[發(fā)明專利]一種用于超聲檢測的改進(jìn)型試塊及其應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510293381.1 | 申請日： | 2015-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN104897783B | 公開（公告）日： | 2019-04-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 金宇飛;馬芳;翟蓮娜 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海材料研究所 |
| 主分類號： | G01N29/30 | 分類號： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 上?？剖⒅R產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人： | 陳亮 |
| 地址： | 200437*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 超聲 檢測 改進(jìn)型 及其 應(yīng)用 | ||
1.一種用于超聲檢測的改進(jìn)型試塊，其特征在于，該改進(jìn)型試塊是對2號校準(zhǔn)試塊進(jìn)行改進(jìn)，將2號校準(zhǔn)試塊中開設(shè)的橫孔的直徑由5mm調(diào)整為3mm，將2號校準(zhǔn)試塊的下方直邊相位增加2.32mm，所述的橫孔的中心與下方直邊之間的距離控制為10mm，橫孔的中心與上方直邊的距離為20mm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于超聲檢測的改進(jìn)型試塊，其特征在于，將2號校準(zhǔn)試塊中開設(shè)的橫孔的中心向右平移4.64mm，使得橫孔與下方直邊的距離值為10mm，與上方直邊的距離為20mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2中任一項(xiàng)所述的一種用于超聲檢測的改進(jìn)型試塊，其特征在于，所述的改進(jìn)型試塊的厚度為10-50mm。
4.一種如權(quán)利要求1所述用于超聲檢測的改進(jìn)型試塊的應(yīng)用，其特征在于，利用改進(jìn)型2號校準(zhǔn)試塊按照符合GB/T 11345—2103的規(guī)定，利用3mm直徑的橫孔以及橫孔與上方直邊及下方直邊的距離為整數(shù)或相互間成倍數(shù)的特性，來設(shè)定和校準(zhǔn)靈敏度。
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