[發(fā)明專利]集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510214704.3
• 申請日: 2015-04-28
• 公開（公告）號: CN104914390B
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉倩;張明虎;胡勇
• 申請（專利權(quán)）人: 中國船舶重工集團公司第七0九研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 武漢河山金堂專利事務(wù)所(普通合伙)42212
• 代理人: 胡清堂

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種校準系統(tǒng)，特別涉及一種集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置。

背景技術(shù)

在高速集成電路測試應(yīng)用中，對測試系統(tǒng)時間參量的要求異常嚴格。集成電路測試系統(tǒng)總定時精度就是反映測試系統(tǒng)提供的信號驅(qū)動沿或比較沿是否在預(yù)期的時間范圍內(nèi)，各信號之間的相對時間是否準確的關(guān)鍵時間參量。只有全面、準確地分析測試系統(tǒng)的這一核心時間參量，才能保障測試系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。

集成電路測試系統(tǒng)總定時精度的技術(shù)指標通常在皮秒級，當集成電路測試系統(tǒng)驅(qū)動或測量某一信號時，其驅(qū)動沿或比較沿與預(yù)期時間產(chǎn)生偏離，將直接導(dǎo)致被測集成電路數(shù)字時序錯誤，測試系統(tǒng)的測試結(jié)果不可信，則無法保障被測集成電路的可靠性。

目前國內(nèi)僅采用對測試系統(tǒng)的主時基頻率進行測量，或通過眼圖分析等方法來間接驗證或定性分析這一指標，并沒有定量測量的方法和裝置。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種能夠有效地驗證集成電路測試系統(tǒng)的高速性能，完善集成電路測試系統(tǒng)時間參量量值溯源的集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置。

一種集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置，包括皮秒級定時精度校準適配接口板、射頻連接器、數(shù)字實時示波器；

所述皮秒級定時精度校準適配接口板的信號通道與集成電路測試系統(tǒng)的測試通道連接，所述射頻連接器設(shè)置在所述皮秒級定時精度校準適配接口板上，并通過皮秒級定時精度校準適配接口板與所述集成電路測試系統(tǒng)的測試通道對接，所述射頻連接器通過射頻線纜與所述數(shù)字實時示波器的測試通道連接，所述數(shù)字實時示波器通過GPIB總線與所述集成電路測試系統(tǒng)進行通信。

優(yōu)選的，所述皮秒級定時精度校準適配接口板分為輸入到輸出定時準確度校準適配接口板、輸入邊沿置放精度校準適配接口板、輸出邊沿置放精度校準適配接口板；當測量輸入到輸出定時準確度時，使用輸入到輸出定時準確度校準適配接口板；當測量輸入邊沿置放精度時，使用輸入邊沿置放精度校準適配接口板；當測量輸出邊沿置放精度時，使用輸出邊沿置放精度校準適配接口板。

優(yōu)選的，在皮秒級定時精度校準適配接口板上所有數(shù)字信號通道四周增加地信號通道。

優(yōu)選的，在輸入到輸出定時準確度校準適配接口板中，將相鄰的數(shù)字信號通道采用導(dǎo)線兩兩相連，并將相連數(shù)字信號通道四周對應(yīng)的地信號通道相連。

優(yōu)選的，在輸入邊沿置放精度校準適配接口板中，將同一塊通道板上的一組數(shù)字信號通道分別通過射頻連接器引出，并選取其中一個通道作為參考通道，與數(shù)字信號通道對應(yīng)的地信號通道與射頻連接器的地線相連。

優(yōu)選的，在輸出邊沿置放精度校準適配接口板中，將同一塊通道板上的一組數(shù)字信號通道分別通過射頻連接器引出，并采用與輸入邊沿置放精度校準適配接口板相同的參考通道，與數(shù)字信號通道對應(yīng)的地信號通道與射頻連接器的地線相連，并在校準接口板中間空白區(qū)域設(shè)置射頻繼電器，用于切換示波器測量通路和測試系統(tǒng)輸出通道測量通路。

優(yōu)選的，所有相連的數(shù)字信號被相連的地信號通道包圍。

優(yōu)選的，所述導(dǎo)線均采用50Ω阻抗匹配的最短等長電纜。

優(yōu)選的，在皮秒級定時精度校準適配接口板的空白區(qū)域設(shè)置一參考測試導(dǎo)線組，所述參考測試導(dǎo)線組包含所述皮秒級定時精度校準適配接口板上所有信號通道連接的布線方式，用于評估由校準適配接口板引入的測量時延和驗證校準適配接口板驗證校準裝置的指標。

優(yōu)選的，至少設(shè)置四組所述參考測試導(dǎo)線組。

本發(fā)明所述的集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置，通過設(shè)計輸入到輸出的定時準確度、輸入邊沿置放精度和輸出邊沿置放精度三種校準適配接口板，并采用射頻連接器和射頻電纜連接數(shù)字實時示波器，實現(xiàn)對集成電路測試系統(tǒng)總定時精度的測量。本發(fā)明所述的集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置突破了傳統(tǒng)方法定性驗證的局限，實現(xiàn)了高速集成電路測試系統(tǒng)總定時精度的準確、定量測量，解決了高速集成電路測試系統(tǒng)核心時間參量的校準問題，能夠準確評估測試系統(tǒng)的高速性能。

附圖說明

圖1為集成電路測試系統(tǒng)總定時精度校準裝置架構(gòu)示意圖；

圖2為集成電路測試系統(tǒng)校準適配接口板彈簧針過孔示意圖；

圖3為輸入到輸出定時準確度校準適配接口板連線示意圖；

圖4為輸入邊沿置放精度校準適配接口板連線示意圖；

圖5為輸出邊沿置放精度校準適配接口板連線示意圖。

具體實施方式