[發明專利]一種三維云紋干涉儀及材料表面測量方法有效
| 申請號: | 201510056770.2 | 申請日: | 2015-02-04 |
| 公開(公告)號: | CN104713489B | 公開(公告)日: | 2017-10-31 |
| 發明(設計)人: | 陸鵬;張慶;劉張超;邱愛華;陳原偉;龔禮東;孫偉;周唯 | 申請(專利權)人: | 中國船舶重工集團公司第七一一研究所 |
| 主分類號: | G01B11/16 | 分類號: | G01B11/16 |
| 代理公司: | 北京理工大學專利中心11120 | 代理人: | 楊志兵,仇蕾安 |
| 地址: | 201108 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 三維 干涉儀 材料 表面 測量方法 | ||
1.一種三維云紋干涉儀,包括:光源(1)、光路提升機構(2)、擴束器、三維云紋儀本體(4)、試件平臺(5)、相位及其控制系統(6)、圖像采集及處理系統(8);
其特征在于,三維云紋儀本體(4)包括非球面鏡、全反射鏡M1、M1'、M2、M2'、K1、K1'、K2、K2'、M3、輸出全反射鏡、分光棱鏡以及成像屏;
光源(1)發出的激光經光路提升機構(2)實現光路提升;提升后的光路到達擴束器實現擴束,形成錐形擴束光;
在擴束器后方放置三維云紋本體(4);其中擴束器的中心點與非球面鏡的焦點重合,擴束光經過非球面鏡形成準直光,全反射鏡M1、M1'、M2、M2'、K1、K1'、K2、K2'布置在非球面鏡后面,全反射鏡M1、M1'、M2、M2'放置方向與水平成45°角,全反射鏡M1、M2、M1'、M2'依次上下左右均勻布置第一圓周上,K1、K2、K1'、K2'全反射鏡依次上下左右均勻布置在第二圓周上,第一圓周的圓周直徑大于第二圓周的直徑,第一圓周與第二圓周的圓心重合,且圓心過非球面鏡的中心光軸,同時兩個圓周所在的平面與非球面鏡的中心光軸垂直;準直光到達全反射鏡M1、M2被反射后形成兩束光,并再次到全反射鏡K1、K2上進行二次反射,形成兩束對稱光在光柵試件表面干涉;準直光到達全反射鏡M1'、M2'被反射后形成兩束光,并再次到全反射鏡K1'、K2'上進行二次反射,形成兩束對稱光在光柵試件表面干涉;
分光棱鏡和輸出全反射鏡位于全反射鏡M1、M1'、M2、M2'、K1、K1'、K2、K2'的后面,其中心位于非球面鏡的中心光軸上,但非同時使用,輸出全反射鏡、分光棱鏡的斜面與水平方向成45°角放置;分光棱鏡和輸出全反射鏡正上方放置全反射鏡M3,水平放置;分光棱鏡和輸出全反射鏡正下方放置成像屏,水平放置;全反射鏡M1、M2、K1、K2以及輸出全反射鏡組成V場云紋測量鏡組,全反射鏡M1'、M2'、K1'、K2'以及輸出全反射鏡組成U場云紋測量鏡組,分光棱鏡、全反射鏡M3組成W場云紋測量鏡組;
分光棱鏡和輸出全反射鏡后方放置試件平臺(5),試件平臺(5)豎直放置,與非球面鏡中心光軸垂直,將光柵轉移在被測材料表面,形成光柵試件置于試件平臺(5)上,圖像采集與處理系統(8)從成像屏上采集干涉條紋圖像并進行處理;
所述相位及其控制系統(6)由相移器驅動電源及3個PZT相移器構成,3個相移器分別設在全反射鏡M3、K1、K1'上,用于對反射光進行相移;
針對每個需要角度調節的全反射鏡,設置角度調節組件,包括:全反射鏡固定框(9)、帶有刻度的轉盤(10)、蝸輪(11)和蝸桿(12);蝸輪(11)和蝸桿(12)組成垂直轉動元件,帶有刻度的轉盤(10)固定在蝸輪(11)上,全反射鏡固定框(9)固定在帶有刻度的轉盤(10)上,需要調節的全反射鏡固定全反射鏡固定框(9)上。
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