[發明專利]尺寸測量裝置、尺寸測量方法、尺寸測量系統和程序有效
| 申請號: | 201480054427.8 | 申請日: | 2014-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN105593637B | 公開(公告)日: | 2018-06-12 |
| 發明(設計)人: | 山本治美;直原肇 | 申請(專利權)人: | 松下知識產權經營株式會社 |
| 主分類號: | G01B11/03 | 分類號: | G01B11/03;G06T1/00 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 對象物 尺寸測量裝置 配置 邊界線 尺寸測量系統 區域提取部 測量裝置 尺寸測量 尺寸數據 候選區域 三維測量 生成對象 獲得部 面提取 附設 三維 包圍 創建 | ||
本發明要解決使得能夠生成對象物的精確的尺寸圖的問題。根據本發明的尺寸測量裝置(10)包括:獲得部(11),其被配置為從用于進行對象物(20)的三維測量的測量裝置(30)獲得所述對象物(20)的三維的坐標值;面提取部(12),其被配置為基于所述坐標值來確定所述對象物(20)包括的關注面(21),并且提取所述關注面(21)的邊界線的位置;區域提取部(13),其被配置為提取包圍與附設至所述關注面(21)的特定物體(22)相對應的候選區域(23)的邊緣的位置;以及尺寸生成部(14),其被配置為根據所述邊界線的位置和所述邊緣的位置來生成創建所述對象物(20)的尺寸圖所需的尺寸數據。
技術領域
本發明涉及一種尺寸測量裝置、尺寸測量方法、尺寸測量系統和程序。特別地,本發明涉及用于基于通過三維測量所獲得的坐標值來測量對象物的尺寸的尺寸測量裝置、該尺寸測量裝置所使用的尺寸測量方法、包括該尺寸測量裝置的尺寸測量系統和用于實現該尺寸測量裝置的程序。
背景技術
提出了進行對象物的三維測量并且根據測量得到的數據來創建三維模型的技術(例如,參考文獻1[日本公開特許公報第2012-230594號])。文獻1公開了以下內容:為了創建對象物的三維模型,根據通過利用激光掃描器進行測量所獲得的三維點群的位置數據來獲得構成對象物的面,并且計算出這些面的相交線作為輪廓線。在獲得構成對象物的面的處理中,排除與平面或曲面不對應的非面區域,之后向面附加標記,然后基于所附加的標記來整合這些面中的連續面。此外,為了創建三維模型,文獻1所公開的技術根據不包括非面區域的點的三維點群的位置數據來獲得面,并且進一步獲得所獲得的這些面的邊界線。
在一些情況下,為了對現有建筑物進行維護和維修等,需要估計材料(例如,內飾用布)的所需量。在該估計時,需要針對各部分判斷是否需要材料,并且需要針對各部分確定材料量。然而,文獻1所公開的技術僅基于面的邊界線來劃分面。因此,該技術所創建的三維模型無法用于材料的所需量的精確估計。為了實現該目的,需要創建對象物的精確尺寸圖。
發明內容
本發明的目的是提供能夠創建對象物的更精確尺寸圖的尺寸測量裝置。本發明的可選目的是提供該尺寸測量裝置所使用的尺寸測量方法、包括該尺寸測量裝置的尺寸測量系統和用于實現該尺寸測量裝置的程序。
本發明的一個方面的一種尺寸測量裝置,包括:獲得部,其被配置為從用于進行對象物的三維測量的測量裝置獲得所述對象物的三維的坐標值;面提取部,其被配置為基于所述坐標值來確定所述對象物包括的關注面,以及提取所述關注面的邊界線的位置;區域提取部,其被配置為關于與作為附設至所述關注面的特定物體的物體相對應的候選區域來提取包圍所述候選區域的邊緣的位置;以及尺寸生成部,其被配置為根據所述邊界線的位置和所述邊緣的位置來生成創建所述對象物的尺寸圖所需的尺寸數據。
附圖說明
圖1是實施例1的尺寸測量裝置的框圖。
圖2是示出實施例1的尺寸測量裝置的操作示例的圖。
圖3是使用實施例1的尺寸測量裝置的空間的示例的立體圖。
圖4的A~D分別是示出實施例1的尺寸測量裝置的操作示例的圖。
圖5是示出實施例1的尺寸測量裝置中所使用的窗口的示例的圖。
圖6是示出實施例1的尺寸測量裝置所創建的尺寸圖的示例的圖。
圖7是實施例1的尺寸測量裝置的操作的流程圖。
圖8是實施例2的尺寸測量裝置的框圖。
圖9的A~C分別是示出實施例2的尺寸測量裝置的操作示例的圖。
圖10的A和B是使用實施例2的尺寸測量裝置的空間的示例的平面圖。
圖11是實施例2的尺寸測量裝置的操作的流程圖。
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