[發明專利]測試裝置、校正器件、校正方法及測試方法

在審

• 申請號: 201510056916.3
• 申請日: 2015-02-03
• 公開（公告）號: CN104898037A
• 公開（公告）日: 2015-09-09
• 發明（設計）人: 増田伸;原英生;安高剛
• 申請（專利權）人: 愛德萬測試株式會社
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀純

1.一種測試裝置，包括：

光測試信號產生部，產生光測試信號；

光信號供給部，將所述光測試信號供給至多個被測器件中的測試對象的被測器件；

第一光開關部，在所述多個被測器件所輸出的光信號中選擇由所述測試對象的被測器件輸出的光信號；及

光信號接收部，接收所選擇的所述光信號。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其包括第二光開關部，所述第二光開關部切換將來自所述第一光開關的由所述測試對象的被測器件輸出的光信號與所述光測試信號中的哪一個供給至所述測試對象的被測器件。

3.根據權利要求2所述的測試裝置，其包括第三光開關部，所述第三光開關部切換將來自所述第一光開關的由所述測試對象的被測器件輸出的光信號供給至所述光信號接收部與所述第二光開關部中的哪一個。

4.根據權利要求1所述的測試裝置，其包括第一檢測部，所述第一檢測部分別檢測由所述多個被測器件輸出的光信號的光強度。

5.根據權利要求4所述的測試裝置，其中所述第一檢測部包含：

分支耦合器，對所輸入的光信號進行分支；

第一光強度測定部，對所述分支耦合器分支后形成的一路的光信號的強度進行測定；

濾波部，使所述分支耦合器分支后形成的另一路的光信號中預先規定的波段的光信號通過；及

第二光強度測定部，對已通過所述濾波部的光信號的強度進行測定。

6.根據權利要求1所述的測試裝置，其包括第二檢測部，所述第二檢測部檢測從所述光信號供給部輸出的光信號的光強度。

7.根據權利要求1所述的測試裝置，其還包括光強度變更部，所述光強度變更部變更從所述光信號供給部輸出的光信號的光強度。

8.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述光信號供給部包含光開關，所述光開關在所述多個被測器件中選擇所述測試對象的被測器件，并使由所述光測試信號產生部輸出的光測試信號輸入。

9.根據權利要求1至7中任一項所述的測試裝置，其中所述光信號供給部包含光耦合器，所述光耦合器對由所述光測試信號產生部輸出的光測試信號進行分支，并使其輸入至所述測試對象的被測器件。

10.根據權利要求1所述的測試裝置，其還包括：

電測試信號產生部，產生測試所述多個被測器件的電測試信號；

電接口部，將所述電測試信號分別供給至所述多個被測器件，并且接收由所述多個被測器件輸出的電信號并分別輸出；及

電信號接收部，接收所述電信號。

11.根據權利要求10所述的測試裝置，其對被測器件進行測試，所述被測器件包括將光信號轉換為電信號的多個光電轉換部及將電信號轉換為光信號的多個電光轉換部，

所述第一光開關部接收由所述被測器件的一個或多個電光轉換部根據由所述電測試信號產生部供給的電測試信號所輸出的光信號，并將所接收到的所述光信號供給至所述光信號供給部；

所述光信號供給部將該光信號作為光測試信號供給至所述測試對象的被測器件。

12.一種校正器件，對權利要求10或11所述的測試裝置進行校正，包括：

電信號傳輸部，經由所述電接口部接收從所述電測試信號產生部供給的電測試信號，并經由所述電接口部將該電測試信號傳輸給所述電信號接收部；及

光信號傳輸部，經由所述光信號供給部接收從所述光測試信號產生部供給的光測試信號，并經由所述第一光開關部將該光信號傳輸給所述光信號接收部。

13.一種校正方法，是通過權利要求12所述的校正器件校正所述測試裝置的方法，包括：

電信號傳輸步驟，經由所述校正器件將從所述電測試信號產生部供給的電測試信號傳輸給所述電信號接收部；及

光信號傳輸步驟，經由所述校正器件將從所述光測試信號產生部供給的光測試信號傳輸給所述光信號接收部。

14.一種測試方法，包括：

光測試信號產生步驟，產生光測試信號；

光信號供給步驟，將所述光測試信號供給至多個被測器件中的測試對象的被測器件；

選擇步驟，在由所述多個被測器件輸出的光信號中選擇由所述測試對象的被測器件輸出的光信號；及

光接收步驟，接收所選擇的所述光信號。