[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器測(cè)試裝置與存儲(chǔ)器測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510059674.3
• 申請(qǐng)日: 2015-02-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104835536B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘇錦榮;黃睿夫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 聯(lián)發(fā)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/56
• 分類號(hào): G11C29/56
• 代理公司: 北京萬(wàn)慧達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11111
• 代理人: 張金芝,代峰

1.一種存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，用以在所述存儲(chǔ)器操作于測(cè)試模式下時(shí)通過(guò)包括測(cè)試電路和寄存器的第一時(shí)序路徑測(cè)試存儲(chǔ)器，其中：

所述測(cè)試電路，耦接于所述存儲(chǔ)器以測(cè)試所述存儲(chǔ)器的性能；以及

所述寄存器，耦接于所述測(cè)試電路，并且測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)輸入至所述寄存器，其中所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)不同于所述存儲(chǔ)器及/或所述測(cè)試電路的原始時(shí)鐘信號(hào)，并且所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)用以調(diào)整所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置閂鎖來(lái)自所述存儲(chǔ)器的資料的時(shí)間，以降低所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的時(shí)序余量，以使所述測(cè)試裝置的時(shí)序余量等于或小于所述存儲(chǔ)器操作于功能模式下的時(shí)序余量；

其中，在所述功能模式下，通過(guò)不同于所述第一時(shí)序路徑的第二時(shí)序路徑存取所述存儲(chǔ)器。

2.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置還包括時(shí)鐘調(diào)整電路，用以調(diào)整所述原始時(shí)鐘信號(hào)以得到所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)。

3.如權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置還包括耦接于所述時(shí)鐘調(diào)整電路的多工器，所述多工器接收并多工所述時(shí)鐘調(diào)整電路所輸出的信號(hào)、第一外部時(shí)鐘信號(hào)、以及至少一第二外部時(shí)鐘信號(hào)以獲得所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)，其中所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)不同于所述原始時(shí)鐘信號(hào)，所述至少一第二外部時(shí)鐘信號(hào)不同于所述原始時(shí)鐘信號(hào)以及所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)。

4.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)為來(lái)自不同于所述原始時(shí)鐘信號(hào)的第一外部時(shí)鐘信號(hào)。

5.如權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置還包括多工器，所述多工器接收并多工所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)以及至少一第二外部時(shí)鐘信號(hào)以獲得所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)，其中所述至少一第二外部時(shí)鐘信號(hào)不同于所述原始時(shí)鐘信號(hào)以及所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)。

6.如權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置還包括時(shí)鐘調(diào)整電路，用以調(diào)整所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)以得到所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)。

7.如權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述時(shí)鐘調(diào)整電路調(diào)整所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)以及至少一第二外部時(shí)鐘信號(hào)以得到所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)，其中所述至少一第二外部時(shí)鐘信號(hào)不同于所述原始時(shí)鐘信號(hào)以及所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)。

8.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路耦接于所述存儲(chǔ)器以及所述寄存器之間，或所述寄存器耦接于所述存儲(chǔ)器以及所述測(cè)試電路之間。

9.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路以金數(shù)值比較來(lái)自所述存儲(chǔ)器的所述資料，以檢測(cè)來(lái)自所述存儲(chǔ)器的所述資料的正確性，并且所述寄存器儲(chǔ)存所述測(cè)試電路所輸出的所述資料，其中，所述金數(shù)值可以是驗(yàn)證用的預(yù)設(shè)數(shù)值、或是上一次存取所述存儲(chǔ)器的操作循環(huán)所產(chǎn)生的數(shù)值。

10.一種存儲(chǔ)器測(cè)試方法，其特征在于，用以在所述存儲(chǔ)器操作于測(cè)試模式下時(shí)通過(guò)第一時(shí)序路徑測(cè)試存儲(chǔ)器，包括：

為設(shè)置于所述第一時(shí)序路徑中的寄存器產(chǎn)生寄存器的測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)以測(cè)試所述存儲(chǔ)器的性能，其中所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)不同于所述存儲(chǔ)器及/或存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的原始時(shí)鐘信號(hào)；

通過(guò)所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)調(diào)整所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置閂鎖來(lái)自所述存儲(chǔ)器的資料的時(shí)間，以降低所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的時(shí)序余量，以使所述測(cè)試裝置的時(shí)序余量等于或小于所述存儲(chǔ)器操作于功能模式下的時(shí)序余量；

其中，在所述功能模式下，通過(guò)不同于所述第一時(shí)序路徑的第二時(shí)序路徑存取所述存儲(chǔ)器。

11.如權(quán)利要求10所述的存儲(chǔ)器測(cè)試方法，其特征在于，所述產(chǎn)生寄存器的測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)的步驟還包括調(diào)整所述原始時(shí)鐘信號(hào)以得到所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)。

12.如權(quán)利要求10所述的存儲(chǔ)器測(cè)試方法，其特征在于，還包括從不同于所述原始時(shí)鐘信號(hào)的第一外部時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)。

13.如權(quán)利要求12所述的存儲(chǔ)器測(cè)試方法，其特征在于，還包括調(diào)整所述第一外部時(shí)鐘信號(hào)以得到所述測(cè)試時(shí)鐘信號(hào)。