[發明專利]尺寸測量裝置、尺寸測量方法、尺寸測量系統和程序

有效

• 申請號: 201480054427.8
• 申請日: 2014-09-26
• 公開（公告）號: CN105593637B
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 山本治美;直原肇
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01B11/03
• 分類號: G01B11/03;G06T1/00
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種尺寸測量裝置，包括：

獲得部，其被配置為從用于進行對象物的三維測量的測量裝置獲得所述對象物的三維的坐標值；

面提取部，其被配置為基于所述坐標值來確定所述對象物包括的關注面，以及提取所述關注面的邊界線的位置；

區域提取部，其被配置為提取包圍候選區域的邊緣的位置，所述候選區域為與物體相對應的區域，其中所述物體為附設至所述關注面的特定物體；以及

尺寸生成部，其被配置為根據所述邊界線的位置和所述邊緣的位置來生成創建所述對象物的尺寸圖所需的尺寸數據。

2.根據權利要求1所述的尺寸測量裝置，其中，還包括輸入部，所述輸入部具有從輸入裝置接收指定所述物體的類型的輸入的功能，

其中，所述尺寸生成部被配置為通過使用與所述物體的類型有關的信息，來校正相對于所述邊緣的位置的所述物體的位置和一個以上尺寸。

3.根據權利要求2所述的尺寸測量裝置，其中，

所述輸入部具有接收用于指定所述候選區域存在的范圍的輸入的功能，以及

所述區域提取部被配置為從所述輸入部所指定的范圍中提取所述候選區域。

4.根據權利要求2所述的尺寸測量裝置，其中，還包括區塊提取部，所述區塊提取部被配置為提取一個以上區塊，所述區塊為具有與所述關注面的距離超過基準值的坐標值且附設至所述關注面的區域，

其中，所述輸入部具有接收通過交互處理來指定所述一個以上區塊中的與所述物體相對應的區塊所獲得的輸入的功能，以及

所述區域提取部被配置為選擇所述輸入部所指定的區塊作為所述候選區域。

5.根據權利要求1或2所述的尺寸測量裝置，其中，還包括區塊提取部，所述區塊提取部被配置為提取一個以上區塊，所述區塊為具有與所述關注面的距離超過基準值的坐標值且附設至所述關注面的區域，

其中，所述區塊提取部被配置為評價所述一個以上區塊與預先確定的多個類型的基準形狀之間的相似度，以及

所述區域提取部被配置為選擇所述一個以上區塊中的與所述基準形狀中的任意基準形狀匹配的區塊作為所述候選區域，并且被配置為選擇所述基準形狀中的與所選擇的區塊匹配的基準形狀的輪廓線作為所述邊緣。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的尺寸測量裝置，其中，

所述獲得部具有從所述測量裝置獲得相互關聯的坐標值以及顏色信息的功能，其中所述測量裝置具有針對所述坐標值各自輸出所述顏色信息的功能，以及

所述區域提取部具有將附帶有如下顏色信息的坐標值視為所述候選區域的坐標值的功能，其中該顏色信息表示預先確定的顏色范圍中所包括的顏色。

7.一種尺寸測量方法，包括以下步驟：

利用計算機，從進行對象物的三維測量的測量裝置獲得所述對象物的三維的坐標值；

利用所述計算機，基于所述坐標值來確定所述對象物包括的關注面以及提取所述關注面的邊界線的位置；

利用所述計算機，提取包圍候選區域的邊緣的位置，所述候選區域為與物體相對應的區域，其中所述物體為附設至所述關注面的特定物體；以及

利用所述計算機，根據所述邊界線的位置和所述邊緣的位置來生成創建所述對象物的尺寸圖所需的尺寸數據。

8.根據權利要求7所述的尺寸測量方法，其中，還包括以下步驟：

利用所述計算機，接收指定所述物體的類型的輸入；以及

利用所述計算機，通過使用與所指定的所述物體的類型有關的信息來校正相對于所述邊緣的位置的所述物體的位置和一個以上尺寸。

9.根據權利要求8所述的尺寸測量方法，其中，還包括以下步驟：

利用所述計算機，接收指定所述候選區域存在的范圍的輸入；以及

利用所述計算機，從所指定的范圍中提取所述候選區域。