[發明專利]基于灰密參數的懸式絕緣子積污難易程度的標定方法

在審

• 申請號: 201510306790.0
• 申請日: 2015-06-04
• 公開（公告）號: CN104992047A
• 公開（公告）日: 2015-10-21
• 發明（設計）人: 盧明;李瑤琴;李黎;任歡;張宇鵬;劉澤輝;呂中賓;李清
• 申請（專利權）人: 國網河南省電力公司電力科學研究院;華中科技大學;國家電網公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G01N9/00
• 代理公司: 鄭州聯科專利事務所(普通合伙) 41104
• 代理人: 劉建芳;李伊寧

1.基于灰密參數的懸式絕緣子積污難易程度的標定方法，其特征在于，包括以下步驟：

A：分別測量N個待標定絕緣子表面的灰密，然后將標準盤形懸式絕緣子作為參照絕緣子，測量與每個待標定絕緣子同地點同高度懸掛的標準盤形懸式絕緣子表面的灰密；然后進入步驟B；

B：以標準盤形懸式絕緣子的灰密作為基準，分別計算每一個待標定絕緣子的灰密與對應的標準盤形懸式絕緣子的灰密的比值，該比值作為歸一化灰密；然后將待標定絕緣子的N個歸一化灰密放于同一集合中，得到該待標定絕緣子的歸一化灰密集合；然后進入步驟C；

C：計算該待標定絕緣子的歸一化灰密集合中所有數據的平均值和標準差s；然后進入步驟D；

平均值的計算公式為：

x‾=1NΣi=1Nxi,]]>

其中，x_i為歸一化灰密集合中的歸一化灰密數據，i＝1,2，……，N；

標準差s的計算公式為：

s=1NΣi=1N(xi-x‾)2;]]>

其中，x_i為歸一化灰密集合中的歸一化灰密數據，為待標定絕緣子的歸一化灰密集合中的所有數據的平均值，i＝1,2，……，N；

D：計算歸一化灰密集合中的可疑值然后根據得到的可疑值計算用于檢驗可疑值是否為歸一化灰密集合中離群值的檢驗統計量g；然后進入步驟E；

可疑值的計算公式為：

x^=xmax,(xmax-x‾)>(x‾-xmin)xmin,(xmax-x‾)<(x‾-xmin);]]>

檢驗統計量g的計算公式為：

g=|x^-x‾|/s;]]>

其中，x_min為歸一化灰密集合中所有數據中的最小值，x_max為歸一化灰密集合中所有數據中的最大值，為待標定絕緣子的歸一化灰密集合中的所有數據的平均值；s為待標定絕緣子的歸一化灰密集合中所有數據的標準差；

E：利用判斷公式判斷歸一化灰密集合中的可疑值是否為離群值，判斷公式為g>g_P(N)；

其中，g_P(N)為離群值檢驗的臨界值，下標p為point首字母并非變量，α＝0.95，為自由度為(N-2)的t分布在顯著性水平為α/(2N)時的臨界值；

在判斷歸一化灰密集合中的可疑值是否為離群值時，若g>g_P(N)，則將此可疑值從歸一化灰密集合中排除，然后返回步驟D；若g≤g_p(N)，則進入步驟F；

F：計算排除了離群值的灰密集合對應的正態總體期望的95％置信區間上界c_u，計算公式為以計算得到的灰密集合對應的正態總體期望的95％置信區間上界c_u作為待標定絕緣子的灰密標定值；標準盤形懸式絕緣子的積污難易度特征值為1，即標準盤形懸式絕緣子的灰密標定值為1；

其中，N^*為排除了離群值的歸一化灰密集合中的灰密數據個數，為排除了離群值的歸一化灰密集合中所有數據的平均值，s′為排除了離群值的歸一化灰密集合中所有數據的標準差；α＝0.95，表示自由度為(N*-1)的t分布在顯著性水平為時的臨界值，的計算公式為

其中，x′_i為排除了離群值的歸一化灰密集合中的歸一化灰密數據，i＝1,2，……，N^*；

標準差s′的計算公式為：

s′=1N*Σi=1N*(xi′-x′‾)2]]>

其中，x′_i為排除了離群值的歸一化灰密集合中的歸一化灰密數據，為排除了離群值的歸一化灰密集合中所有數據的平均值，N^*為排除了離群值的歸一化灰密集合中的灰密數據個數，i＝1,2，……，N^*。