[發明專利]檢測半圓孔直徑和深度的檢具及第一、第二、第三子檢具

有效

• 申請號: 201510057735.2
• 申請日: 2015-02-04
• 公開（公告）號: CN104677240B
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發明（設計）人: 蔣靜靜;廖祖明;嚴建華;李琴;羅代富
• 申請（專利權）人: 重慶長安汽車股份有限公司
• 主分類號: G01B5/12
• 分類號: G01B5/12;G01B5/18
• 代理公司: 重慶華科專利事務所 50123
• 代理人: 康海燕;譚小琴

1.一種檢測半圓孔直徑和深度的檢具，其特征在于：包括第一子檢具、第二子檢具和第三子檢具；

所述第一子檢具包括第一基體（1）以及連接在第一基體（1）中部的第一測量體（2），該第一基體（1）在朝向第一測量體（2）的兩側肩上分別設有第一刀口（1a），第一測量體（2）整體呈近似半圓體，其與第一基體（1）連接的一端為平面，另一端為半圓弧面，且第一測量體（2）的直徑為被測半圓孔（9a）直徑的極小值d，高度為被測半圓孔（9a）深度的極大值c；

所述第二子檢具包括第二基體（5）以及連接在第二基體（5）中部的第二測量體（6），第二測量體（6）整體呈近似半圓體，其與第二基體（5）連接的一端為平面，另一端為半圓弧面，在半圓弧面上設有第二刀口（6a），且第二測量體（6）的直徑為被測半圓孔（9a）直徑的極小值d，高度為被測半圓孔（9a）深度的極小值e；

所述第三子檢具包括第三基體（7）以及連接在第三基體（7）中部的第三測量體（8），第三測量體（8）整體呈近似半圓體，其與第三基體（7）連接的一端為平面，另一端為半圓弧面，在半圓弧面的中部設有第三刀口（8a），第三測量體（8）的直徑為被測半圓孔（9a）直徑的極大值f，高度為被測半圓孔（9a）深度的極大值c。

2.根據權利要求1所述的檢測半圓孔直徑和深度的檢具，其特征在于：還包括連接體（4），該連接體（4）具有三個端部，三個端部分別與第一基體（1）的中部、第二基體（5）的中部以及第三基體（7）的中部一一對應連接；并在第一基體（1）、第二基體（5）以及第三基體（7）上設有對應測量功能的標識。

3.一種第一子檢具，其特征在于：包括第一基體（1）以及連接在第一基體（1）中部的第一測量體（2），該第一基體（1）在朝向第一測量體（2）的兩側肩上分別設有第一刀口（1a），第一測量體（2）整體呈近似半圓體，其與第一基體（1）連接的一端為平面，另一端為半圓弧面，且第一測量體（2）的直徑為被測半圓孔（9a）直徑的極小值d，高度為被測半圓孔（9a）深度的極大值c。

4.一種第二子檢具，其特征在于：包括第二基體（5）以及連接在第二基體（5）中部的第二測量體（6），第二測量體（6）整體呈近似半圓體，其與第二基體（5）連接的一端為平面，另一端為半圓弧面，在半圓弧面上設有第二刀口（6a），且第二測量體（6）的直徑為被測半圓孔（9a）直徑的極小值d，高度為被測半圓孔（9a）深度的極小值e。

5.一種第三子檢具，其特征在于：包括第三基體（7）以及連接在第三基體（7）中部的第三測量體（8），第三測量體（8）整體呈近似半圓體，其與第三基體（7）連接的一端為平面，另一端為半圓弧面，在半圓弧面的中部設有第三刀口（8a），且第三測量體（8）的直徑為被測半圓孔（9a）直徑的極大值f，高度為被測半圓孔（9a）深度的極大值c。