[發明專利]一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法

有效

• 申請號: 201510073951.6
• 申請日: 2015-02-12
• 公開（公告）號: CN104727813B
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 葛新民;范宜仁;范卓穎;鄧少貴;譚寶海;吳飛;徐擁軍
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（華東）
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司37205
• 代理人: 邵朋程

技術領域

本發明屬于地球物理資料綜合處理與應用領域，具體地說是涉及一種根據烴源巖和儲層性質來進行源儲共生型地層的孔隙度測量方法

背景技術

隨著人類對能源需求的急劇增加和世界油氣資源的銳減，源儲共生型地層的勘探開發已逐步引起了世界各國的重視。但是源儲共生型地層的測井解釋存在巨大的挑戰，具體表現在參數測量如孔隙度方面，由于常規的解釋理論和模型在這種地層中已不適應，而國內外尚缺乏相應的機理研究和評價方法，使得孔隙度計算的精度低，對該類地層的深度勘探造成一定的困擾。

發明內容

基于上述技術問題，本發明提供一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，以實現該類地層的資源量預測和經濟價值評估，為該類地層的大規模勘探與開發提供技術支撐，降低勘探的盲目性。

本發明所采用的技術解決方案是：

一種源儲共生型地層的孔隙度測量方法，包括以下步驟：

a對井下地層取樣，并對取出的巖心進行深度歸位，使巖心記錄深度與地層深度匹配；

b根據巖心歸位后的深度，讀取深側向電阻率、聲波時差和密度值，并根據式(1)計算有機碳含量

式(1)中，TOC為有機碳含量，AC、DEN、Rt分別為聲波時差、密度和深側向電阻率，a、b、c分別為參數；

c利用式(1)計算出有機碳含量后，根據有機碳含量多少對源儲共生型地層進行級別劃分，具體方法如式(2)

I級TOC＜5％；II級5％≤TOC＜10％；III級TOC≥10％(2)

d根據式(2)將源儲共生型地層進行分級后，分別建立不同級別源儲共生型地層的孔隙度計算方法，其中I級源儲共生型地層的孔隙度計算方法如式(3)

φ＝d×AC+e×DEN+f(3)

式(3)中，φ為孔隙度，AC、DEN分別為聲波時差、密度，d、e、f分別為參數；

II級源儲共生型地層的孔隙度計算方法如式(4)

φ＝g×log(Rt)+h×TOC+i(4)

式(4)中，φ為孔隙度，Rt為深側向電阻率，TOC為有機碳含量，g、h、i分別為參數；

III級源儲共生型地層的孔隙度計算方法如式(5)

φ＝j×CNL+k×TOC+l(5)

式(5)中，φ為孔隙度，CNL為補償中子，TOC為有機碳含量，j、k、l分別為參數。

優選的，步驟a中還包括對巖心開展模擬地層條件下的巖石物理參數測量和地球化學參數測量。所述巖石物理參數包括氣測孔隙度、滲透率和/或密度，所述地球化學參數測量包括有機碳含量、熱成熟度和/或熱解參數。該測量數據可用于后續計算式中相關參數的擬合獲取，主要是用到有機碳含量與氣測孔隙度。

優選的，步驟a中巖心深度歸位應用核磁共振測井與巖心孔隙度的匹配方法，具體步驟如下：根據標準核磁共振測井所反演得到的總孔隙度與巖心孔隙度進行對比，采取整桶移動的方法，當兩者一致時，則巖心所處深度為其真實深度。

優選的，參數a、b、c、d、e、f、g、h、i、j、k、l分別通過擬合方法得到，擬合時有機碳含量TOC根據地球化學參數測量資料得到，孔隙度φ、聲波時差AC、密度DEN、深側向電阻率Rt及補償中子CNL根據巖石物理參數測量的測井資料得到。

本發明的有益技術效果是：

(1)本發明考慮到烴源巖對測井響應的影響，先計算有機碳含量，然后根據有機碳含量的多少對源儲共生型地層分級，再根據所劃分的級別分別采用不同的計算公式來計算孔隙度，該方法所得到的孔隙度非常精確，平均絕對誤差、平均相對誤差及相關系數等達到了致密油測井評價的標準與規范。

(2)本發明應用核磁共振測井與巖心孔隙度的匹配方法，實現了巖心深度的精確歸位，進一步提高了孔隙度的測量精度。

附圖說明

下面結合附圖與具體實施方式對本發明作進一步說明：

圖1為本發明的主要流程圖；

圖2為深度歸位效果圖；

圖3為有機碳含量計算效果圖；

圖4為I級烴源巖的孔隙度計算效果圖；

圖5為II級烴源巖的孔隙度計算效果圖；

圖6為III級烴源巖的孔隙度計算效果圖。

具體實施方式