[發明專利]一種檢布機及采用該檢布機的檢布方法有效
| 申請號: | 201510014965.0 | 申請日: | 2015-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN104570490B | 公開(公告)日: | 2018-02-06 |
| 發明(設計)人: | 張超;阮德發;王文浩;周濤慶 | 申請(專利權)人: | 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1337 | 分類號: | G02F1/1337;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司11243 | 代理人: | 許靜,黃燦 |
| 地址: | 230011 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢布機 采用 方法 | ||
技術領域
本發明涉及液晶顯示裝置的摩擦工藝,尤其是指一種檢布機及采用該檢布機的檢布方法。
背景技術
在液晶顯示器的制造中,摩擦工序是必不可少的工藝步驟。如圖1所示的結構示意圖,在摩擦工序中包括采用貼附有絨布類材料摩擦布1的摩擦輥2對涂布有取向劑PI的玻璃基板3表面進行摩擦的步驟,形成配向膜,配向膜表面通過摩擦輥上摩擦布的摩擦而被刷出一定方向排列的溝槽,具有配向液晶的能力,使液晶層的液晶分子依照預定傾角排列。
在上述摩擦工序的步驟中,摩擦布1的品質直接影響工藝配向的品質,然而制成摩擦布1的原材料會有相關不良,需要通過大量的人力物力進行粗檢然后再進行精檢,才能使用。
一般采用人工對摩擦布進行檢查的方式為:用細的剪刀和毛刷分別對摩擦布進行粗檢和精檢,最后放置12小時左右,然后才能將摩擦布粘貼至摩擦輥2上才能進行配向作業。然而通常情況下,人工檢測摩擦布會存在如下的缺陷:
對于微小的棉籽,無法檢出,容易漏檢;
粗檢的時候,作業人員只是用軟毛刷清掃摩擦布邊緣的碎毛,但該方式很容易將碎毛清掃到布毛的縫隙中去,造成二次污染;
較粗大的布頭難以剪掉,如果剪掉的話,周圍好的布毛也容易受到損傷,造成布毛的創傷較大,影響工藝品質;
會耗費大量時間,且人工檢測的方式非常容易觸碰毛面造成毛面的損傷,導致毛向的改變,造成品質不良;
每個作業員的作業手法不一樣,沒有統一的系統標準。
發明內容
本發明技術方案的目的是提供一種檢布機及采用該檢布機的檢布方法,能夠自動完成摩擦布的檢測過程,降低人工檢測成本,縮短檢測時間,且獲得優質的檢測結果。
本發明提供一種檢布機,包括:
用于放置待檢布的機臺;
吸塵結構,設置于所述機臺上方,用于通過吸附方式清除待檢布中的第一異物;
檢測結構,設置于所述機臺上方,用于檢測待檢布中第二異物的位置;
剪刀結構,設置于所述機臺上方,用于通過剪切方式清除待檢布中的第二異物;
第一驅動結構,分別與所述檢測結構和所述剪刀結構連接,用于根據所述檢測結構的檢測結果,驅動所述剪刀結構移動至所述檢測結構所檢測定位的第二異物的位置處。
優選地,上述所述的檢布機,還包括:
第二驅動結構,與所述吸塵結構連接,用于驅動所述吸塵結構在所述機臺上方沿與所述待檢布平行的方向移動。
優選地,上述所述的檢布機,所述第二驅動結構還用于驅動所述吸塵結構在所述機臺上方沿與所述待檢布垂直的方向移動。
優選地,上述所述的檢布機,還包括:
第三驅動結構,與所述檢測結構連接,用于驅動所述檢測結構在所述機臺上方沿與所述待檢布平行的方向移動。
優選地,上述所述的檢布機,所述第三驅動結構還用于驅動所述檢測結構在所述機臺上方沿與所述待檢布垂直的方向移動。
優選地,上述所述的檢布機,還包括:
鋪設于所述機臺上的滑軌;
升降架,相對于所述機臺垂直設置,且所述升降架與所述滑軌配合連接;
支撐架,固定設置于所述升降架上,其中所述吸塵結構、所述檢測結構和所述剪刀結構均設置于所述支撐架上。
優選地,上述所述的檢布機,還包括:用于將待檢布固定于所述機臺上的固定結構。
優選地,上述所述的檢布機,所述固定結構包括真空吸附單元,設置于機臺用于放置待檢布的表面。
優選地,上述所述的檢布機,所述檢測結構包括:
圖像掃描單元,用于獲得待檢布的掃描圖片;
圖像分析單元,用于對所述圖像掃描單元所獲得的掃描圖片進行圖像分析,確定第二異物的定位坐標。
優選地,上述所述的檢布機,還包括:
傳送結構,與所述機臺連接,用于將待檢布傳送至所述機臺上。
優選地,上述所述的檢布機,所述第一驅動結構還用于:驅動所述剪刀結構定位于機臺上方預定高度位置處,并沿預定高度位置進行平移,在平移過程中執行剪切動作,剪除待檢布中高于預定高度的布毛。
本發明還提供一種采用如上所述檢布機的檢布方法,其中所述檢布方法包括:
利用所述吸塵結構通過吸附方式清除待檢布中的第一異物;
利用所述檢測結構檢測待檢布中的第二異物的位置;
根據所述檢測結構的檢測結果,驅動所述剪刀結構移動至所述檢測結構所檢測定位的第二異物的位置處,通過剪切方式清除待檢布中的第二異物。
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