[發明專利]觸控面板的觸摸位置探測方法、觸控面板檢測方法及觸控面板檢測裝置在審
| 申請號: | 201510059691.7 | 申請日: | 2015-02-04 |
| 公開(公告)號: | CN104850255A | 公開(公告)日: | 2015-08-19 |
| 發明(設計)人: | 楠田達文;本田睦博;栗原靖人 | 申請(專利權)人: | 日本電產理德股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
| 地址: | 日本國京都府京都*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 面板 觸摸 位置 探測 方法 檢測 裝置 | ||
1.一種觸控面板的觸摸位置探測方法,所述觸控面板是在設定有二維坐標的觸摸面上以網格形狀配置有復數個感應區域,其中,所述方法包含:
探測處理工序,獲取在所述各感應區域探測到的探測值;
校正工序,基于相關值,校正所述各探測值,從而計算與所述各感應區域對應的相關校正值,其中所述相關值是將相鄰于所述各感應區域的其它感應區域的探測值對所述各感應區域的探測值所產生的影響數值化的值;
最大值搜尋工序,在所述各相關校正值中搜尋最大值;以及
觸摸位置獲取工序,將對應于所述最大值的感應區域作為最大區域,對包含所述最大區域和相鄰所述最大區域之其它感應區域的區域,計算基于所述相關校正值的重心位置,將所述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取。
2.根據權利要求1所述的觸控面板的觸摸位置探測方法,其特征在于還包含:
準備工序,通過所述觸摸位置獲取工序,獲取所述觸摸位置后,減少所述最大區域的所述相關校正值;以及
下一個觸摸位置獲取工序,在所述準備工序執行之后,再反復執行所述最大值搜尋工序和所述觸摸位置獲取工序,由此獲取新的觸摸位置。
3.根據權利要求2所述的觸控面板的觸摸位置探測方法,其特征在于,
在所述準備工序中,對圍繞所述最大區域而相鄰的其它感應區域的所述相關校正值,基于在所述其它感應區域周圍的外側與所述其它感應區域相鄰的外側感應區域的所述相關校正值來進行校正。
4.根據權利要求2或3所述的觸控面板的觸摸位置探測方法,其特征在于,
在所述下一個觸摸位置獲取工序中,所述反復執行的所述最大值搜尋工序中搜尋的最大值,對最初在所述最大值搜尋工序中搜尋的最大值的比率,沒有達到預先設定的基準比率時,不再獲取新的觸摸位置。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的觸控面板的觸摸位置探測方法,其特征在于,
所述相關值包含:對應于處理對象的感應區域即關注區域所規定的關注區域相關值;對應于對所述關注區域以行方向或列方向相鄰的各第1感應區域所規定的第1相關值;和對應于對所述關注區域以傾斜方向相鄰的各第2感應區域所規定的第2相關值,
其中,所述第1相關值比所述關注區域相關值小,
所述第2相關值比所述第1相關值小,
所述校正工序是,將所述各感應區域依序分配在所述關注區域,將所述關注區域的探測值和所述關注區域相關值的相乘值,所述各第1感應區域的探測值和所述第1相關值的各相乘值,所述各第2感應區域的探測值和所述第2相關值的各相乘值相加,從而計算所述關注區域的相關校正值。
6.根據權利要求1至3中任一項所述的觸控面板的觸摸位置探測方法,其特征在于,
在所述校正工序中,使所述復數個感應區域中位于所述觸摸面端部邊緣的感應區域的所述相關校正值與在所述位于端部邊緣的感應區域的內側相鄰的感應區域的所述相關校正值相等。
7.一種觸控面板檢測方法,包含:
觸摸處理工序,在設定有二維坐標的觸摸面上以網格形狀配置有復數個感應區域的觸控面板的所述觸摸面上,接觸1個或復數個模擬手指;
觸摸位置探測工序,對所述觸控面板執行權利要求1至6中任一項記載的觸控面板的觸摸位置探測方法;以及
判斷工序,對于通過所述觸摸位置探測工序探測的1個或復數個觸摸位置與在所述觸摸處理工序中所述1個或復數個模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個或復數個接觸位置之間的各偏差量,判斷是否至少有一個超過預先設定的基準量。
8.一種觸控面板檢測裝置,包含:
觸摸機構,在設定有二維坐標的觸摸面上以網格形狀配置有復數個感應區域的觸控面板的所述觸摸面上,接觸1個或復數個模擬手指;
觸摸位置探測部,對所述觸控面板執行權利要求1至6中任一項記載的觸控面板的觸摸位置探測方法;以及
判定部,對于通過所述觸摸位置探測部探測的1個或復數個觸摸位置與通過所述觸摸機構所述1個或復數個模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個或復數個接觸位置之間的各偏差量,判斷是否至少有一個超過預先設定的基準量。
9.一種觸控面板檢測裝置,包含:
觸摸機構,在設定有二維坐標的觸摸面上以網格形狀配置有復數個感應區域的觸控面板的所述觸摸面上,接觸1個或復數個模擬手指;
探測處理部,獲取在所述各感應區域探測到的探測值;
校正部,基于相關值,校正所述各探測值,從而計算與所述各感應區域對應的相關校正值,其中所述相關值是將相鄰于所述各感應區域的其它感應區域的探測值對所述各感應區域的探測值所產生的影響數值化的值;
最大值搜尋部,在所述各相關校正值中搜尋最大值;
觸摸位置獲取部,將對應于所述最大值的感應區域作為最大區域,對包含所述最大區域和相鄰該最大區域之其它感應區域的區域,計算基于所述相關校正值的重心位置,將所述算出的重心位置作為觸摸位置而獲取;以及
判定部,對于通過所述觸摸位置獲取部探測的1個或復數個觸摸位置與通過所述觸摸機構所述1個或復數個模擬手指在所述觸摸面上接觸的1個或復數個接觸位置之間的各偏差量,判斷是否至少有一個超過預先設定的基準量。
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