[發明專利]主動元件陣列基板及其檢測方法

有效

• 申請號: 201510094214.4
• 申請日: 2015-03-03
• 公開（公告）號: CN104678614B
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 潘盈豪
• 申請（專利權）人: 友達光電股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006
• 代理人: 梁揮,尚群

技術領域

本申請涉及一種元件陣列基板及其檢測方法，特別是一種適用于顯示面板的主動元件陣列基板及其檢測方法。

背景技術

液晶顯示面板主要是由主動元件陣列基板、彩色濾光陣列基板以及液晶層所構成，其中主動元件陣列基板包括多條信號線以及多個陣列排列的像素，像素分別與對應的信號線連接。一般來說，為了避免制造成本增加，業界趨向于在完成薄膜晶體管陣列后先檢測出共通線與信號線發生短路的確切位置，再進行修補。另外，在面板設計時，直接將柵極驅動電路制作在主動元件陣列基板上，以代替外接的驅動芯片的技術，被稱為柵極驅動電路基板技術(Gate on Array,GOA)。然而，在檢測GOA形式的主動元件陣列基板的短路位置時，常常有檢出率不高且影像不明顯的問題。特別是，以紅外線加熱定位檢測方式為例，實務上常常發生影像不明顯甚至是無影像的問題。此外，由于測試信號需流經顯示區周圍的驅動電路才能進入顯示區內，若加大信號強度，又可能使驅動電路承受過大的電壓或電流而損毀。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種不需使測試信號流經驅動電路而可檢測出顯示區內的缺陷位置的主動元件陣列基板及其檢測方法，前述驅動電路例如可為柵極驅動電路或漏極驅動電路。

為了實現上述目的，本發明提供了一種檢測方法，適于檢測主動元件陣列基板上的缺陷，其中主動元件陣列基板包括多個像素結構、驅動電路、多條信號線以及控制線。所述多個像素結構配置于顯示區內，驅動電路配置于顯示區之外。所述多條信號線分別電性連接驅動電路與相應的像素結構。控制線與信號線相互交錯。此檢測方法先從所述多條信號線中選定待測信號線，再導通控制線與待測信號線。接著，由控制線輸入測試信號至待測信號線，以判定缺陷的位置。最后，再絕緣控制線與待測信號線。

在一實施例中，從所述多條信號線中選定待測信號線的方法為：通過電壓映像測定法來判斷缺陷所對應的待測信號線。

在一實施例中，輸入測試信號至待測信號線，以判定缺陷位置的方法為：對主動元件陣列基板進行紅外線熱影像檢測，以通過獲得的紅外線熱影像數據來判斷缺陷的位置。

在一實施例中，導通控制線與待測信號線的方法為：通過激光來熔接控制線與待測信號線的交錯處，以形成連接控制線與待測信號線的熔接點。在判定缺陷的位置之后，絕緣控制線與待測信號線的方法為：移除連接于熔接點的相對兩側的待測信號線的一部分，以形成第一信號線段、第二信號線段以及第三信號線段，其中第一信號線段電性連接驅動電路，第二信號線段電性連接像素結構，第三信號線段具有熔接點，且與第一信號線段與第二信號線段相互絕緣。之后，再形成電性連接第一信號線段與第二信號線段的連接線，且連接線與第三信號線段相互絕緣。

在一實施例中，信號線的一側具有突出的第一延伸部，控制線的一側具有突出的第二延伸部，且第一延伸部與第二延伸部相互交錯，以形成前述所提及的激光熔接后的熔接點。在判定缺陷的位置之后，絕緣控制線與待測信號線的方法為：移除連接于熔接點的部分第一延伸部，以絕緣熔接點與信號線；移除連接于熔接點的部分第二延伸部，以絕緣熔接點與控制線。

為了更好地實現上述目的，本發明還提供了一種主動元件陣列基板，包括多個像素結構、驅動電路、控制線以及多條信號線。所述多個像素結構配置于顯示區內。驅動電路配置于顯示區之外。控制線位于驅動電路與顯示區之間。所述多條信號線電性連接驅動電路與相應的像素結構，并分別與控制線相互交錯。所述多條信號線包括目標信號線，且目標信號線包括第一信號線段、第二信號線段、第三信號線段以及連接線。第一信號線段電性連接驅動電路，第二信號線段電性連接相應的像素結構，第三信號線段具有熔接點并連接控制線，且第三信號線段分別與第一信號線段以及第二信號線段相互絕緣。連接線電性連接第一信號線段與第二信號線段，且連接線與第三信號線段相互絕緣。

在一實施例中，上述的連接線與控制線交錯，且連接線的兩端分別連接第一信號線段與第二信號線段。

為了更好地實現上述目的，本發明還提供了另一種主動元件陣列基板，包括多個像素結構、驅動電路、控制線以及多條信號線。所述多個像素結構配置于顯示區內。驅動電路配置于顯示區之外。控制線位于驅動電路與顯示區之間。所述多條信號線電性連接驅動電路與相應的像素結構，并分別與控制線相互交錯。各信號線的一側具有至少一第一延伸部，控制線的一側具有至少一第二延伸部，且各第一延伸部中的至少一個與相應的第二延伸部相互交錯。