[發明專利]顆粒分取設備、顆粒分取方法與程序有效
| 申請號: | 201480055423.1 | 申請日: | 2014-09-10 |
| 公開(公告)號: | CN105659069B | 公開(公告)日: | 2019-11-26 |
| 發明(設計)人: | 村木洋介;大塚史高;加藤泰信 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G01N15/14 | 分類號: | G01N15/14 |
| 代理公司: | 11240 北京康信知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 田喜慶;吳孟秋<國際申請>=PCT/JP |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顆粒 設備 方法 程序 | ||
1.一種顆粒分取設備,包括:
電荷部,將電荷授予從產生流體流的孔口排出的至少一部分液滴;
電荷控制部,根據所述液滴中包含的顆粒的大小來調整由所述電荷部授予的電荷量,
圖像拾取器件,拾取所述液滴的狀態的圖像;以及
液滴判斷部,從由所述圖像拾取器件拾取的所述圖像中判斷所述液滴的狀態,
其中,所述電荷控制部在所述液滴判斷部判斷出需要進行調整的情況下調整所述電荷量,并且
其中,當不包含所述顆粒的小液滴存在于包含所述顆粒的所述液滴的周圍時,所述液滴判斷部判斷出需要進行所述調整。
2.根據權利要求1所述的顆粒分取設備,進一步包括:
前向散射光檢測部,將光照射到流經流道的顆粒上并且檢測通過所述光的照射從所述顆粒發射的前向散射光,
其中,所述電荷控制部基于所述前向散射光檢測部的檢測結果,確定將要授予包含所述顆粒的所述液滴的電荷量。
3.根據權利要求2所述的顆粒分取設備,
其中,所述電荷控制部控制所述電荷部為:
當由所述前向散射光檢測部檢測的前向散射光的強度小于預設閾值時,將第一電荷量授予包含所述顆粒的所述液滴;并且
當由所述前向散射光檢測部檢測的所述前向散射光的強度等于或大于所述預設閾值時,將與所述第一電荷量不同的第二電荷量授予包含所述顆粒的所述液滴。
4.根據權利要求3所述的顆粒分取設備,
其中,所述第二電荷量大于所述第一電荷量。
5.根據權利要求2所述的顆粒分取設備,
其中,所述電荷控制部與由所述前向散射光檢測部檢測的前向散射光的強度成比例地來改變將要授予包含所述顆粒的所述液滴的電荷量。
6.根據權利要求1所述的顆粒分取設備,其中,
所述電荷部包括與流經流道的鞘液和/或樣品液接觸設置的電荷電極;并且
所述電荷控制部改變被施加至所述電荷電極的電壓來調整將要授予所述液滴的電荷量。
7.根據權利要求6所述的顆粒分取設備,
其中,所述孔口形成在可更換的微芯片中,并且所述電荷電極設置在被設置于所述微芯片中的鞘液流道中。
8.一種顆粒分取方法,其中,所述顆粒分取方法包括以下步驟:
將電荷授予從產生流體流的孔口排出的至少一部分液滴;
根據所述液滴中包含的顆粒的大小來調整將要授予所述液滴的電荷量;
拾取所述液滴的狀態的圖像;
從所述圖像中判斷所述液滴的狀態;
在判斷出需要進行調整的情況下調整所述電荷量;并且
當不包含所述顆粒的小液滴存在于包含所述顆粒的所述液滴的周圍時,判斷出需要進行所述調整。
9.一種計算機存儲介質,所述計算機存儲介質中存儲有用于在計算機上運行以使得顆粒分取設備的各部件執行以下功能的計算機程序:
電荷部將電荷授予從產生流體流的孔口排出的至少一部分液滴;
電荷控制部根據所述液滴中包含的顆粒的大小來調整由所述電荷部授予所述液滴的電荷量;
圖像拾取器件拾取所述液滴的狀態的圖像;以及
液滴判斷部從由所述圖像拾取器件拾取的所述圖像中判斷所述液滴的狀態,
其中,所述電荷控制部在所述液滴判斷部判斷出需要進行調整的情況下調整所述電荷量,并且
其中,當不包含所述顆粒的小液滴存在于包含所述顆粒的所述液滴的周圍時,所述液滴判斷部判斷出需要進行所述調整。
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