[發(fā)明專利]測(cè)試裝置、校正器件、校正方法及測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510056916.3
• 申請(qǐng)日: 2015-02-03
• 公開（公告）號(hào): CN104898037A
• 公開（公告）日: 2015-09-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 増?zhí)锷?/a>;原英生;安高剛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 愛德萬測(cè)試株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 深圳新創(chuàng)友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置、校正器件、校正方法及測(cè)試方法。

背景技術(shù)

以往，測(cè)試CPU(Central?Processing?Unit，中央處理器)、存儲(chǔ)器等被測(cè)器件的測(cè)試裝置具備光接口等，對(duì)具備光接口的被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試(例如參照專利文獻(xiàn)1、2及非專利文獻(xiàn))。

專利文獻(xiàn)1：日本專利特開2006-220660號(hào)公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：國際公開第2007-013128號(hào)

非專利文獻(xiàn)：Ian?A.Young,et?al.,“Optical?I/O?Technology?for?Tera-Scale?Computing”,IEEE?Journal?of?Solid-State?Circuits,January?2010,Vol.45,No.1,pp.235-248

發(fā)明內(nèi)容

[發(fā)明要解決的問題]

如果要測(cè)試這種具備光接口的被測(cè)器件，就要向該被測(cè)器件輸出光信號(hào)，而且要檢測(cè)與光信號(hào)對(duì)應(yīng)的光響應(yīng)信號(hào)，因此必須具備光通信用的光測(cè)定器等。在這種測(cè)試裝置中，當(dāng)測(cè)試多個(gè)被測(cè)器件時(shí)，就要對(duì)應(yīng)于多個(gè)被測(cè)器件具備多個(gè)光測(cè)定器等，或者在每次執(zhí)行測(cè)試時(shí)更換被測(cè)器件，從而招致耗費(fèi)成本及工夫的狀況。而且，在測(cè)試收發(fā)電信號(hào)及光信號(hào)的被測(cè)器件時(shí)，難以分開判定收發(fā)光信號(hào)的光接口的連接狀態(tài)的好壞以及被測(cè)器件的好壞。

[解決問題的手段]

本發(fā)明的第一形態(tài)中提供一種測(cè)試裝置及測(cè)試方法，該測(cè)試裝置包括：光測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生部，產(chǎn)生光測(cè)試信號(hào)；光信號(hào)供給部，將光測(cè)試信號(hào)供給至多個(gè)被測(cè)器件中的測(cè)試對(duì)象的被測(cè)器件；第一光開關(guān)部，在多個(gè)被測(cè)器件輸出的光信號(hào)中選擇由測(cè)試對(duì)象的被測(cè)器件輸出的光信號(hào)；以及光信號(hào)接收部，接收所選擇的光信號(hào)。

本發(fā)明的第二形態(tài)中提供一種校正器件及校正方法，該校正器件校正測(cè)試裝置，包括：電信號(hào)傳輸部，經(jīng)由電接口部接收從測(cè)試裝置供給的電測(cè)試信號(hào)，并經(jīng)由電接口部將該電測(cè)試信號(hào)傳輸給電信號(hào)接收部；以及光信號(hào)傳輸部，從光信號(hào)供給部接收從測(cè)試裝置供給的光信號(hào)，并將該光信號(hào)傳輸給第一光開關(guān)部。

另外，所述發(fā)明內(nèi)容并未列舉出本發(fā)明的全部可能特征。而且，所述特征組的子組合也有可能構(gòu)成發(fā)明。

附圖說明

圖1將本實(shí)施方式的測(cè)試裝置100的結(jié)構(gòu)例與被測(cè)器件10共同表示。

圖2表示本實(shí)施方式的測(cè)試裝置100的動(dòng)作流程。

圖3表示本實(shí)施方式的第一檢測(cè)部280的結(jié)構(gòu)例。

圖4表示本實(shí)施方式的第一檢測(cè)部280的變形例。

圖5將本實(shí)施方式的校正測(cè)試裝置100的校正器件500的結(jié)構(gòu)例與該測(cè)試裝置100共同表示。

[符號(hào)的說明]

10???被測(cè)器件

12???光輸入部

14???光輸出部

16???輸入端子

18???輸出端子

22???光電轉(zhuǎn)換部

24???電光轉(zhuǎn)換部

100??測(cè)試裝置

110??電測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生部

120??電接口部

130??電信號(hào)接收部

210??光測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生部

220??光接口部

230??光信號(hào)供給部

240??第一光開關(guān)部

250??第二光開關(guān)部

260??第三光開關(guān)部

270??光信號(hào)接收部

280??第一檢測(cè)部

282??第二檢測(cè)部

284??第一光強(qiáng)度測(cè)定器

286??第一分支耦合器

290??光強(qiáng)度變更部

310??測(cè)試控制部

322??第二分支耦合器

324??濾波部

326??第二光強(qiáng)度測(cè)定器

500??校正器件

510??電信號(hào)傳輸部

520??光信號(hào)傳輸部

具體實(shí)施方式

以下，通過發(fā)明的實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說明，但以下實(shí)施方式并非對(duì)權(quán)利要求書所涉及的發(fā)明進(jìn)行限定。并且，實(shí)施方式中說明的特征組合也并非全部為本發(fā)明的必要解決手段。