[發明專利]光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置

有效

• 申請號: 201510001727.6
• 申請日: 2015-01-04
• 公開（公告）號: CN104550334A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 岳薛
• 申請（專利權）人: 蘇州市新鴻基精密部品有限公司
• 主分類號: B21D3/00
• 分類號: B21D3/00
• 代理公司: 江蘇圣典律師事務所 32237
• 代理人: 王玉國

技術領域

本發明涉及一種光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置。

背景技術

目前，光學薄壁零件加工完成后會發現圓度、圓柱度變形而達不到圖紙要求，也無法進行有效校驗修復，只能進行報廢處理。浪費了很多的財力和物力，嚴重制約生產進度順利進行。

發明內容

本發明的目的是克服現有技術存在的不足，提供一種光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置。

本發明的目的通過以下技術方案來實現：

光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，特點是：包括底座、立板、一套內漲力校驗芯軸結構和兩套外收縮校驗調整結構，所述立板豎立固定于底座上，立板上開有一安裝孔和兩導向孔，所述內漲力校驗芯軸結構包含內漲力芯軸和可調錐度螺絲，內漲力芯軸的一端置于立板的安裝孔中，另一端是具有漲力切口的圓筒，可調錐度螺絲沿軸向穿過圓筒旋入內漲力芯軸的內螺紋孔中，所述外收縮校驗調整結構包含活動塑料隔套和微調螺母，立板的每一導向孔中套裝一活動塑料隔套，與導向孔相對位置的立板上沿徑向設有螺紋孔，微調螺母旋入螺紋孔中與活動塑料隔套的外緣面相抵接。

進一步地，上述的光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其中，所述內漲力芯軸的一端與立板的安裝孔為間隙配合，與安裝孔相對位置的立板上沿徑向設有螺釘孔，緊固螺釘旋入螺釘孔中與內漲力芯軸的外緣面相抵接。

更進一步地，上述的光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其中，所述活動塑料隔套中配合一可旋動的塑圈。

再進一步地，上述的光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，其中，所述兩導向孔的孔徑不同，相對應地，配裝不同直徑的活動塑料隔套。

本發明技術方案突出的實質性特點和顯著的進步主要體現在：

設置一套內漲力校驗芯軸結構和兩套外收縮校驗調整結構，通過校驗夾具可對光學薄壁長軸套產品的圓度/圓柱度/內外部尺寸進行手動微調矯正修復，可根據不同位置不同調整尺寸的需要選擇不同的調整模塊，對不良品進行有效校驗修復，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求，有效地降低廢品率，節約了生產成本，校驗手法簡單，可實際操作性強。堪稱是具有新穎性、創造性、實用性的好技術，是一實用的新設計。

附圖說明

下面結合附圖對本發明技術方案作進一步說明：

圖1：本發明的結構示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，光學薄壁長軸套跳動、圓度及尺寸的校驗裝置，包括底座1、立板2、一套內漲力校驗芯軸結構和兩套外收縮校驗調整結構，立板2豎立固定于底座1上，立板2上開有一安裝孔和兩導向孔，內漲力校驗芯軸結構包含內漲力芯軸8和可調錐度螺絲9，內漲力芯軸8的一端置于立板3的安裝孔中，為間隙配合，與安裝孔相對位置的立板上沿徑向設有螺釘孔，緊固螺釘7旋入螺釘孔中與內漲力芯軸的外緣面相抵接，內漲力芯軸8的另一端是具有漲力切口的圓筒10，可調錐度螺絲9沿軸向穿過圓筒旋入內漲力芯軸的內螺紋孔中。

每一外收縮校驗調整結構均包含活動塑料隔套和微調螺母，立板2上兩導向孔的孔徑不同，左側大導向孔中套裝大活動塑料隔套3，與大導向孔相對位置的立板上沿徑向設有螺紋孔，大微調螺母4旋入螺紋孔中與大活動塑料隔套3的外緣面相抵接，左側小導向孔中套裝小活動塑料隔套6，與小導向孔相對位置的立板上沿徑向設有螺紋孔，小微調螺母5旋入螺紋孔中與小活動塑料隔套6的外緣面相抵接；大活動塑料隔套3和小活動塑料隔套6中均配合一可旋動的塑圈。

在底座上設置三種校驗模塊，分別是一套內漲力校驗芯軸結構和兩套外收縮校驗調整結構，通過校驗夾具可以對產品(光學薄壁長軸套)的圓度/圓柱度/內外部尺寸進行手動微調矯正，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求。結構簡潔，可實際操作性強。

內漲力校驗芯軸結構：檢測產品發現產品內徑尺寸或圓度局部偏小。內漲力芯軸8固定在立板2上通過緊固螺釘7鎖緊，檢測產品發現產品內徑尺寸或圓度局部偏小時，可以將產品內孔放入內漲力芯軸8，通過內漲力芯軸8尾端的可調錐度螺絲9向內旋入調整，可調錐度螺絲9在向內旋合時將具有漲力切口的圓筒10向外漲開從而使產品內徑向外漲開，達到要求。漲力的大小可根據產品需要調整的尺寸進行決定。