[發(fā)明專利]一種測定錫樣中雜質(zhì)含量的分析方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510052885.4 | 申請日: | 2015-02-02 |
| 公開(公告)號: | CN104677883A | 公開(公告)日: | 2015-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周莉;李曉桂;呂皓;趙會峰;王業(yè)興;吳清健 | 申請(專利權(quán))人: | 海南中航特玻科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/71 | 分類號: | G01N21/71 |
| 代理公司: | 洛陽明律專利代理事務(wù)所 41118 | 代理人: | 智宏亮 |
| 地址: | 571924 海南省老*** | 國省代碼: | 海南;66 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測定 錫樣中 雜質(zhì) 含量 分析 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于測試分析技術(shù)領(lǐng)域,主要涉及一種測定錫樣中雜質(zhì)含量的分析方法。
背景技術(shù)
????在浮法玻璃生產(chǎn)的過程中,沾錫、虹彩等在錫槽內(nèi)產(chǎn)生的缺陷也是浮法玻璃成形過程中很容易產(chǎn)生的一類缺陷,純凈的錫液與玻璃液幾乎不浸潤,不會粘在玻璃板上,當錫液中含有鎂、鋁等雜質(zhì)元素時,錫液的表面張力會發(fā)生變化,產(chǎn)生沾錫現(xiàn)象,而虹彩產(chǎn)生的原因是由于錫槽內(nèi)的微量錫氧化物和錫硫化物滲入玻璃,在鋼化或熱彎時,會在玻璃的錫面產(chǎn)生微小裂紋,從而在光照下形成虹彩。為減少錫的氧化及把氧化錫還原為金屬錫,生產(chǎn)上常常會在錫液中加入一定量的金屬鐵,使之把氧化錫還原為金屬錫或優(yōu)先與氧、硫等雜質(zhì)生成浮渣而清除,因此準確測定錫樣中各雜質(zhì)元素的含量,控制錫液的純度,對減少玻璃滲錫和錫缺陷的產(chǎn)生尤為重要。
???目前有行業(yè)標準《YS/T36.2-2011》高純錫化學(xué)分析方法?第3部分:鎂、鋁、鈣、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、銀、銦、金、鉛、鉍量的測定?電感耦合等離子體質(zhì)譜法,該方法適用于錫純度為(99.999%)的測定,而在實際生產(chǎn)過程中,時常加入一定量的鐵,從而使錫的純度在不斷發(fā)生變化。
在錫及其合金雜質(zhì)元素的測定方法中,分光光度法、原子吸收法、化學(xué)滴定法等方法均有使用,分光光度法干擾嚴重、不易掩蔽;原子吸收法單元素測定、線性范圍短、費時;若采用化學(xué)法進行分析,則不同元素需用不同方法,操作冗長繁雜,工作量大,分析過程中還需要多種試劑,配置多種溶液等經(jīng)過一系列繁雜的工作才能完成。
????電感耦合等離子發(fā)射光譜儀是以電感耦合等離子體作為激發(fā)源,為原子發(fā)射光譜分析領(lǐng)域中最主要的、應(yīng)用最為廣泛的分析光源,可以測定70多種金屬元素,廣泛適用于冶金、地質(zhì)、環(huán)境、石油、化工、材料等領(lǐng)域,可以進行定性、半定量、定量分析。且分析速度快、靈敏度高、線性范圍寬、檢出限低、基體效應(yīng)小等特點,但是電感耦合等離子發(fā)射光譜儀用于玻璃行業(yè)錫樣中雜質(zhì)元素的測定還沒有先例。利用等離子體發(fā)生光譜儀測定錫樣中的雜質(zhì)元素要確定以下幾點:(1)樣品的處理過程中所要考慮的因素。(2)儀器條件的選擇,針對所要測定的雜質(zhì)元素選擇需要選定的譜線。(3)在方法建立以后,如何驗證方法的準確性。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的目的是提出一種測定錫樣中雜質(zhì)含量的分析方法。
本發(fā)明為完成上述目的采用如下技術(shù)方案:
一種測定錫樣中雜質(zhì)含量的分析方法,所述分析方法所測的雜質(zhì)為Fe、Cu、Ni、Cr、Ti、Mg、Al和Mn;其具體步驟如下:
試樣溶液的制備:將待測錫樣清潔,干燥待用,稱取0.1g錫樣于50ml聚四氟燒杯中,向聚四氟燒杯中加入6ml的鹽酸與2ml的硝酸,然后將聚四氟燒杯放置在電熱板上在100~200度的低溫狀態(tài)下處理,使錫樣溶解完全,再向聚四氟燒杯中加入6ml的鹽酸與2ml的硝酸,濃縮體積至球狀,取下冷卻,用電阻率范圍在15~18.3MΩ.cm的超純水稀釋,轉(zhuǎn)入50ml聚乙烯容量瓶,再用超純水定容至刻度,制得試樣溶液;
空白溶液的制備:在50ml空聚四氟燒杯中,加入6ml的鹽酸與2ml的硝酸,然后將聚四氟燒杯放置在電熱板上在100~200度低溫狀態(tài)下處理,使溶液溶解完全,再向聚四氟燒杯中加入6ml的鹽酸與2ml的硝酸,濃縮體積至球狀,取下冷卻,用電阻率范圍在15~18.3MΩ.cm的超純水稀釋,轉(zhuǎn)入50ml聚乙烯容量瓶,再用超純水定容至刻度,制得空白溶液;
標準溶液的制備:取樣量在0.09g?~?5g范圍內(nèi),按照由多到少的順序,依次取含有Fe、Cu、Ni、Cr、Ti、Mg、Al、Mn元素的混合標準溶液,用萬分之一分析天平準確稱重,分別加入到50ml聚乙烯容量瓶中,用2.5mol/L鹽酸溶液稀釋定容至刻度,得到一系列不同濃度的溶液;
?設(shè)置電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的工作參數(shù),在待測元素的線庫中選擇用于測定的譜線,輸入各個標準溶液對應(yīng)的濃度值,在電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀上測定標準溶液的光譜強度值,建立光譜強度-元素濃度對應(yīng)關(guān)系的標準工作曲線;然后在電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀上測定空白溶液和試樣溶液的光譜強度,扣除空白溶液的光譜強度背景,儀器自動根據(jù)標準工作曲線的對應(yīng)關(guān)系計算出錫樣中雜質(zhì)元素的百分含量。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





