[發明專利]光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置

有效

• 申請號: 201510001727.6
• 申請日: 2015-01-04
• 公開（公告）號: CN104550334A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 岳薛
• 申請（專利權）人: 蘇州市新鴻基精密部品有限公司
• 主分類號: B21D3/00
• 分類號: B21D3/00
• 代理公司: 江蘇圣典律師事務所 32237
• 代理人: 王玉國

1.光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于：包括底座、立板、一套內漲力校驗芯軸結構和兩套外收縮校驗調整結構，所述立板豎立固定于底座上，立板上開有一安裝孔和兩導向孔，所述內漲力校驗芯軸結構包含內漲力芯軸和可調錐度螺絲，內漲力芯軸的一端置于立板的安裝孔中，另一端是具有漲力切口的圓筒，可調錐度螺絲沿軸向穿過圓筒旋入內漲力芯軸的內螺紋孔中，所述外收縮校驗調整結構包含活動塑料隔套和微調螺母，立板的每一導向孔中套裝一活動塑料隔套，與導向孔相對位置的立板上沿徑向設有螺紋孔，微調螺母旋入螺紋孔中與活動塑料隔套的外緣面相抵接。

2.根據權利要求1所述的光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于：所述內漲力芯軸的一端與立板的安裝孔為間隙配合，與安裝孔相對位置的立板上沿徑向設有螺釘孔，緊固螺釘旋入螺釘孔中與內漲力芯軸的外緣面相抵接。

3.根據權利要求1所述的光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于：所述活動塑料隔套中配合一可旋動的塑圈。

4.根據權利要求1所述的光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其特征在于：所述兩導向孔的孔徑不同，相對應地，配裝不同直徑的活動塑料隔套。