[發明專利]用于光學相干斷層掃描的光學探頭及制作光學探頭的方法

在審

• 申請號: 201480062935.0
• 申請日: 2014-10-24
• 公開（公告）號: CN105744896A
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 村島清孝;平野充遙
• 申請（專利權）人: 住友電氣工業株式會社
• 主分類號: A61B10/00
• 分類號: A61B10/00;A61B1/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;何勝勇

1.一種用于光學相干斷層掃描的光學探頭，包括：

光纖，其傳輸照射光和反射散射光；以及

透鏡光纖，其與所述光纖的一端熔接在一起，所述透鏡光纖在準直所述照射光的同時朝向待測量對象發射所述照射光，并將來自所述待測量對象的反射散射光收集且引導至所述光纖的所述一端，

其中，用于調節折射率的材料被添加至所述透鏡光纖，并且所述材料在所述光纖的包括所述一端的端部中擴散。

2.根據權利要求1所述的用于光學相干斷層掃描的光學探頭，

其中，在所述光纖的所述一端與所述透鏡光纖之間的邊界部分處被反射的光在所述光纖的另一端測得的強度相對于所述光纖的所述一端與空氣接觸時的菲涅耳反射強度而言小于-60dB/nm。

3.根據權利要求2所述的用于光學相干斷層掃描的光學探頭，

其中，在所述邊界部分處被反射的光的強度相對于所述菲涅耳反射強度而言為-80dB/nm以下。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的用于光學相干斷層掃描的光學探頭，

其中，隨著距所述透鏡光纖的距離減小，所述光纖的芯部區域的折射率逐漸地變為更接近所述透鏡光纖的折射率。

5.一種制作根據權利要求1所述的用于光學相干斷層掃描的光學探頭的方法，所述方法包括：

將所述光纖的所述一端和所述透鏡光纖熔接在一起并且通過利用熔接時所產生的熱量來使包含在所述透鏡光纖中的所述材料擴散到所述光纖的所述端部中的步驟，

其中，在所述步驟中，在所述光纖的所述另一端處測量在所述光纖的所述一端與所述透鏡光纖之間的邊界部分處被反射的光的強度的同時，將所述光纖的所述一端和所述透鏡光纖熔接在一起。