[發(fā)明專利]存儲器測試裝置與存儲器測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510059674.3
• 申請日: 2015-02-05
• 公開（公告）號: CN104835536B
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蘇錦榮;黃睿夫
• 申請（專利權(quán)）人: 聯(lián)發(fā)科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京萬慧達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11111
• 代理人: 張金芝,代峰

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明有關(guān)于一種存儲器測試裝置，特別是有關(guān)于有效率的存儲器測試方法，通過可調(diào)整的時鐘信號(clock signal)最佳化存儲器測試裝置的時序余量(timing slack)。

背景技術(shù)

圖1A為包括存儲器160的系統(tǒng)10的示意圖，其中存儲器160操作于功能模式或是測試模式。系統(tǒng)10包括邏輯單元110、測試電路120、寄存器(register)142以及存儲器(memory)160。有多條時序路徑(timing path)可存取存儲器160，包括從存儲器160的原始時鐘信號CK到存儲器160的輸出DO的第一時序路徑TP1、從存儲器160的輸出DO經(jīng)過邏輯單元110到寄存器142的第二時序路徑TP2、以及從存儲器160的輸出DO到測試電路120的第三時序路徑TP3。當(dāng)存儲器160被存取或操作于一般操作的功能模式時，則功能模式的對應(yīng)時序路徑為第一時序路徑TP1與第二時序路徑TP2。當(dāng)存儲器160被存取或操作于測試模式時，則測試模式的對應(yīng)時序路徑為第一時序路徑TP1與第三時序路徑TP3。

詳細(xì)而言，測試主要依賴于第二時序路徑TP2與第三時序路徑TP3的時序余裕(timing margin)，特別是當(dāng)?shù)谝粫r序路徑TP1有延遲或錯誤時。然而，如果第三時序路徑TP3的時序余裕比第二時序路徑TP2的時序余裕更大或是更寬松，就會造成測試電路120的正確性與可靠度的劣化。舉例而言，一方面，當(dāng)存儲器160處于測試模式時，其測試結(jié)果通常是成功的。但是另一方面，當(dāng)存儲器160處于功能模式時，實際性能或結(jié)果卻是失敗的。因此，需要一種更好的存儲器測試方法，降低第二時序路徑TP2與第三時序路徑TP3之間的時序余裕的差距，增進(jìn)存儲器測試的正確性與可靠度。

各種測試裝置或方法已被使用于測試存儲器160的時序路徑與性能，例如被廣泛使用的自動測試模式產(chǎn)生系統(tǒng)(Automatic Test Pattern Generation,ATPG)。當(dāng)存儲器160存取或操作于ATPG的全速測試(at-speed testing)，則關(guān)鍵存取會應(yīng)用在存儲器160。由于關(guān)鍵路徑(critical path)是從位線的預(yù)充電到下一個存取循環(huán)，如果預(yù)充電位線(bit line)至預(yù)定電壓位準(zhǔn)(pre-determined voltage level)的關(guān)鍵路徑太緊的話，則存儲器160的輸出DO可能會發(fā)生一些錯誤。此外，ATPG的測試模組的尺寸非常大。因此，ATPG的測試流程沒有效率并且耗費(fèi)太多時間與費(fèi)用，需要另一種高效率與低成本的存儲器測試方法。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種存儲器測試裝置與存儲器測試方法。

依據(jù)本發(fā)明一實施方式，提供一種存儲器測試裝置，用以測試存儲器，包括：測試電路，耦接于所述存儲器以測試所述存儲器的性能；以及寄存器，耦接于所述測試電路，并且測試時鐘信號輸入至所述寄存器，其中所述測試時鐘信號不同于所述存儲器及/或所述測試電路的原始時鐘信號，并且所述測試時鐘信號用以調(diào)整所述存儲器測試裝置閂鎖來自所述存儲器的資料的時間，以降低所述存儲器測試裝置的時序余量。

依據(jù)本發(fā)明另一實施方式，提供一種存儲器測試方法，用以測試存儲器，包括：產(chǎn)生寄存器的測試時鐘信號以測試所述存儲器的性能，其中所述測試時鐘信號不同于所述存儲器及/或存儲器測試裝置的原始時鐘信號；調(diào)整所述存儲器測試裝置閂鎖來自所述存儲器的資料的時間，以降低所述存儲器測試裝置的時序余量。

依據(jù)本發(fā)明又一實施方式，提供一種存儲器測試方法，用以測試存儲器，包括：產(chǎn)生用于存儲器測試裝置的測試時鐘信號，以執(zhí)行所述存儲器的測試模式，并且所述測試時鐘信號不同于所述存儲器的原始時鐘信號；通過調(diào)節(jié)所述測試時鐘信號而控制所述存儲器測試裝置的余裕，使得所述測試模式的余裕約等于或小于操作于所述存儲器的功能模式的余裕。

本發(fā)明所提供的存儲器測試裝置與存儲器測試方法，具有更佳的正確性與可靠度。

對于已經(jīng)閱讀后續(xù)由各附圖及內(nèi)容所顯示的較佳實施方式的本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明的各目的是明顯的。

附圖說明

圖1A為包括操作于功能模式或測試模式的存儲器的系統(tǒng)的示意圖；

圖1B為依據(jù)本發(fā)明實施例所提供的存儲器與存儲器測試裝置的示意圖；

圖1C為依據(jù)本發(fā)明實施例所提供的存儲器與存儲器測試裝置的另一種示意圖；

圖2為依據(jù)本發(fā)明實施例所提供的時鐘調(diào)整電路的示意圖；