[發(fā)明專利]CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510048223.X | 申請(qǐng)日: | 2015-01-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104600026A | 公開(公告)日: | 2015-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮光建;張文奇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海海頌知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31258 | 代理人: | 任益 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市菱*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | cis 產(chǎn)品 tsv 底部 pad 表面 絕緣 刻蝕 方法 | ||
1.一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于:其包括以下步驟:
(1)、在晶圓背表面沉積第一絕緣層;
(2)、通過黃光和蝕刻工藝刻蝕出TSV孔;
(3)、在TSV孔內(nèi)和第一上沉積第二絕緣層;
(4)、對(duì)開TSV孔的一面進(jìn)行整面刻蝕,將孔內(nèi)PAD上面絕緣層去除。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,所述第一絕緣層和所述第二絕緣層為具有絕緣能力的無機(jī)氧化物或者有機(jī)絕緣物質(zhì)膜。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,所述無機(jī)氧化物為氧化物、氮化物、氮氧化物、碳化物。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,所述絕緣物質(zhì)膜為涂布光阻、電泳漆、高分子薄膜、干膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,步驟(2)中,黃光工藝包括光阻涂布、曝光顯影工藝,刻蝕采用干法刻蝕。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,步驟(4)中,整面刻蝕為干法刻蝕。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,第一絕緣層的刻蝕速率與晶圓體的刻蝕速率一致。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一所述的一種CIS產(chǎn)品TSV孔底部PAD表面絕緣層的刻蝕方法,其特征在于,第一絕緣層與第二絕緣層采用不同的材料。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司,未經(jīng)華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510048223.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種微型智能卡及封裝方法
- 下一篇:一種基板烘烤支承裝置
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 一種紙幣鑒別的3CIS圖像檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種紙幣鑒別的2CIS圖像檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種點(diǎn)鈔機(jī)中變色油墨識(shí)別裝置的驅(qū)動(dòng)電路
- CIS器件電氣故障分析測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種單CIS鈔票處理裝置
- 接觸式圖像傳感器CIS前置的金融票據(jù)鑒偽識(shí)別裝置
- 一種基于迭代算法的鈔票圖像采集系統(tǒng)及其校準(zhǔn)方法
- 一種基于IEC61970標(biāo)準(zhǔn)的CIS服務(wù)保持方法及CIS服務(wù)器
- 一種CIS相機(jī)及基于CIS相機(jī)的圖像處理方法
- 一種CIS芯片的探測(cè)系統(tǒng)及其探測(cè)方法
- 半導(dǎo)體裝置和層疊式半導(dǎo)體裝置
- 熱壓鍵合期間用于保護(hù)TSV末端的保護(hù)層
- 一種TSV正面端部互連工藝
- 一種3D集成電路的TSV自動(dòng)插入方法
- 一種帶有IPD的TSV孔結(jié)構(gòu)及其加工方法
- 用于檢測(cè)三維(3D)集成電路(IC)(3DIC)中的硅穿孔(TSV)裂紋的TSV裂紋傳感器以及相關(guān)方法和系統(tǒng)
- 一種基于間隔分組的TSV故障容錯(cuò)方法
- TSV導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及制備方法
- TSV測(cè)試方法及系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于傳導(dǎo)高頻信號(hào)的轉(zhuǎn)接板及其制備方法





