[發(fā)明專(zhuān)利]用于對(duì)電測(cè)試件進(jìn)行電測(cè)試的測(cè)試設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201480037327.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-04-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105393124A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | U·高斯;J·諾伊鮑爾;斯蒂芬·特羅茨;J·哈普 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 精煉金屬股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R1/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 黃艷 |
| 地址: | 德國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 測(cè)試 進(jìn)行 設(shè)備 | ||
1.一種用于對(duì)電測(cè)試件(2)、特別是晶片進(jìn)行電測(cè)試的測(cè)試設(shè)備(1),具有測(cè)試頭(4),在所述測(cè)試頭中安裝有至少一個(gè)用于與所述測(cè)試件(2)進(jìn)行電物理接觸的測(cè)試觸點(diǎn)(5),其特征在于,在所述測(cè)試頭(4)的壁(15)中設(shè)置至少一個(gè)出口(13),用于將氣體、特別是保護(hù)氣體散布到接觸區(qū)域(14)中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試設(shè)備(1)包括具有連接接觸面(8)的接觸裝置(3),所述連接接觸面與所述測(cè)試觸點(diǎn)(5)的背向所述測(cè)試件(2)的一側(cè)(7)是能電連接的或被電連接。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述接觸裝置(3)和所述測(cè)試頭(4)是測(cè)試卡、特別是豎直測(cè)試卡的一部分。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述壁(15)是所述測(cè)試頭(4)的導(dǎo)引板(16)的一部分,在所述導(dǎo)引板中設(shè)置至少一個(gè)導(dǎo)向凹口(17),所述測(cè)試觸點(diǎn)(5)支承在所述導(dǎo)向凹口中。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,構(gòu)成所述出口(13)的出口通道(13′)貫穿所述導(dǎo)引板(16)。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,在所述測(cè)試頭(4)中設(shè)置與所述出口(13)流動(dòng)連接的腔室(20)。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述腔室(20)被至少一個(gè)測(cè)試觸點(diǎn)(5)貫穿。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述腔室(20)至少局部地通過(guò)所述導(dǎo)引板(16)限定。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述出口(13)通過(guò)所述腔室(20)與保護(hù)氣體供應(yīng)管道(21,22)流動(dòng)連接。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述連接接觸面(8)被配屬于所述接觸裝置(3)的觸點(diǎn)間隙變換器(10)。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述保護(hù)氣體供應(yīng)管道(21,22)延伸穿過(guò)所述接觸裝置(3),特別是延伸穿過(guò)所述觸點(diǎn)間隙變換器(10)。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述保護(hù)氣體供應(yīng)管道(21,22)穿過(guò)所述測(cè)試頭(4)的側(cè)壁(19)或穿過(guò)面向所述接觸裝置(3)的保持板(18)通入所述腔室(20)。
13.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述出口通道(13′)具有縱向中軸線(xiàn)(25),所述縱向中軸線(xiàn)垂直于所述導(dǎo)引板(16)或相對(duì)于所述導(dǎo)引板成角度。
14.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述出口通道(13′)沿其縱向中軸線(xiàn)(25)具有恒定的穿流橫截面。
15.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述出口通道(13′)沿其縱向中軸線(xiàn)(25)具有擴(kuò)大或縮小的穿流橫截面。
16.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述出口(13)和/或所述出口通道(13′)在橫截面中觀察是矩形、圓形或橢圓形的。
17.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述導(dǎo)向凹口(17)配屬于測(cè)試區(qū)域(27),在所述測(cè)試區(qū)域中,所述測(cè)試觸點(diǎn)(5)在所述測(cè)試頭(4)的面向所述測(cè)試件(2)的一側(cè)從所述導(dǎo)向凹口(17)突出。
18.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,為所述測(cè)試區(qū)域(27)配設(shè)多個(gè)導(dǎo)向凹口(17)。
19.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述多個(gè)導(dǎo)向凹口(17)沿著封閉的線(xiàn)設(shè)置。
20.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,在所述測(cè)試頭(4)上設(shè)有多個(gè)測(cè)試區(qū)域(27)。
21.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述測(cè)試區(qū)域至少部分地被所述出口(13)或被多個(gè)出口(13)圍住。
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G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類(lèi)儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類(lèi)儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線(xiàn)路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
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