[發明專利]西數硬盤無法訪問及運行緩慢的修復方法有效
| 申請號: | 201510280354.0 | 申請日: | 2015-05-28 |
| 公開(公告)號: | CN104851465B | 公開(公告)日: | 2017-12-08 |
| 發明(設計)人: | 梁效寧;董超;張佳強 | 申請(專利權)人: | 四川效率源信息安全技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/44 | 分類號: | G11C29/44 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 641000 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硬盤 無法訪問 運行 緩慢 修復 方法 | ||
1.一種西數硬盤無法訪問及運行緩慢的修復方法,其特征在于,包括以下步驟:
001針對硬盤出現全盤壞道,數據不能讀取的情況進行修復;
001的具體方法如下:
101獲取硬盤的34號模塊,34號模塊為G表模塊;
102打開G表模塊,將G表模塊清零,并將原校驗碼修改為新校驗碼;
103將修改之后的G表模塊回寫到硬盤上;
101具體方法如下:
1011讀取G表模塊,讀取成功轉到結束,否則轉到1012;
1012找到一個型號和固件版本號都與故障盤相同的配件盤;
1013讀取配件盤的G表模塊;
102具體方法如下:
1021打開G表模塊,定位到偏移地址0x06處,按照LITTLE-ENDIAN的方法取出2個字節,此值即為G表模塊內容開始的地址;
1022從G表模塊內容開始的地址到結束段數據全部清零;
1023從G表模塊的0x0C地址開始的四個字節為G表模塊的校驗碼,清零后生成新校驗碼,將新檢驗碼寫入此處;
002針對步驟001修復硬盤后響應緩慢的情況進行再次修復;
002具體方法如下:
201獲取硬盤的02號模塊,02號模塊為參數模塊;
202打開參數模塊,將參數模塊日志區域段的內容清零,并將原校驗碼修改為新校驗碼;
203將修改之后的參數模塊回寫到硬盤上;
201具體方法如下:
2011讀取參數模塊,讀取成功轉到結束,否則轉到2012;
2012找到一個型號和固件版本號都與故障盤相同的配件盤;
2013讀取配件盤的參數模塊;
202具體方法如下:
2021打開參數模塊,定位到日志區域地址0x4F4444到0x010028;
2022將參數模塊從0x4F4444到0x010028地址段內的數據清零,但不含兩個端值;
2023參數模塊的0x0C地址開始的四個字節為參數模塊的校驗碼,清零后生成新校驗碼,將新檢驗碼寫入此處。
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