[發(fā)明專利]一種地下電性薄層的識(shí)別方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510210282.2
• 申請(qǐng)日: 2015-04-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104793254B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 薛國(guó)強(qiáng);閆述;鐘華森;底青云;侯東洋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
• 主分類號(hào): G01V3/38
• 分類號(hào): G01V3/38
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及地質(zhì)探測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種地下電性薄層的識(shí)別方法和裝置。

背景技術(shù)

薄層地質(zhì)結(jié)構(gòu)體的有效探測(cè)問(wèn)題一直是地球物理方法應(yīng)用中面臨的重要問(wèn)題。目前，現(xiàn)有技術(shù)主要是通過(guò)正演模擬計(jì)算的方法，獲得不同情況下薄層的響應(yīng)，以利用理論計(jì)算結(jié)果來(lái)指導(dǎo)資料解釋。然而，在實(shí)際探測(cè)工作中，尚沒(méi)有針對(duì)地下電性薄層的有效探測(cè)或識(shí)別的技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種地下電性薄層的識(shí)別方法和裝置，其目的是解決現(xiàn)有技術(shù)中尚不存在有效地實(shí)際探測(cè)或識(shí)別地下電性薄層的技術(shù)的問(wèn)題。

為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案如下：

一種地下電性薄層的識(shí)別方法，該識(shí)別方法包括：獲取或接收通過(guò)在待測(cè)地區(qū)進(jìn)行瞬變電磁測(cè)深所得到的不同延遲時(shí)間對(duì)應(yīng)的實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)；根據(jù)實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)及其觀測(cè)誤差，確定實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)中所能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)；以及在能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)中，根據(jù)每?jī)蓚€(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)的延遲時(shí)間，確定待測(cè)地區(qū)中所能識(shí)別的每個(gè)薄層的厚度。

優(yōu)選地，根據(jù)實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)及其觀測(cè)誤差來(lái)確定實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)中所能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)的步驟包括：將不同延遲時(shí)間對(duì)應(yīng)的實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)按預(yù)定順序排序；依次針對(duì)排序后的實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)中除首尾數(shù)據(jù)之外的每一個(gè)數(shù)據(jù)，以該數(shù)據(jù)和該數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差的乘積作為判據(jù)，判斷該數(shù)據(jù)前后兩個(gè)數(shù)據(jù)的平均值與該數(shù)據(jù)之差的絕對(duì)值是否小于該判據(jù)：若是，則通過(guò)在排序后的實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)中刪除該數(shù)據(jù)來(lái)更新排序后的實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)；以及將排序后的實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)最后一次更新后所包括的各個(gè)實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)確定為能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，根據(jù)實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)及其觀測(cè)誤差來(lái)確定實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)中所能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)的步驟包括：獲得實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)關(guān)于時(shí)間的TEM(Transient electromagnetic method，瞬變電磁法)曲線，并為T(mén)EM曲線的時(shí)間道編號(hào)為1、2、…、N，對(duì)應(yīng)的延遲時(shí)間分別為t(1)、t(2)、…、t(N)，N為時(shí)間道總數(shù)；對(duì)V_t(2)至V_t(N-1)依次進(jìn)行替換判斷：當(dāng)對(duì)V_t(k+1)進(jìn)行替換判斷時(shí)，若V_t(k)和V_t(k+2)的平均值與V_t(k+1)之差的絕對(duì)值小于V_t(k+1)對(duì)應(yīng)的判據(jù)時(shí)，在TEM曲線中舍去V_t(k+1)以及對(duì)應(yīng)的t(k+1)，并將V_t(k+2)至V_t(N)的時(shí)間道編號(hào)分別替換為各自原來(lái)編號(hào)減1后所得的值，然后繼續(xù)對(duì)替換后的V_t(k+2)進(jìn)行替換判斷，其中k∈{1，2，…，N-2}；若V_t(k)和V_t(k+2)的平均值與V_t(k+1)之差的絕對(duì)值大于或等于V_t(k+1)對(duì)應(yīng)的判據(jù)時(shí)，繼續(xù)對(duì)V_t(k+2)進(jìn)行替換判斷；其中，V_t(k+1)對(duì)應(yīng)的判據(jù)為V_t(k+1)與V_t(k+1)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)差的乘積，V為實(shí)測(cè)衰減電壓；以及將經(jīng)過(guò)最后一次替換判斷后的TEM曲線中包括的各個(gè)實(shí)測(cè)衰減電壓數(shù)據(jù)確定為能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，確定待測(cè)地區(qū)中所能識(shí)別的每個(gè)薄層的厚度的步驟包括：在按時(shí)間先后排序后的能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)中，針對(duì)每?jī)蓚€(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)，根據(jù)該兩個(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)各自的延遲時(shí)間，分別計(jì)算該兩個(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的探測(cè)深度，以利用該兩個(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的探測(cè)深度之差確定該兩個(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)之間對(duì)應(yīng)的薄層的厚度。

優(yōu)選地，確定待測(cè)地區(qū)中所能識(shí)別的每個(gè)薄層的厚度的步驟包括：在按時(shí)間先后排序后的能識(shí)別的薄層數(shù)據(jù)中，用V(t₁)和V(t₂)表示任意兩個(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)，其中t₁和t₂分別為V(t₁)和V(t₂)對(duì)應(yīng)的延遲時(shí)間，且t₁＜t₂，d₁和d₂分別為該兩個(gè)相鄰薄層數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的探測(cè)深度，根據(jù)如下公式計(jì)算V(t₁)和V(t₂)之間對(duì)應(yīng)的薄層的厚度：