[發明專利]成像探測器自我診斷電路

有效

• 申請號: 201480066171.2
• 申請日: 2014-11-21
• 公開（公告）號: CN105793732B
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: R·斯特德曼布克;G·福格特米爾
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01T1/164
• 分類號: G01T1/164;G01T1/20;G01T1/24
• 代理公司: 72002 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種計算機斷層攝影成像系統的計算機斷層攝影成像探測器模塊(112)，包括：

至少一個探測器像素(114)；以及

自我診斷電路(116)，其包括：

微處理器(202)；以及

至少一個測量設備(210)，

其中，所述微處理器被配置為控制所述至少一個測量設備來測量所述至少一個探測器像素的至少一個參數，其中，所述至少一個參數的值指示所述成像系統的健康狀態，

所述自我診斷電路還包括：

趨勢器(214)，其被配置為生成針對所述參數的趨勢，其中，所述趨勢指示針對所述至少一個參數隨時間的測量值；

邏輯電路(216)，其被配置為鑒于預定的標準(220)來分析所述趨勢并基于所述分析的結果來生成信號，

其中，所述至少一個測量設備包括暗電流傳感器，并且其中，所述至少一個參數是所述至少一個探測器像素的暗電流。

2.根據權利要求1所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，所述信號包括基于所述分析的結果針對至少所述成像探測器模塊的估計的維護日期。

3.根據權利要求2所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，針對所述成像探測器模塊的維護日程是基于所述信號而被創建的。

4.根據權利要求1所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，所述信號指示基于所述分析的結果的針對所述成像探測器模塊的維護的特定類型。

5.根據權利要求1所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，所述信號包括所述參數和所述標準。

6.根據權利要求1所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，所述自我診斷電路還包括：

寄存器(302)；并且

其中，所述邏輯電路(216)被配置為將測量出的至少一個參數與預定標準進行比較，并基于所述比較的結果來設置所述寄存器中的位元。

7.根據權利要求6所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，所述邏輯電路被配置為響應于所述測量出的至少一個參數滿足所述預定標準而將所述位元設置為多個可能值中的第一值。

8.根據權利要求1到7中的任一項所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，還包括：

日程存儲器(204)，其被配置為存儲診斷日程(206)，其中，所述微處理器被配置為基于所述診斷日程來控制所述至少一個測量設備以測量所述至少一個參數。

9.根據權利要求8所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，所述至少一個測量設備包括至少兩個測量設備，每個測量設備被配置為測量不同的參數，其中，所述診斷日程包括針對所述至少兩個測量設備中的每個的不同自我診斷日程。

10.根據權利要求1到7中的任一項所述的計算機斷層攝影成像探測器模塊，其中，所述至少一個測量設備包括一個或多個傳感器，所述一個或多個傳感器被配置為感測以下中的一個或多個：探測器偏置電流、探測器暗電流、探測器增益、探測器噪聲、探測器靈敏度、探測器均質性、探測器串擾或探測器溫度。

11.一種計算機斷層攝影成像探測器診斷方法，包括：

采用被嵌入在計算機斷層攝影成像系統的計算機斷層攝影成像探測器模塊中的自我診斷電路來測量所述成像探測器模塊的至少一個探測器像素的至少一個參數，

其中，所述至少一個參數的值指示所述成像探測器的健康狀態；并且

利用所述自我診斷電路基于測量出的至少一個參數來生成指示所述計算機斷層攝影成像探測器模塊的健康狀態的信號，

生成針對所述至少一個參數的趨勢，其中，所述趨勢指示針對所述至少一個參數隨時間的測量值；

將所述趨勢與預定標準進行比較；并且

基于所述比較的結果和預定規則來預測針對所述計算機斷層攝影成像探測器模塊的下一次維護日期，

其中，至少一個測量設備包括暗電流傳感器，并且其中，所述至少一個參數是所述至少一個探測器像素的暗電流。