[發明專利]一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法

有效

• 申請號: 201510073951.6
• 申請日: 2015-02-12
• 公開（公告）號: CN104727813B
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 葛新民;范宜仁;范卓穎;鄧少貴;譚寶海;吳飛;徐擁軍
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（華東）
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司37205
• 代理人: 邵朋程

1.一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

a對井下地層取樣，并對取出的巖心進行深度歸位，使巖心記錄深度與地層深度匹配；

b根據巖心歸位后的深度，讀取深側向電阻率、聲波時差和密度值，并根據式(1)計算有機碳含量

TOC=a×log(Rt)+b×ACDEN+c---(1)]]>

式(1)中，TOC為有機碳含量，AC、DEN、Rt分別為聲波時差、密度和深側向電阻率，a、b、c分別為參數；

c利用式(1)計算出有機碳含量后，根據有機碳含量多少對源儲共生型地層進行級別劃分，具體方法如式(2)

I級TOC＜5％；II級5％≤TOC＜10％；III級TOC≥10％ (2)

d根據式(2)將源儲共生型地層進行分級后，分別建立不同級別源儲共生型地層的孔隙度計算方法，其中I級源儲共生型地層的孔隙度計算方法如式(3)

φ＝d×AC+e×DEN+f (3)

式(3)中，φ為孔隙度，AC、DEN分別為聲波時差、密度，d、e、f分別為參數；

II級源儲共生型地層的孔隙度計算方法如式(4)

φ＝g×log(Rt)+h×TOC+i(4)

式(4)中，φ為孔隙度，Rt為深側向電阻率，TOC為有機碳含量，g、h、i分別為參數；III級源儲共生型地層的孔隙度計算方法如式(5)

φ＝j×CNL+k×TOC+l(5)

式(5)中，φ為孔隙度，CNL為補償中子，TOC為有機碳含量，j、k、l分別為參數。

2.根據權利要求1所述的一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，其特征在于，步驟a中還包括對巖心開展模擬地層條件下的巖石物理參數測量和地球化學參數測量。

3.根據權利要求2所述的一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，其特征在于，所述巖石物理參數包括氣測孔隙度、滲透率和/或密度，所述地球化學參數測量包括有機碳含量、熱成熟度和/或熱解參數。

4.根據權利要求1所述的一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，其特征在于，步驟a中巖心深度歸位應用核磁共振測井與巖心孔隙度的匹配方法，具體步驟如下：根據標準核磁共振測井所反演得到的總孔隙度與巖心孔隙度進行對比，采取整桶移動的方法，當兩者一致時，則巖心所處深度為其真實深度。

5.根據權利要求1所述的一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，其特征在于，參數a、b、c、d、e、f、g、h、i、j、k、l分別通過擬合方法得到，擬合時有機碳含量TOC根據地球化學參數測量資料得到，孔隙度φ、聲波時差AC、密度DEN、深側向電阻率Rt及補償中子CNL根據巖石物理參數測量的測井資料得到。