[發明專利]一種低功耗差分傳輸芯片的直通化測試裝置有效
| 申請號： | 201510169365.1 | 申請日： | 2015-04-10 |
| 公開（公告）號： | CN104749514B | 公開（公告）日： | 2017-12-19 |
| 發明（設計）人： | 劉靜;曹俊鋒;柏光東;王鳳馳;李正東 | 申請（專利權）人： | 中國電子科技集團公司第三十八研究所 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙)34124 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 功耗 傳輸 芯片 通化 測試 裝置 | ||
1.一種低功耗差分傳輸芯片的直通化測試裝置，其特征在于：其包括對插件側接口(1)、對測試系統側接口(2)、解差分芯片組(3)和時鐘電路(4)；所述對插件側接口(1)和對測試系統側接口(2)通過并行走線直接一對一連接并雙向通訊；所述解差分芯片組(3)分別與對插件側接口(1)通過差分走線一對一連接并單向通訊、與對測試系統側接口(2)通過并行走線一對一連接并單向通訊；所述時鐘電路(4)與解差分芯片組(3)連接；
所述解差分芯片組(3)主要由9組解差分芯片及其匹配子電路(31)組成，依次為第1組匹配子電路、第2組匹配子電路、第3組匹配子電路、第4組匹配子電路、第5組匹配子電路、第6組匹配子電路、第7組匹配子電路、第8組匹配子電路、第9組匹配子電路；其中，每一組解差分芯片及其匹配子電路(31)均與時鐘電路(4)相連接。
2.如權利要求1所述的低功耗差分傳輸芯片的直通化測試裝置，其特征在于：所述解差分芯片組(3)與對插件側接口(1)的單向通迅方向是從對插件側接口(1)到解差分芯片組(3)；所述解差分芯片組(3)與對測試系統側接口(2)的單向通訊方向是從對解差分芯片組(3)到對測試系統側接口(2)。
3.如權利要求1所述的低功耗差分傳輸芯片的直通化測試裝置，其特征在于：所述解差分芯片及其匹配子電路(31)電路還包括串聯的電容組和電感L；所述電容組包括電容C1、電容C2、電容C3、電容C4、電容C5，且電容組由五個電容C1、C2、C3、C4、C5并聯形成。
4.如權利要求3所述的低功耗差分傳輸芯片的直通化測試裝置，其特征在于：所述電容C1和C4的容值為0.1uF，電容C2的容值為10uF，電容C3和C5的容值為1000pF；電感L的值為10uH。
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