[發明專利]成像探測器自我診斷電路

有效

• 申請號: 201480066171.2
• 申請日: 2014-11-21
• 公開（公告）號: CN105793732B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: R·斯特德曼布克;G·福格特米爾
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01T1/164
• 分類號: G01T1/164;G01T1/20;G01T1/24
• 代理公司: 72002 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 李光穎;王英

一種成像系統的成像探測器模塊(112)包括至少一個探測器像素(114)和自我診斷電路(116)。所述自我診斷電路包括微處理器(202)和至少測量設備(210)。所述微處理器控制所述至少一個測量設備來測量所述至少一個探測器像素的至少一個參數，其中，所述至少一個參數的值指示所述成像系統的健康狀態。一種方法包括采用被嵌入成像探測器模塊中的自我診斷電路來測量所述成像探測器模塊的至少一個探測器像素的至少一個參數。所述至少一個參數的值指示所述成像探測器的健康狀態。所述方法還包括利用所述自我診斷電路基于測量出的至少一個參數來生成指示所述成像探測器模塊的健康狀態的信號。

技術領域

下文總體涉及一種成像探測器，更具體而言，涉及一種被嵌入成像探測器中的自我診斷電路，其監測并報告成像探測器的當前健康狀態，并結合在計算機斷層攝影(CT)中的具體應用而加以描述。然而，下文還能夠通過調整而適用于其他成像模態，例如數字X射線和/或其他成像模態。

背景技術

CT掃描器包括發射穿過檢查區域的輻射的x射線管。探測器陣列位于檢查區域與x射線管相對的一側。探測器陣列包括探測器模塊，并且每個探測器模塊包括探測器像素。每個探測器像素探測穿過檢查區域的輻射并生成指示所述輻射的信號。重建器處理所述信號并生成指示被掃描檢查區域的體積圖像數據。

探測器模塊的壽命取決于諸如輻射損傷、封裝穩定性等因素。這些因素中的一些表現出隨著時間的性能的穩定退化。例如，在輻射損傷的情況下，電荷捕獲能夠導致探測器模塊的偏置電路的工作點偏移超過預定義極限，這最終能夠產生故障或破壞的性能。這在CT中特別重要，因為邊緣探測器模塊比中心探測器模塊看到更多輻射。

探測器模塊周期性進行例行校準(例如，在第一流程之前那天的一開始，等等)，以補償可以導致圖像偽影的任何漂移。校準流程嘗試確保良好的圖像質量。可以使用基于軟件的校正來通過例如內插相鄰探測器像素的測量值并利用內插值替代針對有缺陷探測器像素的值，來校正一個或多個不能工作的或有缺陷的探測器像素。

令人遺憾的是，對于可以校正什么以及校正到什么程度有所限制。例如，輻射損傷可能導致噪聲，在一些流程中，噪聲可能不會限制圖像質量，但在易受噪聲影響的低劑量協議(例如，其中本底噪聲升高，等等)中可能變成問題。因此，存在用于監測探測器模塊的健康狀態的其他方法的未解決的需要。

發明內容

本文描述的各方面解決了上述問題和其他問題。

下文描述了一種方法，其中，探測器陣列的探測器模塊包括至少一個自我診斷電路。所述至少一個自我診斷電路監測具有已知正常工作值的預定一組參數。所述至少一個自我診斷電路基于所述監測來提供便于對維護進行排程的信息，例如，探測器修理、更換、校準、軟件校正等。提供的信息可以指示需要注意和/或估計何時將可能需要維護的當前問題。在一種情況下，這樣允許規劃維護并使正常運行時間最大化。

在一個方面中，一種成像系統的成像探測器模塊包括至少一個探測器像素和自我診斷電路。所述自我診斷電路包括微處理器和至少一個測量設備。所述微處理器控制所述至少測量設備來測量所述至少一個探測器像素的至少一個參數，其中，所述至少一個參數的值指示所述成像系統的健康狀態。

在另一方面中，一種方法包括采用被嵌入成像系統的成像探測器模塊中的自我診斷電路來測量所述成像探測器模塊的至少一個探測器像素的至少一個參數。所述至少一個參數的值指示所述成像探測器的健康狀態。所述方法還包括利用所述自我診斷電路基于測量出的至少一個參數來生成指示所述成像探測器模塊的健康狀態的信號。