[發(fā)明專利]西數(shù)硬盤無(wú)法訪問(wèn)及運(yùn)行緩慢的修復(fù)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510280354.0
• 申請(qǐng)日: 2015-05-28
• 公開（公告）號(hào): CN104851465B
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁效寧;董超;張佳強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 四川效率源信息安全技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/44
• 分類號(hào): G11C29/44
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于數(shù)據(jù)恢復(fù)領(lǐng)域，具體涉及一種西數(shù)硬盤無(wú)法訪問(wèn)及運(yùn)行緩慢的修復(fù)方法。

背景技術(shù)

硬盤使用久了就可能出現(xiàn)各種各樣的問(wèn)題，而硬盤“壞道”便是這其中最常見的問(wèn)題。硬盤出現(xiàn)壞道除了硬盤本身質(zhì)量以及老化的原因外，主要是平時(shí)在使用上不能善待硬盤，比如內(nèi)存太少以致應(yīng)用軟件對(duì)硬盤頻繁訪問(wèn)，對(duì)硬盤過(guò)分頻繁地整理碎片，不適當(dāng)?shù)某l，電源質(zhì)量不好，溫度過(guò)高，防塵不良，震動(dòng)等。

每一個(gè)剛出廠的新硬盤都或多或少的存在壞道，只不過(guò)他們被廠家隱藏在P表和G表中，用一般的軟件訪問(wèn)不到它。G表，又稱用戶級(jí)列表，大約能存放幾百個(gè)到一千左右的壞道；P表，又稱工廠級(jí)列表，能存放4000左右的壞道或更多。維修的時(shí)候，通常會(huì)使用軟件對(duì)硬盤進(jìn)行壞道掃描，掃描的時(shí)候出現(xiàn)全盤壞道的情況下通常不會(huì)是真正的全盤壞道，而是固件等故障導(dǎo)致硬盤出現(xiàn)不可訪問(wèn)的情況。

另外，在使用過(guò)程中，硬盤會(huì)出現(xiàn)響應(yīng)速度十分緩慢，在修復(fù)上述問(wèn)題的時(shí)候，人們通常會(huì)選擇低格或者全盤清零的方式，當(dāng)然此方式也是不能成功的，因?yàn)橛脖P已經(jīng)出現(xiàn)不可訪問(wèn)的情況。

名詞解釋：

UBA(Unit Block Address,單元塊尋址)；

LITTLE-ENDIAN(小字節(jié)序、低字節(jié)序)，與之對(duì)應(yīng)的是BIG-ENDIAN(大字節(jié)序、高字節(jié)序)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種西數(shù)硬盤無(wú)法訪問(wèn)及運(yùn)行緩慢的修復(fù)方法，能夠有效解決西數(shù)硬盤固件區(qū)故障導(dǎo)致硬盤能夠被識(shí)別，但數(shù)據(jù)不能被訪問(wèn)或者能夠被訪問(wèn)，但訪問(wèn)的速度異常緩慢的問(wèn)題。

為解決以上問(wèn)題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：一種西數(shù)硬盤無(wú)法訪問(wèn)及運(yùn)行緩慢的修復(fù)方法，包括以下步驟：

001針對(duì)硬盤出現(xiàn)全盤壞道，數(shù)據(jù)不能讀取的情況進(jìn)行修復(fù)；

002針對(duì)步驟001修復(fù)硬盤后響應(yīng)緩慢的情況進(jìn)行再次修復(fù)。

作為優(yōu)選，

001具體方法如下：

101獲取硬盤的34號(hào)模塊，34號(hào)模塊為G表模塊；

102打開G表模塊，將G表模塊清零，并將原校驗(yàn)碼修改為新校驗(yàn)碼；

103將修改之后的G表模塊回寫到硬盤上。

作為優(yōu)選，

101具體方法如下：

1011讀取G表模塊，讀取成功轉(zhuǎn)到結(jié)束，否則轉(zhuǎn)到1012；

1012找到一個(gè)型號(hào)和固件版本號(hào)都與故障盤相同的配件盤；

1013讀取配件盤的G表模塊。

作為優(yōu)選，

102具體方法如下：

1021打開G表模塊，定位到偏移地址0x06處，按照LITTLE-ENDIAN的方法取出2個(gè)字節(jié)，此值即為G表模塊內(nèi)容開始的地址；

1022從G表模塊內(nèi)容開始的地址到結(jié)束段數(shù)據(jù)全部清零；

1023從G表模塊的0x0C地址開始的四個(gè)字節(jié)為G表模塊的校驗(yàn)碼，清零后生成新校驗(yàn)碼，將新檢驗(yàn)碼寫入此處。

作為優(yōu)選，

002具體方法如下：

201獲取硬盤的02號(hào)模塊，02號(hào)模塊為參數(shù)模塊；

202打開參數(shù)模塊，將參數(shù)模塊日志區(qū)域段的內(nèi)容清零，并將原校驗(yàn)碼修改為新校驗(yàn)碼；

203將修改之后的參數(shù)模塊回寫到硬盤上。

作為優(yōu)選，

201具體方法如下：

2011讀取參數(shù)模塊，讀取成功轉(zhuǎn)到結(jié)束，否則轉(zhuǎn)到2012；

2012找到一個(gè)型號(hào)和固件版本號(hào)都與故障盤相同的配件盤；

2013讀取配件盤的參數(shù)模塊。

作為優(yōu)選，

202具體方法如下：

2021打開參數(shù)模塊，定位到日志區(qū)域地址0x4F4444到0x010028；

2022將參數(shù)模塊從0x4F4444到0x010028地址段內(nèi)的數(shù)據(jù)清零，但不含兩個(gè)端值；

2023參數(shù)模塊的0x0C地址開始的四個(gè)字節(jié)為參數(shù)模塊的校驗(yàn)碼，清零后生成新校驗(yàn)碼，將新檢驗(yàn)碼寫入此處。

本發(fā)明的有益效果如下：

1.通過(guò)回寫沒有條目的G表模塊以達(dá)到清除G表的作用，通過(guò)清除G表來(lái)解決硬盤能識(shí)別但是不能被訪問(wèn)的故障；

2.通過(guò)刪除錯(cuò)誤的日志信息來(lái)解決硬盤響應(yīng)緩慢的問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

圖1是硬盤修復(fù)的主流程圖；

圖2是修復(fù)全盤壞道的詳細(xì)流程圖；

圖3是獲取G表模塊詳細(xì)流程圖；

圖4是清除G表詳細(xì)流程圖；

圖5是修復(fù)響應(yīng)慢詳細(xì)流程圖；