[發明專利]觸控面板的觸摸位置探測方法、觸控面板檢測方法及觸控面板檢測裝置

在審

• 申請號: 201510059691.7
• 申請日: 2015-02-04
• 公開（公告）號: CN104850255A
• 公開（公告）日: 2015-08-19
• 發明（設計）人: 楠田達文;本田睦博;栗原靖人
• 申請（專利權）人: 日本電產理德股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王波波

技術領域

本發明涉及探測觸控面板觸摸位置的觸摸位置探測方法，使用該觸摸位置探測方法的觸控面板檢測方法，以及觸控面板檢測裝置。

背景技術

以往，已知的觸控面板是利用重心法探測觸摸位置，所述重心法是通過測定以網格形狀配置的感應區域的靜電容量，從而計算復數個感應區域的靜電容量值的重心位置(例如，參照專利文獻1)。

然而，如上所述，將各感應區域的靜電容量值的重心位置作為觸摸位置的探測方法，具有觸摸位置的探測精密度低的問題。

【現有技術文獻】

【專利文獻1】

專利文獻1：日本專利公開第2013-134698號公報

發明內容

本發明的目的是，提供可以提高觸摸位置探測精密度的觸控面板的觸摸位置探測方法，和使用該方法的觸控面板檢測方法及觸控面板檢測裝置。

根據本發明的觸控面板的觸摸位置探測方法是，在設定有二維坐標的觸摸面上以網格形狀配置有復數個感應區域的觸控面板的觸摸位置探測方法，其包含：探測處理工序，獲取在所述各感應區域探測到的探測值；校正工序，基于相關值，校正所述各探測值，從而計算與所述各感應區域對應的相關校正值，其中所述相關值是將相鄰于所述各感應區域的其它感應區域的探測值對所述各感應區域的探測值所產生的影響數值化的值；最大值搜尋工序，在所述各相關校正值中搜尋最大值；以及觸摸位置獲取工序，將對應于所述最大值的感應區域作為最大區域，對包含所述最大區域和相鄰所述最大區域之其它感應區域的區域，計算基于所述相關校正值的重心位置，將所述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取。

由此構成，對于在觸控面板的各感應區域探測到的探測值，基于將與各感應區域相鄰的其它感應區域的探測值所生產的影響數值化的相關值，進行校正，從而計算出各感應區域的相關校正值。如此獲取的各相關校正值中搜尋最大值，對包含對應于該最大值的最大區域和相鄰于該最大區域的其它感應區域的區域，計算基于相關校正值的重心位置，而該重心位置作為觸摸位置而獲取。由此，基于考慮了與各感應區域相鄰的其它感應區域之影響的相關校正值而獲取觸摸位置，從而可以提高觸摸位置的探測精密度。

另外，優選地，還包含：準備工序，通過所述觸摸位置獲取工序，獲取所述觸摸位置后，減少所述最大區域的所述相關校正值；以及下一個觸摸位置獲取工序，在所述準備工序執行之后，再反復執行所述最大值搜尋工序和所述觸摸位置獲取工序，由此獲取新的觸摸位置。

由此構成，可以探測基于相關校正值的復數個觸摸位置，從而可以實現所謂多點觸控功能。

另外，優選地，在所述準備工序中，對圍繞所述最大區域而相鄰的其它感應區域的所述相關校正值，基于在所述其它感應區域周圍的外側與所述其它感應區域相鄰的外側感應區域的所述相關校正值來進行校正。

由此構成，在搜尋新的觸摸位置時，可以用更高的精密度排除對已探測的觸摸位置的觸摸影響。

另外，優選地，在所述下一個觸摸位置獲取工序中，所述反復執行的所述最大值搜尋工序中搜尋的最大值，對最初在所述最大值搜尋工序中搜尋的最大值的比率，沒有達到預先設定的基準比率時，不再獲取新的觸摸位置。

由此構成，可以降低把對于相關校正值的比率不及基準比率的感應區域錯誤地探測為觸摸位置的隱患，其中所述相關校正值是基于最初搜尋的最大值，即通過觸摸產生的探測值而獲得。

另外，優選地，所述相關值包含：對應于處理對象的感應區域即關注區域所規定的關注區域相關值；對應于對所述關注區域以行方向或列方向相鄰的各第1感應區域所規定的第1相關值；和對應于對所述關注區域以傾斜方向相鄰的各第2感應區域所規定的第2相關值，其中，所述第1相關值比所述關注區域相關值小，所述第2相關值比所述第1相關值小，所述校正工序是，將所述各感應區域依序分配在所述關注區域，將所述關注區域的探測值和所述關注區域相關值的相乘值，所述各第1感應區域的探測值和所述第1相關值的各相乘值，所述各第2感應區域的探測值和所述第2相關值的各相乘值相加，從而計算所述關注區域的相關校正值。

由此構成，對關注區域的接線長，并對關注區域的影響大的第1感應區域的第1相關值比對關注區域略微相接的第2感應區域的第2相關值更大。其結果，對關注區域生產的影響程度適當地反映在第1及第2相關值。

另外，優選地，在所述校正工序中，使所述復數個感應區域中位于所述觸摸面端部邊緣的感應區域的所述相關校正值與在所述位于端部邊緣的感應區域的內側相鄰的感應區域的所述相關校正值相等。