[發(fā)明專利]一種陣列基板的檢測線路及陣列基板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510059935.1 | 申請日: | 2015-02-04 |
| 公開(公告)號: | CN104765169B | 公開(公告)日: | 2018-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田勇;趙莽 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司;武漢華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11372 | 代理人: | 朱繪,張文娟 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陣列 檢測 線路 | ||
1.一種陣列基板的檢測線路,其特征在于,所述檢測線路包括:
信號管腳區(qū),其包括多個信號管腳,所述信號管腳與陣列基板中的信號線對應(yīng)連接;
測試管腳區(qū),其包括多個測試管腳;
扇出走線區(qū),其連接在信號管腳區(qū)與測試管腳區(qū)之間,包括多條扇出走線,所述信號管腳通過扇出走線連接至部分測試管腳,與信號管腳連接的測試管腳均互不相鄰,以使得扇出走線區(qū)的高度減小;
其中,所述信號管腳區(qū)中的多個信號管腳與所述測試管腳區(qū)中的多個測試管腳沿相互平行的方向設(shè)置。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測線路,其特征在于,所述信號管腳區(qū)中信號管腳的分布密度小于所述測試管腳區(qū)中測試管腳的分布密度。
3.如權(quán)利要求1或2所述的檢測線路,其特征在于,所述測試管腳區(qū)包括第一測試管腳和第二測試管腳,各個第一測試管腳與扇出走線對應(yīng)連接,第二測試管腳不與扇出走線連接,相鄰的第一測試管腳之間存在有至少一個第二測試管腳。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測線路,其特征在于,相鄰的第一測試管腳之間存在的第二測試管腳的數(shù)量相同。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測線路,其特征在于,所述信號線包括數(shù)據(jù)線。
6.如權(quán)利要求1所述的檢測線路,其特征在于,所述信號線包括柵極線。
7.如權(quán)利要求1所述的檢測線路,其特征在于,所述測試管腳在測試管腳區(qū)呈“一”字型均勻排列。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測線路,其特征在于,所述信號管腳在信號管腳區(qū)沿平行于測試管腳區(qū)的方向呈“一”字型均勻排列。
9.如權(quán)利要求1所述的檢測線路,其特征在于,所述測試管腳由導(dǎo)電材質(zhì)構(gòu)成。
10.一種陣列基板,其特征在于,所述陣列基板包括如權(quán)利要求1~9中任一項所述的檢測線路。
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G02F1-00 控制來自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





