是否取得有效臨界跌落高度:根據步驟S4得到的跌落高度,在步驟S1中有效測試點列表中尋找,在區間[跌落高度-500mm,跌落高度]內是否存在二個有效測試點,以及在區間[跌落高度,跌落高度+500mm]內是否存在二個有效測試點,若存在,則進入步驟S6,若不存在,則進行跌落測試引導后進入步驟S1;
S6、輸出結果:輸出得到的三次B樣條曲線以及臨界跌落高度在得到的三次B樣條曲線上HIC=1000對應點的跌落高度;
所述跌落測試引導步驟包括:
D1、獲取有效測試點的數量:讀取有效測試點列表,并進入步驟D2;
D2、判定是否存在有效測試點:獲取有效測試點列表,確定是否存在有效測試點,若存在,則進入步驟D3,若不存在,則提示跌落高度在一固定點處進行測試;
D3、判定是否存在一個有效測試點:若有效測試點大于一個,則進入步驟D4,若有效測試點為一個,則求解有效測試點和原點對應的直線L1,以直線L1的直線方程求解HIC=1000對應點的跌落高度,然后提示在該跌落高度進行跌落測試;
D4、判定是否存在二個有效測試點:若有效測試點大于二個,則進入步驟D5,若有效測試點為二個,則求解二個有效測試點對應的直線L2,以直線L2的直線方程求解HIC=1000對應點的跌落高度,然后提示在該跌落高度進行跌落測試;
D5、判定是否存在三個有效測試點:若有效測試點大于三個,則進入步驟D6,若有效測試點為三個,則求解三個有效測試點對應的二次曲線C2,以二次曲線C2的直線方程求解HIC=1000對應點的跌落高度,然后提示在該跌落高度進行跌落測試;
D6、判定臨界點左側是否存在二個有效測試點:判定在區間[臨界點高度-500mm,臨界點高度]內是否存在二個有效測試點,若有效測試點為二個,則進入D7,若有效測試點小于二個,則提示在區間[臨界點高度-500mm,臨界點高度]內進行跌落測試;
D7、判定臨界點右側是否存在二個有效測試點:判定在區間[臨界點高度,臨界點高度+500mm]內是否存在二個有效測試點,若有效測試點為二個,則結束,若有效測試點小于二個,則提示在區間[臨界點高度,臨界點高度+500mm]內進行跌落測試。
2.根據權利要求1所述的跌落高度擬合方法,其特征在于,所述步驟S1中跌落數據包括跌落高度和HIC值,
所述沖突判定規則包括:是否有點重合和是否有點相互矛盾,所述是否有點重合為新的沖擊測試點與已經生成的測試點列表中的跌落高度和對應HIC值是否完全相等,所述是否有點相互矛盾為新的沖擊測試點與已經生成的測試點列表中的跌落高度和HIC值是否矛盾。
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