[發明專利]一種陣列基板的檢測線路及陣列基板

有效

• 申請號: 201510059935.1
• 申請日: 2015-02-04
• 公開（公告）號: CN104765169B
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發明（設計）人: 田勇;趙莽
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司;武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司11372
• 代理人: 朱繪,張文娟

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，具體地說，涉及一種陣列基板的檢測線路及陣列基板。

背景技術

一般在制作液晶顯示器的陣列基板的過程中，會使用外延的方式在液晶顯示器的陣列基板上形成數百萬個薄膜晶體管作為控制單元。然而，在陣列基板生產的過程中，如果存在部分薄膜晶體管的質量沒有達到預設要求，那么將可能導致這些薄膜晶體管無法具備開關控制的功能，從而使得液晶顯示器出現亮點或暗點的曲線，大幅降低液晶顯示器的質量。因此，在陣列基板生產過程中，必須有效地對陣列基板進行檢測，以確保陣列基板的質量。

而現有的陣列基板檢測線路存在高度過高的缺陷，這使得檢測線路占用的面積過大。由于陣列基板檢測線路多設置在陣列基板的外圍，所以檢測線路面積過大也造成液晶顯示器的邊框過大。

基于上述情況，亟需一種高度較小的陣列基板檢測線路。

發明內容

本發明所要解決的問題是為了減小陣列基板檢測線路的高度。為解決上述問題，本發明的實施例首先提供了一種陣列基板的檢測線路，包括：

信號管腳區，其包括多個信號管腳，所述信號管腳與陣列基板中的信號線對應連接；

測試管腳區，其包括多個測試管腳；

扇出走線區，其連接在信號管腳區與測試管腳區之間，包括多條扇出走線，所述信號管腳通過扇出走線連接至部分測試管腳，與信號管腳連接的測試管腳均互不相鄰，以使得扇出走線區的高度減小。

根據本發明的一個實施例，所述信號管腳區中信號管腳的分布密度小于所述測試管腳區中測試管腳的分布密度。

根據本發明的一個實施例，所述測試管腳區包括第一測試管腳和第二測試管腳，各個第一測試管腳與扇出走線對應連接，第二測試管腳不與扇出走線連接，相鄰的第一測試管腳之間存在有至少一個第二測試管腳。

根據本發明的一個實施例，相鄰的第一測試管腳之間存在的第二測試管腳的數量相同。

根據本發明的一個實施例，所述信號線包括數據線。

根據本發明的一個實施例，所述信號線包括柵極線。

根據本發明的一個實施例，所述測試管腳在測試管腳區呈“一”字型均勻排列。

根據本發明的一個實施例，所述信號管腳在信號管腳區沿平行于測試管腳區的方向呈“一”字型均勻排列。

根據本發明的一個實施例，所述測試管腳由導電材質構成。

本發明還提供了一種陣列基板，所述陣列基板包括如上任一項所述的檢測線路。

本發明所提供的陣列基板檢測線路中，信號管腳通過扇出走線連接至部分測試管腳，并且，與信號管腳連接的測試管腳均互不相鄰。相較于現有的與信號管腳連接的測試管腳的分布方式，本發明所提供的檢測線路在相同的扇出走線區域內，扇出走線的走線空間更大。這也就使得扇出走線不需要依靠增加走線高度，即依靠增大測試管腳區與管腳區之間的間隔距離，來滿足走線長度、寬度和間隔等設計工藝的要求。因此，相較于現有的檢測線路，本發明所提供的陣列基板檢測線路的高度更低，占用面積更小，有利于窄邊框液晶顯示器的設計與產生。

此外，相鄰的第一測試管腳(即與信號管腳連接的測試管腳)之間還可以存在多個第二測試管腳(即不與信號管腳連接的測試管腳)。這樣，相鄰的第一測試管腳之間的間隔距離進一步增大，這不僅有助于減小扇出走線區域的高度，還有助于減小扇出走線之間的相互干擾。

因為隨著第一測試管腳的分布范圍的增大，扇出走線的分布區域也隨之增大，而對于特定尺寸和分辨率的陣列基板，扇出走線的數量是一定的，所以此時扇出走線的分布密度將會減小，相鄰的兩個扇出走線之間的間隔距離變大，這樣也就降低了扇出走線之間的相互干擾，從而提高了檢測結果的準確性。

同時，第一測試管腳的分布密度降低也會使得與該檢測線路連接的外部測試設備的測試端口的分布密度降低，這有助于改善外部測試設備的測試端口處存在的電磁干擾現象，從而進一步提高檢測結果的準確性。

本發明的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發明而了解。本發明的目的和其他優點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要的附圖做簡單的介紹：

圖1是現有的高分辨率陣列基板的檢測線路的結構示意圖；

圖2是現有的低分辨率陣列基板的檢測線路的結構示意圖；