[發明專利]一種檢布機及采用該檢布機的檢布方法

有效

• 申請號: 201510014965.0
• 申請日: 2015-01-12
• 公開（公告）號: CN104570490B
• 公開（公告）日: 2018-02-06
• 發明（設計）人: 張超;阮德發;王文浩;周濤慶
• 申請（專利權）人: 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/1337
• 分類號: G02F1/1337;G01N21/88
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司11243
• 代理人: 許靜,黃燦

1.一種檢布機，其特征在于，包括：

用于放置待檢布的機臺；

吸塵結構，設置于所述機臺上方，用于通過吸附方式清除待檢布中的第一異物；

檢測結構，設置于所述機臺上方，用于當通過所述吸塵結構以吸附方式清除待檢布中的第一異物之后，檢測待檢布中第二異物的位置；

剪刀結構，設置于所述機臺上方，用于通過剪切方式清除待檢布中的第二異物；其中所述第一異物和所述第二異物分別為棉籽或碎毛，且所述第二異物的質量大于所述第一異物的質量；

第一驅動結構，分別與所述檢測結構和所述剪刀結構連接，用于根據所述檢測結構的檢測結果，驅動所述剪刀結構移動至所述檢測結構所檢測定位的第二異物的位置處。

2.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述檢布機還包括：

第二驅動結構，與所述吸塵結構連接，用于驅動所述吸塵結構在所述機臺上方沿與所述待檢布平行的方向移動。

3.如權利要求2所述的檢布機，其特征在于，所述第二驅動結構還用于驅動所述吸塵結構在所述機臺上方沿與所述待檢布垂直的方向移動。

4.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述檢布機還包括：

第三驅動結構，與所述檢測結構連接，用于驅動所述檢測結構在所述機臺上方沿與所述待檢布平行的方向移動。

5.如權利要求4所述的檢布機，其特征在于，所述第三驅動結構還用于驅動所述檢測結構在所述機臺上方沿與所述待檢布垂直的方向移動。

6.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述檢布機還包括：

鋪設于所述機臺上的滑軌；

升降架，相對于所述機臺垂直設置，且所述升降架與所述滑軌配合連接；

支撐架，固定設置于所述升降架上，其中所述吸塵結構、所述檢測結構和所述剪刀結構均設置于所述支撐架上。

7.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述檢布機還包括：用于將待檢布固定于所述機臺上的固定結構。

8.如權利要求7所述的檢布機，其特征在于，所述固定結構包括真空吸附單元，設置于機臺用于放置待檢布的表面。

9.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述檢測結構包括：

圖像掃描單元，用于獲得待檢布的掃描圖片；

圖像分析單元，用于對所述圖像掃描單元所獲得的掃描圖片進行圖像分析，確定第二異物的定位坐標。

10.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述檢布機還包括：

傳送結構，與所述機臺連接，用于將待檢布傳送至所述機臺上。

11.如權利要求1所述的檢布機，其特征在于，所述第一驅動結構還用于：驅動所述剪刀結構定位于機臺上方預定高度位置處，并沿預定高度位置進行平移，在平移過程中執行剪切動作，剪除待檢布中高于預定高度的布毛。

12.一種采用權利要求1所述檢布機的檢布方法，其特征在于，所述檢布方法包括：

利用所述吸塵結構通過吸附方式清除待檢布中的第一異物；

利用所述檢測結構檢測待檢布中的第二異物的位置；

根據所述檢測結構的檢測結果，驅動所述剪刀結構移動至所述檢測結構所檢測定位的第二異物的位置處，通過剪切方式清除待檢布中的第二異物；其中所述第一異物和所述第二異物分別為棉籽或碎毛，所述第二異物的質量大于所述第一異物的質量。

13.如權利要求12所述的檢布方法，其特征在于，在通過剪切方式清除待檢布中的第二異物的步驟之后，所述檢布方法還包括：

再次利用所述吸塵結構通過吸附方式清除剪切第二異物時產生的第三異物。

14.如權利要求12所述的檢布方法，其特征在于，在利用所述吸塵結構通過吸附方式清除待檢布中的第一異物的步驟中，使所述吸塵結構在所述機臺上方沿與所述待檢布平行的方向移動，對整個待檢布進行吸附掃描；

以及在利用所述檢測結構檢測待檢布中的第二異物的位置時，使所述檢測結構在所述機臺上方沿與所述待檢布平行的方向移動，對整個待檢布進行檢測掃描。

15.如權利要求12所述的檢布方法，其特征在于，在通過剪切方式清除待檢布中的第二異物的步驟之后，所述檢布方法還包括：

驅動所述剪刀結構定位于機臺上方預定高度位置處，并沿預定高度位置進行平移，在平移過程中執行剪切動作，剪除待檢布中高于預定高度的布毛。