[發(fā)明專利]芯片測(cè)試分選方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510246093.0
• 申請(qǐng)日: 2015-05-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105467256A
• 公開(kāi)（公告）日: 2016-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 顧漢玉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華潤(rùn)賽美科微電子（深圳）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/01
• 分類號(hào): G01R31/01
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 鄧云鵬

1.一種芯片測(cè)試分選方法，包括步驟：

S1.提供具有多個(gè)測(cè)試端口和多個(gè)通信接口的測(cè)試儀、以及具有多個(gè)工位和多個(gè)通信接口的分選機(jī)；

S2.通過(guò)通信電纜將測(cè)試儀的通信接口與分選機(jī)的通信接口一對(duì)一連接，并通過(guò)測(cè)試電纜將測(cè)試儀的多個(gè)測(cè)試端口與分選機(jī)的多個(gè)工位一對(duì)一連接；

S3.保留分選機(jī)的尚未通過(guò)測(cè)試的一個(gè)工位并關(guān)閉分選機(jī)的其他工位；

S4.測(cè)試當(dāng)前保留的工位與測(cè)試儀測(cè)試端口的測(cè)試電纜連接關(guān)系以及當(dāng)前保留的工位對(duì)應(yīng)的分選機(jī)通信接口與相應(yīng)的測(cè)試儀通信接口之間的通信電纜連接關(guān)系是否正確，

若測(cè)試出連接關(guān)系正確則當(dāng)前保留的工位通過(guò)測(cè)試，再次進(jìn)行S3步驟，直至所有工位都通過(guò)測(cè)試；

若測(cè)試出連接關(guān)系不正確則調(diào)整當(dāng)前保留的工位與測(cè)試儀測(cè)試端口的測(cè)試電纜連接關(guān)系以及/或當(dāng)前保留的工位對(duì)應(yīng)的分選機(jī)通信接口與相應(yīng)的測(cè)試儀通信接口之間的通信電纜連接關(guān)系，然后繼續(xù)重復(fù)S4步驟；

S5.開(kāi)啟分選機(jī)的所有工位，在分選機(jī)的多個(gè)工位上同時(shí)進(jìn)行芯片的批量測(cè)試分選。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，所述S2步驟是通過(guò)人工識(shí)別測(cè)試儀的測(cè)試端口和通信接口以及分選機(jī)的工位和通信接口，并通過(guò)人工將連接測(cè)試儀的通信接口與分選機(jī)的通信接口、以及測(cè)試儀的多個(gè)測(cè)試端口與分選機(jī)的多個(gè)工位一對(duì)一地連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，所述S4步驟通過(guò)在當(dāng)前保留的工位上測(cè)試已測(cè)完好的芯片來(lái)判斷當(dāng)前保留的工位與測(cè)試儀測(cè)試端口的測(cè)試電纜連接關(guān)系以及當(dāng)前保留的工位對(duì)應(yīng)的分選機(jī)通信接口與相應(yīng)的測(cè)試儀通信接口之間的通信電纜連接關(guān)系是否正確，

若所述完好的芯片通過(guò)測(cè)試，則當(dāng)前保留的工位通過(guò)測(cè)試，再次進(jìn)行S3步驟，直至所有工位都能使完好芯片通過(guò)測(cè)試后再進(jìn)行S5步驟；

若所述完好的芯片沒(méi)有通過(guò)測(cè)試，則檢查并調(diào)整當(dāng)前保留的工位與測(cè)試儀測(cè)試端口的測(cè)試電纜連接關(guān)系以及/或當(dāng)前保留的工位對(duì)應(yīng)的分選機(jī)通信接口與相應(yīng)的測(cè)試儀通信接口之間的通信電纜連接關(guān)系，然后繼續(xù)重復(fù)S4步驟。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，所述S4步驟通過(guò)在當(dāng)前保留的工位上測(cè)試預(yù)定數(shù)量的未測(cè)芯片來(lái)判斷當(dāng)前保留的工位與測(cè)試儀測(cè)試端口的測(cè)試電纜連接關(guān)系以及當(dāng)前保留的工位對(duì)應(yīng)的分選機(jī)通信接口與相應(yīng)的測(cè)試儀通信接口之間的通信電纜連接關(guān)系是否正確，

若所述預(yù)定數(shù)量的芯片中有芯片通過(guò)測(cè)試，則當(dāng)前保留的工位通過(guò)測(cè)試，再次進(jìn)行S3步驟，直至所有工位上都有芯片通過(guò)測(cè)試后再進(jìn)行S5步驟；

若所述預(yù)定數(shù)量的芯片中沒(méi)有芯片通過(guò)測(cè)試，則檢查并調(diào)整當(dāng)前保留的工位與測(cè)試儀測(cè)試端口的測(cè)試電纜連接關(guān)系以及/或當(dāng)前保留的工位對(duì)應(yīng)的分選機(jī)通信接口與相應(yīng)的測(cè)試儀通信接口之間的通信電纜連接關(guān)系，然后繼續(xù)重復(fù)S4步驟。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，所述S4步驟測(cè)試每個(gè)芯片時(shí)包括步驟：在當(dāng)前保留的工位上放置待測(cè)芯片，分選機(jī)通過(guò)通信電纜向測(cè)試儀發(fā)送開(kāi)始信號(hào)，測(cè)試儀接收到開(kāi)始信號(hào)后通過(guò)測(cè)試電纜測(cè)試連接至測(cè)試端口的待測(cè)芯片，測(cè)試儀將測(cè)試結(jié)果通過(guò)通信電纜發(fā)送給分選機(jī)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，待測(cè)試儀將測(cè)試結(jié)果通過(guò)通信電纜發(fā)送給分選機(jī)后，所述分選機(jī)根據(jù)測(cè)試儀發(fā)送的測(cè)試結(jié)果判斷該待測(cè)芯片是否通過(guò)測(cè)試。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，所述分選機(jī)的每個(gè)工位為一個(gè)機(jī)械手，該機(jī)械手用于抓取待測(cè)芯片，該機(jī)械手通過(guò)測(cè)試電纜連接至測(cè)試儀的測(cè)試端口以達(dá)成被抓取的待測(cè)芯片與測(cè)試儀測(cè)試端口之間的電連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，所述S5步驟在分選機(jī)的多個(gè)工位上同時(shí)進(jìn)行芯片的批量測(cè)試分選時(shí)包括步驟：在每個(gè)工位上放置一個(gè)待測(cè)芯片，分選機(jī)通過(guò)通信電纜向測(cè)試儀發(fā)送開(kāi)始信號(hào)，測(cè)試儀接收到開(kāi)始信號(hào)后通過(guò)測(cè)試電纜測(cè)試連接至各測(cè)試端口的各待測(cè)芯片，測(cè)試儀將各待測(cè)芯片的測(cè)試結(jié)果通過(guò)通信電纜發(fā)送給分選機(jī)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，待測(cè)試儀將各待測(cè)芯片的測(cè)試結(jié)果通過(guò)通信電纜發(fā)送給分選機(jī)后，所述分選機(jī)根據(jù)測(cè)試儀發(fā)送的測(cè)試結(jié)果判斷各待測(cè)芯片是否通過(guò)測(cè)試。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的芯片測(cè)試分選方法，其特征在于，待分選機(jī)根據(jù)測(cè)試儀發(fā)送的測(cè)試結(jié)果判斷各待測(cè)芯片是否通過(guò)測(cè)試后，所述分選機(jī)根據(jù)各待測(cè)芯片是否通過(guò)測(cè)試而將各待測(cè)芯片分類放置。