[發明專利]一種用于超聲檢測的改進型試塊及其應用

有效

• 申請號: 201510293381.1
• 申請日: 2015-06-01
• 公開（公告）號: CN104897783B
• 公開（公告）日: 2019-04-26
• 發明（設計）人: 金宇飛;馬芳;翟蓮娜
• 申請（專利權）人: 上海材料研究所
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 上?？剖⒅R產權代理有限公司 31225
• 代理人: 陳亮

本發明涉及一種用于超聲檢測的改進型試塊及其應用，該改進型試塊是對2號校準試塊進行改進，將2號校準試塊中開設的橫孔的直徑由5mm調整為3mm，橫孔的中心與上方直邊的距離為20mm，按照符合GB/T 11345—2103的規定，設定和校準靈敏度。與現有技術相比，本發明不僅保留了2號校準試塊體積小、重量輕、攜帶方便的優點，保留了可用于設定和校準時基線、測定斜探頭入射點和折射角的功能，同時又擴展到能用于且符合GB/T 11345—2103的靈敏度設定和校準。

技術領域

本發明涉及無損檢測領域，尤其是涉及一種用于超聲檢測的改進型試塊及其應用。

背景技術

超聲檢測是無損檢測的一種方法，應用超聲檢測時需要使用試塊，試塊通常分為校準試塊和對比試塊兩大類。2號校準試塊就是一種試塊。國家標準GB/T 19799.2—2012(或國際標準ISO 7963:2006)《無損檢測超聲檢測2號校準試塊》對2號校準試塊的材料、形狀和尺寸做了具體規定。2號校準試塊的材料為鋼。

2號校準試塊的特征在于：有2條直邊和2條圓弧邊(兩圓心重合并且在1條直邊上)，其中有1個直徑為5mm的橫孔，橫孔中心與2條圓弧的圓心在同一垂直線上，并且與一直邊相距20mm，與另一直邊相距為7.68mm。2號校準試塊可用于直探頭和斜探頭的時基線設定和校準、靈敏度校準，也可用于斜探頭入射點和折射角的測定。與其他試塊相比，2號校準試塊的優點在于其體積小、重量輕、便于攜帶。

由于2號校準試塊的橫孔直徑為5mm，所以只能用于以直徑為5mm橫孔作為基準反射體的靈敏度設定和校準。又2號校準試塊的橫孔與直邊的距離值只有一個為整數，即20mm，而另一個距離值7.68mm不為整數，并且相互間不成倍數，無法用于采用線性調節(時基線同步放大)的超聲儀器，所以用于靈敏度設定和校準的距離值只有一個可利用，這樣就會影響到靈敏度設定和校準的準確度，從而可能影響到超聲檢測結果的可靠性。

國家標準GB/T 11345—2013《焊縫無損檢測超聲檢測技術、檢測等級和評定》規定了使用2號校準試塊，但只是規定了利用2號校準試塊來設定和校準時基線，而不是用于設定和校準靈敏度。因為GB/T 11345—2013規定了以直徑為3mm橫孔作為基準反射體來設定和校準靈敏度(見GB/T 11345—2013的10.2)，而不是5mm，所以2號校準試塊不能用于GB/T11345—2013的靈敏度設定和校準。

因而，實施GB/T 11345—2013時，即便是使用了2號校準試塊，仍然需要使用其他試塊來設定和校準靈敏度。

發明內容

本發明的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種既滿足靈敏度設定和校準，又滿足直探頭和斜探頭的時基線設定和校準，以及斜探頭入射點和折射角的測定，并且都滿足GB/T 11345—2013要求的用于超聲檢測的改進型試塊及其應用。

本發明的目的可以通過以下技術方案來實現：

一種用于超聲檢測的改進型試塊，是對2號校準試塊進行改進，將2號校準試塊中開設的橫孔的直徑由5mm調整為3mm，其橫孔的中心與上方直邊的距離為20mm，通過此距離可校準靈敏度。

將2號校準試塊下方的直邊相位增加2.32mm，所述的橫孔的中心與直邊之間的距離控制為10mm，與上方直邊的距離為20mm，通過此兩種距離可設定和校準靈敏度。

將2號校準試塊中開設的橫孔的中心向右平移4.64mm，使得橫孔與直邊的距離值為10mm，與上方直邊的距離為20mm，通過此兩種距離可設定和校準靈敏度。

所述的2號校準試塊改進型的厚度為10-50mm。

一種用于超聲檢測的改進型試塊的應用，利用三種改進的2號校準試塊中的任一種，按照符合GB/T 11345—2103的規定，利用3mm直徑橫孔和20mm距離來校準靈敏度，利用3mm橫孔和20mm、10mm距離來設定和校準靈敏度。