[發(fā)明專利]用于發(fā)光二極管結構中的內部量子效率的非接觸測量的方法及設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480057422.0 | 申請日： | 2014-09-13 |
| 公開（公告）號： | CN105829902B | 公開（公告）日： | 2019-08-06 |
| 發(fā)明（設計）人： | V·N·法伊費爾 | 申請（專利權）人： | 科磊股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287 | 代理人： | 張世俊 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 發(fā)光二極管 結構 中的 內部 量子 效率 接觸 測量 方法 設備 | ||
【說明書】：
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