[發明專利]用于光學相干斷層掃描的光學探頭及制作光學探頭的方法

在審

• 申請號: 201480062935.0
• 申請日: 2014-10-24
• 公開（公告）號: CN105744896A
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 村島清孝;平野充遙
• 申請（專利權）人: 住友電氣工業株式會社
• 主分類號: A61B10/00
• 分類號: A61B10/00;A61B1/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;何勝勇

技術領域

本發明涉及一種用于光學相干斷層掃描的光學探頭及制作光學探頭的方法。

背景技術

在FITEL(registeredtrademark)FusionSplicers&ToolsCatalog(FITEL(注冊商標)熔接機&工具目錄),FurukawaElectric,Volume4,September2010(非專利文獻1)中描述了用于光纖的熔接機。通過將光纖的端部彼此對接且將這些端部熱熔接在一起來使兩根光纖彼此連接。在MichaelA.Choma,SensitivityadvantageofsweptsourceandFourierdomainopticalcoherencetomography(掃頻光源和傅立葉域光學相干斷層掃描的靈敏度優點),Opt.Express11,2183-2189(2003)(非專利文獻2)中描述了光學相干斷層掃描(OCT)的靈敏度。

發明內容

技術問題

本發明的目的在于提供一種用于光學相干斷層掃描的光學探頭及制作光學探頭的方法，該光學探頭可以減少光纖與透鏡光纖之間的邊界部分處產生的反射光。

解決技術問題的方案

為了實現該目的，本發明提供了一種用于光學相干斷層掃描的光學探頭，該光學探頭包括：光纖，其傳輸照射光和反射散射光；以及透鏡光纖，其與光纖的一端熔接在一起，透鏡光纖在準直照射光的同時朝向待測量對象發射照射光，并將來自待測量對象的反射散射光收集且引導至光纖的一端。用于調節折射率的材料被添加至透鏡光纖，并且材料在光纖的包括一端的端部中擴散。

在根據本發明的用于光學相干斷層掃描的光學探頭中，在光纖的一端與透鏡光纖之間的邊界部分處被反射的光在光纖的另一端測得的強度相對于光纖的一端與空氣接觸時的菲涅耳反射強度而言可以小于-60dB/nm，可以為-70dB/nm以下或可以為-80dB/nm以下。在根據本發明的用于光學相干斷層掃描的光學探頭中，隨著距透鏡光纖的距離減小，光纖的芯部區域的折射率可以逐漸地變為更接近透鏡光纖的折射率。

根據本發明的另一個方面，提供了一種制作用于光學相干斷層掃描的光學探頭的方法，該方法包括將光纖的一端和透鏡光纖熔接在一起并且通過利用熔接時所產生的熱量來使包含在透鏡光纖中的材料擴散到光纖的端部中的步驟。在該步驟中，在光纖的另一端處測量在光纖的一端與透鏡光纖之間的邊界部分處被反射的光的強度的同時，將光纖的一端和透鏡光纖熔接在一起。

本發明的有益效果

利用根據本發明的用于光學相干斷層掃描的光學探頭及制作光學探頭的方法，可以減少光纖與透鏡光纖之間的邊界部分處產生的反射光。

附圖說明

圖1是包括根據本發明實施例的用于OCT的光學探頭的OCT系統的概念圖。

圖2是根據本發明實施例的用于OCT的光學探頭的概念圖。

圖3示出了表示光纖和透鏡光纖的折射率分布的典型實例的曲線圖。

圖4中的(a)是示出了光纖的端部與透鏡光纖之間的邊界部分附近的結構的概念圖。圖4中的(b)是表示光纖的端部和透鏡光纖的沿著光軸的折射率分布的曲線圖。

圖5是表示光纖與透鏡光纖之間的邊界部分處的反射光強度的曲線圖。

圖6是表示光纖與透鏡光纖之間的邊界部分處的反射光強度的曲線圖。

圖7是表示光纖與透鏡光纖之間的邊界部分處的反射光強度的曲線圖。

圖8是表示在光纖與透鏡光纖未熔接在一起時來自光纖端面的反射光的強度的曲線圖。

圖9示出了OCT測量圖像。

圖10示出了OCT測量圖像。

圖11示出了OCT測量圖像。

圖12示出了表示進行折射率差減小處理時的信號光強度的曲線圖。

圖13示出了表示沒有進行折射率差減小處理時的信號光強度的曲線圖。

圖14中的(a)至圖14中的(c)示出了分別與圖12的曲線G11至G13對應的OCT測量圖像。

圖15中的(a)至圖15中的(c)示出了分別與圖13的曲線G21至G23對應的OCT測量圖像。

圖16是示出了在制作光學探頭的過程中將光纖和透鏡光纖熔接在一起的步驟的概念圖。

具體實施方式