[發(fā)明專利]一種異形半導(dǎo)體晶片及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510242900.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-05-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104900492B | 公開(公告)日: | 2018-08-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉文森;王冰;周鐵軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京通美晶體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H01L21/304 |
| 代理公司: | 北京北翔知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11285 | 代理人: | 王媛;鐘守期 |
| 地址: | 101113 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 異形 半導(dǎo)體 晶片 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種異形半導(dǎo)體晶片及其制備方法,其中所述方法包括以下步驟:(1)由一種晶棒切割出晶片;(2)對(duì)晶片進(jìn)行表面研磨加工;(3)將晶片解理成異形晶片;(4)對(duì)異形晶片進(jìn)行磨邊處理;(5)將異形晶片用一種粘結(jié)劑固定在一塊支撐物上,對(duì)晶片進(jìn)行粗拋光,然后進(jìn)行精拋光,其中所述支撐物為剛性的平板。還任選對(duì)精拋后的異形晶片進(jìn)行表面清洗處理。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體晶片及其制備方法,更具體地,涉及一種異形半導(dǎo)體晶片及其制備方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體晶片由于其在電子、通訊及能源等多種領(lǐng)域中的應(yīng)用,越來越廣泛地受到關(guān)注。其中,將半導(dǎo)體晶片用作太陽能電池的襯底材料是一個(gè)重要的應(yīng)用方向。目前,太陽能電池的襯底材料多為圓形襯底,在襯底的外延和后續(xù)電池工藝完成后,再切割成方形的電池進(jìn)行模組的加工,這造成靠近圓形半導(dǎo)體晶片邊緣的電池材料的浪費(fèi)。開發(fā)方形襯底,能節(jié)約半導(dǎo)體晶片外延和電池制作的成本,并能方便后續(xù)電池模組的加工。此外,在許多其他應(yīng)用領(lǐng)域中,也希望使用方形半導(dǎo)體晶片。因此,研究包括方形半導(dǎo)體晶片在內(nèi)的非圓形半導(dǎo)體晶片(統(tǒng)稱為異形半導(dǎo)體晶片)的制備具有重要意義。
晶片在制造過程中需要研磨和拋光,為此,將晶片置于一個(gè)晶片支承墊(carrier)(也稱游星輪)中呈穿透的洞形狀的內(nèi)腔內(nèi),在研磨或拋光設(shè)備中進(jìn)行處理(其中支承墊放在研磨、拋光設(shè)備下盤的拋光墊上,晶片放在支承墊的內(nèi)腔中,晶片下表面與拋光墊接觸,研磨、拋光設(shè)備上盤的拋光墊壓住晶片上表面,在拋光設(shè)備的帶動(dòng)下晶片做公轉(zhuǎn)和自轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)研磨和拋光)。在這些處理步驟中,與圓形半導(dǎo)體晶片相比,異形半導(dǎo)體晶片的處理要困難得多,例如,如果方形半導(dǎo)體晶片置于具有圓形內(nèi)腔的傳統(tǒng)圓片研磨和拋光設(shè)備中的晶片支承墊內(nèi),則方形晶片的直角處需采用較大的過渡圓弧,造成晶片有效面積的浪費(fèi);同時(shí),在操作過程中,也不易將晶片控制在圓形的支承墊的內(nèi)腔內(nèi),相反,晶片易從圓形的支承墊的內(nèi)腔“逃”出,結(jié)果造成晶片的破碎。如果直接采用方形內(nèi)腔的支承墊,則在操作過程中晶片角部集中受力,也同樣易于造成晶片的破碎。
迄今為止,尚未見有成熟的、能以工業(yè)規(guī)模生產(chǎn)非圓形,即異形半導(dǎo)體晶片的方法。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明提供了一種制備異形半導(dǎo)體晶片的方法,該方法包括以下步驟:
(1)由一種晶棒切割出晶片;
(2)對(duì)晶片進(jìn)行表面研磨加工;
(3)將晶片解理成異形晶片;
(4)對(duì)異形晶片進(jìn)行磨邊處理;和
(5)將異形晶片用一種粘結(jié)劑固定在一塊支撐物上,對(duì)晶片進(jìn)行粗拋光,然后進(jìn)行精拋光,其中所述支撐物為剛性的平板。
任選地,對(duì)精拋后的異形晶片進(jìn)行表面清洗處理。
此外,本發(fā)明還提供了一種異形半導(dǎo)體晶片,其表面微粗糙度Ra(用原子力顯微鏡(AFM)測試,下同,詳見實(shí)施例部分)不高于0.5納米。
本發(fā)明制備異形半導(dǎo)體晶片的方法減少或避免了加工過程中晶片破損的風(fēng)險(xiǎn),提高了晶片的成品率。此外,由本發(fā)明方法制得的異形半導(dǎo)體晶片還具有良好的晶片平整度,適于進(jìn)行外延生長。
附圖說明
圖1為本發(fā)明方法的晶片倒角的示意圖,其中圖1a倒角為圓弧狀,圖1b倒角為坡形;
圖2為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方案中所用多邊形晶片磨削機(jī)及其主要部件示意圖;
圖3為用于實(shí)施本發(fā)明研磨、拋光方法的設(shè)備的一個(gè)實(shí)例。
具體實(shí)施方式
在本發(fā)明中,所述異形是指非圓形的、各邊均為直邊的形狀,例如長方形、正方形、菱形或其他多邊形等。
在本發(fā)明中,如無其他說明,則所有操作均在室溫、常壓實(shí)施。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





