[發(fā)明專利]對特征點采樣的方法、圖像匹配方法和圖像匹配設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510018840.5 | 申請日: | 2015-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN104778682B | 公開(公告)日: | 2019-04-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳哉侖;李準性;樸宰佑 | 申請(專利權(quán))人: | 韓華泰科株式會社 |
| 主分類號: | G06T7/30 | 分類號: | G06T7/30;G06T5/50 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 曾世驍;李云霞 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 特征 采樣 方法 圖像 匹配 設(shè)備 | ||
公開了一種對特征點采樣的方法、圖像匹配方法和圖像匹配設(shè)備。一種對特征點采樣以進行圖像匹配的方法包括:將第一圖像劃分為與將被采樣的特征點的數(shù)量相應(yīng)的多個區(qū)域;從每個區(qū)域提取采樣特征點,使得一個區(qū)域的采樣特征點與另一區(qū)域的采樣特征點之間的距離滿足預(yù)定條件;在提取出的采樣特征點和將與第一圖像匹配的第二圖像的對應(yīng)采樣特征點的基礎(chǔ)上,估計單應(yīng)性矩陣。
本申請要求于2014年1月14日提交到韓國知識產(chǎn)權(quán)局的第10-2014-0004711號韓國專利申請的優(yōu)先權(quán),其中,所述專利申請的公開通過引用全部合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
與示例性實施例一致的方法和設(shè)備涉及對特征點采樣和圖像匹配。
背景技術(shù)
近年來,為了提高在監(jiān)視系統(tǒng)、醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域中對于變化檢測、運動檢測、超分辨率圖像恢復(fù)的算法的準確度和可靠性,已對使用兩個或更多個傳感器來相互融合互補信息的領(lǐng)域進行了研究。
在監(jiān)視系統(tǒng)領(lǐng)域、醫(yī)學(xué)圖像領(lǐng)域等,在通過獲取兩個或更多個圖像來產(chǎn)生一個融合圖像的系統(tǒng)中,需要執(zhí)行圖像匹配(校準)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明構(gòu)思的示例性實施例包括一種隨機采樣方法和使用所述隨機采樣方法的圖像匹配方法,所述隨機采樣方法解決了在用于圖像匹配的隨機采樣處理期間由于特征點的分布是線性的或在特定區(qū)域聚集而產(chǎn)生的問題。
本發(fā)明構(gòu)思的各方面將部分地在隨后的描述中被闡述,部分地,通過描述將是清楚的,或者可通過呈現(xiàn)的實施例的實踐而獲知。
根據(jù)一個或更多個示例性實施例,提供了一種對特征點采樣以進行圖像匹配的方法,所述方法可包括:將第一圖像劃分為與將被采樣的特征點的數(shù)量相應(yīng)的多個區(qū)域;從每個區(qū)域提取采樣特征點,使得一個區(qū)域的采樣特征點與另一區(qū)域的采樣特征點之間的距離滿足預(yù)定條件;在提取出的采樣特征點和將與第一圖像匹配的第二圖像的對應(yīng)采樣特征點的基礎(chǔ)上,估計單應(yīng)性矩陣。
提取一個采樣特征點的步驟可包括:在第一區(qū)域的多個特征點之中提取第一采樣特征點;在與第一采樣特征點相隔第一距離或更長距離的第二區(qū)域中的多個特征點之中,提取第二采樣特征點;在與第二采樣特征點相隔第二距離或更長距離的第三區(qū)域中的多個特征點之中,提取第三采樣特征點;在與第三采樣特征點相隔第三距離或更長距離的第四區(qū)域中的多個特征點之中,提取第四采樣特征點。
提取第三采樣特征點的步驟可包括:在第三區(qū)域中的與第一采樣特征點相隔第一距離或更長距離并且與第二采樣特征點相隔第二距離或更長距離的多個特征點之中,提取第三采樣特征點。
提取第四采樣特征點的步驟可包括:在第四區(qū)域中的與第一采樣特征點相隔第一距離或更長距離并且與第二采樣特征點相隔第二距離或更長距離并且與第三采樣特征點相隔第三距離或更長距離的多個特征點之中,提取第四采樣特征點。
第一距離可比從第一采樣特征點到第一圖像的中心點的距離大,第二距離可比從第二采樣特征點到第一圖像的中心點的距離大,第三距離可比從第三采樣特征點到第一圖像的中心點的距離大。
第一圖像和第二圖像可由同一圖像傳感器或不同的圖像傳感器獲取。
根據(jù)一個或更多個示例性實施例,提供一種圖像匹配方法,所述方法可包括:從第一圖像和將與第一圖像匹配的第二圖像提取多個特征點;在第一圖像的特征點和第二圖像的特征點之中,選擇至少一對應(yīng)特征點對;將第一圖像劃分為與將被采樣的特征點的數(shù)量相應(yīng)的多個區(qū)域;從第一圖像的每個區(qū)域提取采樣特征點,使得一個區(qū)域的采樣特征點與另一區(qū)域的采樣特征點之間的距離滿足預(yù)定條件;在提取出的采樣特征點和第二圖像的對應(yīng)采樣特征點的基礎(chǔ)上,估計單應(yīng)性矩陣。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于韓華泰科株式會社,未經(jīng)韓華泰科株式會社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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