[發明專利]集成電路測試系統總定時精度校準裝置

有效

• 申請號: 201510214704.3
• 申請日: 2015-04-28
• 公開（公告）號: CN104914390B
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發明（設計）人: 劉倩;張明虎;胡勇
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七0九研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 武漢河山金堂專利事務所(普通合伙)42212
• 代理人: 胡清堂

1.一種集成電路測試系統總定時精度校準裝置，包括皮秒級定時精度校準適配接口板、射頻連接器、數字實時示波器；

所述皮秒級定時精度校準適配接口板的信號通道與集成電路測試系統的測試通道連接，所述射頻連接器設置在所述皮秒級定時精度校準適配接口板上，并通過皮秒級定時精度校準適配接口板與所述集成電路測試系統的測試通道對接，所述射頻連接器通過射頻線纜與所述數字實時示波器的測試通道連接，所述數字實時示波器通過GPIB總線與所述集成電路測試系統進行通信；

所述皮秒級定時精度校準適配接口板分為輸入到輸出定時準確度校準適配接口板、輸入邊沿置放精度校準適配接口板、輸出邊沿置放精度校準適配接口板；當測量輸入到輸出定時準確度時，使用輸入到輸出定時準確度校準適配接口板；當測量輸入邊沿置放精度時，使用輸入邊沿置放精度校準適配接口板；當測量輸出邊沿置放精度時，使用輸出邊沿置放精度校準適配接口板；

在皮秒級定時精度校準適配接口板上所有數字信號通道四周增加信號回流孔；

在輸出邊沿置放精度校準適配接口板中，采用與輸入邊沿置放精度校準適配接口板相同的參考通道，將除參考通道以外的同一塊通道板上的數字信號通道兩兩分組并連接到射頻繼電器，每組分為輸入通道和輸出通道，對其他通道板上的數字信號通道，適當選取間隔若干個通道兩兩分組并連接到射頻繼電器，與所述數字信號通道對應的信號回流孔與射頻連接器的地線相連，并在校準接口板上設置射頻繼電器，用于切換示波器測量通路和測試系統輸出通道測量通路。

2.根據權利要求1所述的集成電路測試系統總定時精度校準裝置，其特征在于，在輸入到輸出定時準確度校準適配接口板中，將相鄰的數字信號通道采用導線兩兩相連，并將相連數字信號通道四周對應的信號回流孔相連。

3.根據權利要求1所述的集成電路測試系統總定時精度校準裝置，其特征在于，在輸入邊沿置放精度校準適配接口板中，將集成電路測試系統同一塊通道板上的一組數字信號通道分別通過射頻連接器引出，并選取其中一個通道作為參考通道，將集成電路測試系統其他通道板上的數字信號通道間隔若干個通過射頻連接器引出，與所述數字信號通道對應的信號回流孔與射頻連接器的地線相連。

4.根據權利要求2至權利要求3中任意一項所述的集成電路測試系統總定時精度校準裝置，其特征在于，所有相連的數字信號被相連的信號回流孔包圍。

5.根據權利要求4所述的集成電路測試系統總定時精度校準裝置，其特征在于，對輸入到輸出定時準確度校準適配接口板，相鄰的數字信號通道互連的導線為最短等長導線；對輸入邊沿置放精度校準適配接口板，將數字通道信號通過射頻連接器引出的導線為最短等長導線；對輸出邊沿置放精度校準適配接口板，射頻繼電器的兩個輸出信號引腳分別連接到射頻連接器和集成電路測試系統輸出通道的兩段導線為最短等長導線。

6.根據權利要求4所述的集成電路測試系統總定時精度校準裝置，其特征在于，在皮秒級定時精度校準適配接口板的空白區域設置一參考測試導線組，所述參考測試導線組包含所述皮秒級定時精度校準適配接口板上所有信號通道連接的布線方式，用于評估由校準適配接口板引入的測量時延和驗證校準適配接口板驗證校準裝置的指標。

7.根據權利要求6所述的集成電路測試系統總定時精度校準裝置，其特征在于，至少設置四組所述參考測試導線組。