[發(fā)明專利]測量同位素比的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201480056911.4 | 申請日: | 2014-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN105659354B | 公開(公告)日: | 2017-10-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | H-J·舒呂特;O·克拉克;J·拉德克;B·斯特拉瑟;J·施韋特斯;E·瓦佩爾郝斯特 | 申請(專利權(quán))人: | 塞莫費雪科學(不來梅)有限公司 |
| 主分類號: | H01J49/00 | 分類號: | H01J49/00;G01N21/31 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務(wù)所有限公司31100 | 代理人: | 樂洪詠,郭輝 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測量 同位素 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于在同位素比分析儀中測量同位素比的方法。
背景技術(shù)
同位素比分析用于測量在樣品中同位素的相對豐度(同位素比),該樣品可為固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)的并且用于多種元素。舉例來說,其用于如從空氣中CO2確定同位素比13C/12C和/或18O/16O。同位素比分析最常通過質(zhì)譜法(MS)進行但還可通過光學光譜法進行。
對于光學光譜法,通常在光譜儀測量單元中通過測量通常在紅外區(qū)中的兩條分開的光譜吸收線來確定同位素比,一條線用于各自不同同位素物質(zhì)(同位素物),例如一條吸收線用于12C16O2并且另一條線用于13C16O2。對于CO2合宜的吸收線為在4.3218μm處或4.3218μm左右的線。如果每種同位素(例如雙重態(tài)或三重態(tài))可用多條線,則可能測量并且使用來自超過一條線的信息,例如對于不是CO2的其它氣體或在可能令人感興趣的的其它光譜范圍中。光譜吸收線強度的比為同位素物質(zhì)中的每一種的豐度的比(并且因此為同位素比,例如13C/12C)的量度。光譜儀的輸出因此為不同同位素線的比(例如R13C=c13c/c12c)。根據(jù)國際標準使用建立的用于同位素比記錄的△記法(例如δ13C[‰])引用結(jié)果。
同位素比質(zhì)譜和進氣口系統(tǒng)的一般綜述可發(fā)現(xiàn)于Brenna等人,質(zhì)譜綜述,1997年,16期,第227-258頁。
在同位素比光譜分析中,樣品應(yīng)根據(jù)工作標準即已知同位素比的一種或多種參考氣體來測量。通常樣品和工作標準的濃度相差在環(huán)境測量中每分鐘10百萬分之一(ppm)和對于工廠室實驗最多40pp/min之間。
可以觀察到,測量的同位素比取決于分析物的濃度。因此取決于例如CO2濃度的校準系數(shù)(也被稱為線性校準或濃度相關(guān)性)用于每個同位素比。已知采用各自在恒定(已知)濃度下的一種或多種參考氣體(即,一種參考氣體或多種參考氣體)。每種參考氣體的濃度是基于樣品的已知濃度范圍選擇的,并且通常以在氣體貯槽中參考氣體混合物的形成提供。為計算線性校準系數(shù),光譜儀測量在不同濃度下的具有相同同位素比的氣體(例如CO2),或提供具有已知同位素比和濃度的至少大量的參考氣體。
為在氣體同位素質(zhì)譜中提供在相同強度(濃度)下的樣品和參考物,經(jīng)典的解決方案為使用可調(diào)節(jié)波紋管和轉(zhuǎn)換閥。(例如參見:Halsted R.E.和Nier A.O.,1950年,氣體流動通過質(zhì)譜儀粘性滲漏(Gas flow through the mass spectrometer viscous leak),科學儀器綜述(Rev.Sci.Instrum),21期:1019-1021;或Habfast K.(1997)高級同位素比質(zhì)譜I:磁性同位素比質(zhì)譜儀;以及在:現(xiàn)代同位素比質(zhì)譜(Modern isotope ratio mass spectrometry),I.T.Platzner(編輯),英國齊切斯(Chichester,UK)特約翰·威利父子公司:11-82中)。以這種方式,在將離散樣品填充到儲槽中之后,測量離散樣品。在測量的開始,通過改變一個或這兩個可調(diào)節(jié)儲槽的體積(并且因此改變其內(nèi)的壓力)來匹配來自兩個的儲槽的強度。
用于校準同位素比測量以對濃度相關(guān)性和△比例收縮做出解釋的另一種系統(tǒng)描述于B.Tuzson等人,“在具有無致冷劑QCLAS的二氧化碳中δ13C和δ18O的高精度且連續(xù)的場測量”(High precision and continuous field measurements ofδ13C andδ18O in carbon dioxide with a cryogen-free QCLAS),應(yīng)用物理B(Appl.Phys.B)(2008年),92期,第451頁至458頁。然而,描述于Tuzson等人的系統(tǒng)的缺點為其利用已知同位素比參考氣體的大量的單獨稀釋的供應(yīng)。例如當實地工作時,此類參考氣體/空氣混合物通常不可用。此外,Tuzson等人描述的系統(tǒng)不采用樣品稀釋。
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